您当前的位置：首页 > SJ/T 11845.3-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 > 下载地址2
SJ/T 11845.3-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管
- 名 称：SJ/T 11845.3-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 - 下载地址2
- 类 别：电子信息
- 下载地址：[下载地址2]
- 提 取 码：
- 浏览次数：3
发表评论 加入收藏夹 错误报告目录| 新闻评论（共有 0 条评论） |
资料介绍
本文件规定了用于稳压二极管(以下简称器件)可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。
本文件适用于用于稳压二极管（以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数评价方法及方法应用。
本文件适用于用于稳压二极管（以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数评价方法及方法应用。
