网站地图 | Tags | 热门标准 | 最新标准 | 订阅

SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分:光电耦合器件

  • 名  称:SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分:光电耦合器件 - 下载地址2
  • 类  别:电子信息
  • 下载地址:[下载地址2]
  • 提 取 码
  • 浏览次数:3
下载帮助: 发表评论 加入收藏夹 错误报告目录
发表评论 共有条评论
用户名: 密码:
验证码: 匿名发表
新闻评论(共有 0 条评论)

资料介绍

本文件规定了用于光电耦合器件(以下简称器件)可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。
本文件适用于输出端为两端口的器件,包括光敏二极管输出型器件、光敏晶体管输出型器件、光敏达林顿管输出型器件、光电池输出型器件、光控晶闸管输出型器件。
1111115460111
下载排行 | 下载帮助 | 下载声明 | 信息反馈 | 网站地图  360book | 联系我们谢谢