GB/T 35102-2017 信息技术 射频识别 800 900MHz空中接口符合性测试方法

　　ICS 35 . 220 . 0 1 L 64

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 35102—2017

　　信息技术 射频识别

　　800/900 MHz空中接口符合性测试方法

　　Informationtechnology—Radiofrequencyidentification— Conformancetestmethodsforairinterfaceat800/900 MHz

　　2017-1 1-01 发布 2018-05-01 实施

　　中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会

　　发

　　布

　　GB/T 35102—20 17

　　GB/T 35102—20 17

　　前 言

　　本标准按照 GB/T 1 . 1—2009 给出的规则起草。

　　请注意本文件的某些内容可能涉及专利。 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

　　本标准由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)提出并归口 。

　　本标准起草单位：中华人民共和国工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国人民解放军国防科学技术大学、北京中电华大电子设计有限责任公司、天津中兴智联科技有限公司、西安西电捷通无线网络通信股份有限公司、上海聚星仪器有限公司、北京同方微电子有限公司、中国物品编码中心。

　　本标准主要起草人：刘文莉、高林、王宏义、冯敬、耿力、沈红伟、刘晓平、杜志强、张国强、陈柯、郑黎明、孟庆云、鄢若韫、李卓凡。

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　　信息技术 射频识别

　　800/900 MHz空中接口符合性测试方法

　　1 范围

　　本标准依据 GB/T 29768—2013 规定了 840 MHz~845 MHz 和 920 MHz~925 MHz射频识别空

　　中接口的符合性测试方法。

　　本标准适用于 840 MHz~845 MHz 和 920 MHz~925 MHz射频识别设备(读写器和标签)的空中

　　接口符合性测试。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件对于本文件的应用是必不可少的。 凡是注 日期的引用文件，仅注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

　　GB/T 29261 . 3—2012 信息技术 自动识别和数据采集技术 词汇 第 3 部分：射频识别

　　GB/T 29768—2013 信息技术 射频识别 800/900 MHz空中接口协议

　　3 术语、定义、符号和缩略语

　　3 . 1 术语和定义

　　GB/T 29261 . 3—2012 界定的术语和定义适用于本文件。

　　3 . 2 符号

　　GB/T 29768—2013 界定的以及下列符号适用于本文件。

　　PW 脉冲宽度。

　　Target 盘点标志。

　　GI 天线增益。

　　Tc 前向链路基准时间。

　　Tpri 标签到读写器通信链路的基准时钟周期。

　　TRext 前导信号指示。

　　dS 读写器天线与测试天线之间的距离。

　　dTE 读写器天线与标签模拟器之间的距离。

　　λ 工作频率对应的波长。

　　3 . 3 缩略语

　　GB/T 29768—2013 界定的以及下列缩略语适用于本文件。

　　AM：幅度调制(amplitude modulation)

　　ASK：幅移键控(amplitude shift keying)

　　DSB-ASK：双边带幅移键控(double-sideband amplitude shift keying)

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　　DUT：被测设备(device under test)

　　ID：标识符 (identifier)

　　PSK：相移键控(phase shift keying)

　　RBW：分辨率带宽(resolution bandwidth)

　　SSB-ASK：单边带幅移键控(single-sideband amplitude shift keying)

　　VBW：视频带宽(video bandwidth)

　　VSWR：电压驻波比(voltage standing wave ratio)

　　4 基本要求

　　4 . 1 测试条件

　　4 . 1 . 1 测试环境

　　除另有规定外，测试应在 23 ℃ ±3 ℃ ,相对湿度为 40%~60%无凝结的环境下进行。

　　4 . 1 . 2 预处理

　　测试前应将 DUT在测试环境中放置 24 h。

　　4 . 1 . 3 默认允差

　　除另有规定外，测试设备特性和测试过程产生的量值允差为 ±5%。

　　4 . 1 . 4 测试场地

　　除另有规定外，测试应在电波暗室中进行。 当电波暗室限制了设备的移动和测试距离时，允许测试在开阔测试环境下进行。 测试场地参见附录 A。

　　4 . 1 . 5 测试位置的噪声电平

　　与测试 DUT相同条件下，使用频谱分析仪测量测试位置的噪声电平至少 1 min。

　　在 10 kHz 测 量 带 宽 下，噪 声 电 平 在 0 . 5 GHz~ 2 GHz 频 率 范 围 内 最 大 值 为 - 60 dBm;在800 MHz~960 MHz 的工作频率范围内，噪声电平的最大值为- 90 dBm。

　　应特别注意杂散辐射，如未充分屏蔽的计算机显示器。

　　4 . 1 . 6 扩展不确定度

　　测试方法规定的测试量的扩展不确定度应在测试报告中予以说明。

　　4 . 1 . 7 测试方法与基础标准要求的关系

　　本标准与 GB/T 29768—2013 要求的关系参见附录 B。

　　4 . 2 读写器测试装置

　　4 . 2 . 1 测试天线和定向耦合器

　　测试天线应带有阻抗为 50 Ω 的天线连接器。 在测试所采用的频率范围内，天线 VSWR 应不大于1 . 2 ∶ 1 。

　　定向耦合器应选用阻抗为 50 Ω 的三端 口器件。 在测试所采用的频 率 范 围 内 ，定 向 耦 合 器 端口 的 VSWR应不 大 于 1 . 2 ∶ 1 , 定 向 耦 合 器 的 耦 合 度 应 不 大 于 10 dB, 带 内 不 平 坦 度 应 不 大 于

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　　0 . 5 dB 。

　　4 . 2 . 2 读写器工作频率及调制测试装置

　　读写器工作频率及调制测试装置包括测试天线和频谱分析仪(见 4 . 4 . 1),如图 1 所示。 测试天线与被测读写器天线的距离(dS)设置为 3λ 或 10λ。

　　图 1 读写器工作频率及调制测试装置

　　4 . 2 . 3 读写器解调和链路时序测试装置

　　读写器解调和链路时序测试装置包括标签模拟器和数字示波器(见 4 . 4 . 2),如图 2 所示。

　　在读写器解调和链路时序测试时，附录 C 中规定的标签模拟器应在读写器天线主功率辐射法线方向上、以接收场强的最优朝向、距离读写器天线 dTE处放置，dTE设置为 3λ 或 10λ。

　　图 2 读写器解调和链路时序测试装置

　　4 . 2 . 4 带定向耦合器的读写器测试装置

　　带定向耦合器的读写器测试装置包括读写器天线、定向耦合器、频谱分析仪、数字示波器、标签模拟器，如图 3 所示。 带定向耦合器的读写器测试装置既可用于读写器的前向链路的测试，也可用于标签响应的链路时序测试。 测试天线与读写器天线的距离(dS)设置为 3λ 或 10λ。

　　图 3 带定向耦合器的读写器测试装置

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　　4 . 2 . 5 基准标签

　　基准标签应符合 GB/T 29768—2013,至少支持 GB/T 29768—2013 的必选命令。 基准标签的 T1 值的应在 GB/T 29768—2013 要求的范围内。

　　4 . 3 标签测试装置

　　4 . 3 . 1 读写器天线和定向耦合器

　　读写器天线应满足表 1 的规定。

　　表 1 用于标签测试的读写器天线要求

　　定向耦合器的要求见 4 . 2 . 1 。

　　4 . 3 . 2 标签解调和链路时序测试装置

　　标签解调和链路时序测试装置包括读写器天线、定向耦合器、频谱分析仪、数字示波器、矢量信号发生器，如图 4 所示。 在标签解调和链路时序测试时，被测标签应置于读写器天线主功率辐射法线方向上、以接收场强的最优朝向、距离读写器天线 dS 处放置，dS 设置为 3λ 或 10λ。

　　图 4 标签解调和链路时序测试装置

　　4 . 3 . 3 标签反向散射测试装置

　　标签反向散射测试装置包括读写器天线、定向耦合器、频谱分析仪、数字示波器、矢量信号发生器，如图 5 所示。 该装置中包含两个集成的天线，其中一个用作读写器天线，用于矢量信号发生器的信号发射，另一个用作测试天线连接到频谱分析仪或数字示波器，两个天线平行放置，应减少两个天线间的信号耦合。

　　标签反向散射测试装置用于测试标签的返回信号。 被测标签应置于读写器天线主功率辐射法线方向上、以最优接收场强的朝向、距离读写器天线 dS 处放置，dS 设置为 3λ 或 10λ。

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　　图 5 标签反向散射测试装置

　　4 . 3 . 4 测试用读写器

　　测试用读写器应实现 GB/T 29768—2013 规定的读写器的必选功能。 测试用读写器的 T2 、T3 和

　　T4 时 间 应 满 足 GB/T 29768—2013 中 的 要 求，工 作 频 率 在 840 MHz~ 845 MHz 和 920 MHz~

　　925 MHz,能够解调 FM0 基带编码、米勒基带编码以及副载波调制，且能够按照 GB/T 29768—2013 中6 . 1 要求提供防碰撞测试功能。

　　4 . 4 通用测试设备

　　4 . 4 . 1 频谱分析仪

　　频谱分析仪的 RBW 应为 30 kHz, VBW 应为 100 kHz,最小频宽应支持 8 倍数据速率。 测试时应使用最大峰值进行检波，应使用 1 kHz分辨率带宽测试高于频谱分析仪噪声电平 3 dB 的幅度信号或噪声;应能够以±2 dB准确度测试与当前信号 10 kHz 频率的偏差、比当前信号电平高 90 dB 的信号;频率标记读精确度应在子带隔离 ±2%范围内，应能够实现 ±1 dB 的相对幅度测试以及能够显示分辨频率偏差为 1 kHz 的两个信号。

　　当频谱分析仪不具备测试所需的矢量分析功能时，可采用采样后软件分析的方法。

　　4 . 4 . 2 数字示波器

　　采用数字示波器，应至少具有 100 M/ s 的采样率和 8 位的分辨率;否则，数字示波器应至少具有1 GHz 的带宽和 5 G/ s 的采样率。

　　4 . 4 . 3 矢量信号发生器

　　矢量信号发生器的电平分辨率至少为 0 . 1 dB, 寄生谐波小于- 30 dB, AM 深度支持 0%~100% ; AM分辨率至少为 0 . 1% , AM 畸变应小于 2% , AM 平坦度小于 0 . 3 dB, 频率准确度应达到 0 . 01 Hz, VSWR应小于 1.5 ∶ 1。

　　5 读写器符合性测试

　　5 . 1 读写器调制方式和工作频率

　　5 . 1 . 1 测试目的

　　验证读写器是否使用 DSB-ASK 或者 SSB-ASK 方式调制射频载波;验证读写器工作频率是否为

　　840 MHz~845 MHz 和 920 MHz~925 MHz,频带内共 40 个信道，信道中心频率计算见 GB/T 29768—

　　2013 中 5 . 2 . 2 。

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　　5 . 1 . 2 测试步骤

　　读写器调制方式和工作频率测试步骤如下：

　　a) 采用图 1 所示的测试装置进行测试;

　　b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下;

　　c) 按表 2 中定义的首个测试用例参数设置被测读写器工作频率和调制方式;

　　d) 设置频谱分析仪为功率-频率模式，并处于功率触发等待中;

　　e) 被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表 3 ;

　　f) 频谱分析仪被启动查询命令触发后，采集并保存发送信号曲线;

　　g) 根据采集到的功率-频率曲线验证被测读写器发送信号的调制方式和工作频率;

　　h) 按表 2 中定义的测试用例参数改变被测读写器工作频率和调制方式，重复步骤 d) ~g) ,直至所有 40 个信道的工作频率和调制方式都测试完毕。

　　注 ：当频谱分析仪不支持读写器的调试方式时，可采用采样后软件解调的方式进行解调方式分析。

　　表 2 读写器调制方式和工作频率测试用例

　　表 3 启动查询命令测试参数

　　5 . 1 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器支持的调制方式，以及所有被测信道下实际测量的工作频率。

　　5 . 2 读写器邻信道功率泄漏比

　　5 . 2 . 1 测试目的

　　验证读写器邻信道功率比是否满足 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 4 的要求：第一邻道泄漏比应小于

　　-40 dB,第二邻道泄漏比应小于- 60 dB。

　　5 . 2 . 2 测试步骤

　　读写器邻信道功率泄漏比测试步骤如下：

　　a) 被测读写器天线端口通过衰减器与频谱分析仪连接;

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　　b ) 频谱分析仪的中心频率设置为被测读写器的工作频率，设置频率扫宽(建议大于 5 倍信道带宽)、分辨率带宽(建议为 10 kHz);设置频谱分析仪邻信道泄漏比参数，信道间隔为 250 kHz,频率偏置分别为 ±250 kHz,信道功率积分带宽为 250 kHz;

　　c) 开启被测读写器，被测读写器工作在固定信道，连续发射调制信号;

　　d) 设置频谱分析仪为功率-频率模式，采集被测读写器信号，测量邻信道功率比的数值;

　　e) 选择高、中、低三个信道重复步骤 c)和 e) 。

　　5 . 2 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试所选的高、中、低三个信道的工作频率，调制信号的 Tc 值，以及在对应信道下测量的第一邻道泄漏比和第二邻道泄漏比。

　　5 . 3 读写器打开和关闭载波时的射频信号包络

　　5 . 3 . 1 测试目的

　　验证读写器打开和关闭载波时的射频信号包络是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 5 的要求：打开载波时射频包络的上升时间应在 1 μs~500 μs 范围内，射频信号包络纹波过冲应不大于载波信号幅度的 5%,射频信号包络纹波欠冲应不大于载波信号幅度的 5%;关闭载波时射频包络的下降时间应在1 μs~500 μs 范围内，射频信号包络纹波过冲应不大于载波信号幅度的 5%,射频信号包络纹波欠冲应不大于载波信号幅度的 5%。

　　5 . 3 . 2 测试步骤

　　读写器打开和关闭载波时的射频信号包络测试步骤如下：

　　a) 采用图 1 或图 3 所示测试装置进行测试，将被测读写器设定为最大发射功率;

　　b ) 设置频谱分析仪或数字示波器为功率-时间模式，并处于上升沿触发等待中;

　　c) 被测读写器打开载波，在载波上升到最大幅度后应保持至少 1 500 μs 的稳定;

　　d) 使用频谱分析仪或数字示波器采集至少 2 000 μs 的信号;

　　e) 测量被测读写器射频信号包络的上升时间、射频信号包络纹波过冲和射频信号包络纹波欠冲;

　　f) 设置频谱分析仪或数字示波器为功率-时间模式，下降沿触发方式采集信号;

　　g) 被测读写器关闭载波，在载波下降到最小幅度后应保持至少 1 500 μs 的稳定;

　　h) 使用频谱分析仪或数字示波器采集至少 2 000 μs 的信号;

　　i ) 测量被测读写器射频信号包络的下降时间、射频信号包络纹波过冲和射频信号包络纹波欠冲。上升时间和下降时间测量、包络纹波过冲和包络纹波欠冲的测量见 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 5 的

　　图 2 的要求，上升时间和下降时间测量应以射频信号幅度的 10%和 90%为起止。

　　5 . 3 . 3 测试报告

　　测试报告应记录打开载波时的射频包络上升时间、射频信号包络纹波过冲、射频信号包络纹波欠冲;关闭载波时射频包络的下降时间、射频信号包络纹波过冲、射频信号包络纹波欠冲。

　　5 . 4 读写器到标签的射频信号包络

　　5 . 4 . 1 测试目的

　　验证读写器到标签的射频信号包络是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 6 的要求：调制深度应在30%~100%范围内，射频信号包络纹波过冲应不大于射频信号幅度的 5%,射频信号包络纹波欠冲应不大于射频信号幅度的 5%,射频信号包络上升时间应在 1 μs~0 . 66Tc 范围内，射频信号下降时间应在

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　　1 μs~0.66Tc , 脉冲宽度应在 0.5Tc~1.1Tc 范围内。

　　5 . 4 . 2 测试步骤

　　读写器到标签的射频信号包络测试步骤如下：

　　a) 采用图 1 或图 3 所示测试装置进行测试，将被测读写器设定为最大发射功率;

　　b ) 被测读写器工作在支持的工作信道，默认工作信道为信道 0,调制方式、前向链路基准时间 Tc和调制方式设置见表 4 ;

　　c) 设置频谱分析仪或数字示波器为功率-时间模式，并处于下降沿触发等待中;

　　d) 被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表 3 ;

　　e) 频谱分析仪或数字示波器采集完整的启动查询命令信号;

　　f) 测量被测读写器的调制深度、射频信号包络上升时间、射频信号包络下降时间、射频信号包络纹波过冲、射频信号包络纹波欠冲和脉冲宽度;

　　g) 改变被测读写器的调制方式、前向链路基准时间 Tc 和调制深度，重复步骤a) ~f),直至表 4 中所有测试用例都测试完毕;

　　h) 改变频谱分析仪的中心频率和被测读写器的工作信道，重复步骤 a) ~g) 。

　　脉冲宽度测量、包络纹波过冲和包络纹波欠冲的测量见 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 6 的图 3 的要求，脉冲宽度测量应以脉冲的上升和下降包络的 50%为起止。

　　表 4 读写器到标签的射频信号包络测试用例

　　5 . 4 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器的调制方式、调制深度、Tc 时间、射频信号包络纹波过冲、射频信号包络纹波欠冲、射频信号包络上升时间、射频信号包络下降时间、脉冲宽度。

　　5 . 5 读写器数据编码

　　5 . 5 . 1 测试目的

　　验证读写器数据编码是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 7 的要求：符号‘00’的持续时间为 2Tc ,符号‘01’的持续时间为 3Tc , 符号‘11 ’的持续时间为 4Tc , 符号‘10 ’的持续时间为 5Tc , 4 种符号的长度

　　允差均为 ±1%;Tc 可以取 6.25 μs 或者 12.5 μs,长度允差为 ±1%。

　　5 . 5 . 2 测试步骤

　　读写器数据编码测试步骤如下：

　　a) 采用图 1 或图 3 所示测试装置进行测试，将被测读写器设定为最大发射功率;

　　b ) 被测读写器工作在支持的工作信道，默认工作信道为信道 0,调制方式、前向链路基准时间 Tc和调制方式设置见表 4 ;

　　c) 设置频谱分析仪或数字示波器为功率-时间模式，并处于下降沿触发等待中;

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　　d) 被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表 3 ;

　　e) 频谱分析仪或数字示波器采集完整的启动查询命令信号;

　　f) 测量启动查询命令中符号‘00’、符号‘01’、符号‘10’、符号‘11’的持续时间;

　　g) 改变被测读写器的调制方式、前向链路基准时间 Tc 和调制深度，重复步骤a) ~f),直至表 4 中所有测试用例都测试完毕;

　　h) 改变频谱分析仪的中心频率和被测读写器的工作信道，重复步骤 a) ~g) 。

　　符号长度测量见图 6,符号长度测量应以前一符号上升包络和本符号上降包络的 50%为起止。

　　图 6 数据编码测量示例

　　5 . 5 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器的调制方式、调制深度、Tc 时间、符号‘00’、‘01’、‘10’和‘11’的长度，并计算长度允差。

　　5 . 6 读写器前导码

　　5 . 6 . 1 测试目的

　　验证读写器前导码是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 8 的要求：读写器前导码中分隔符的持续时间为 12 . 5 μs,分隔符长度允差为 ±5%,校准符一的持续时间为 8Tc , 校准符二的持续时间为 2Tc , 校准符一和校准符二的长度允差均为 ±1%。

　　5 . 6 . 2 测试步骤

　　读写器前导码测试步骤如下：

　　a) 采用图 1 或图 3 所示测试装置进行测试，将被测读写器设定为最大发射功率;

　　b ) 被测读写器工作在支持的工作信道，默认工作信道为信道 0,调制方式、前向链路基准时间 Tc和调制方式设置见表 4 ;

　　c) 设置频谱分析仪或数字示波器为功率-时间模式，并处于下降沿触发等待中;

　　d) 被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表 3 ;

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　　e) 频谱分析仪或数字示波器采集完整的启动查询命令信号;

　　f) 测量启动查询命令的前导码的分隔符、校准符一、校准符二的持续时间;

　　g) 改变被测读写器的调制方式、前向链路基准时间 Tc 和调制深度，重复步骤a) ~f),直至表 4 中所有测试用例都测试完毕;

　　h) 改变频谱分析仪的中心频率和被测读写器的工作信道，重复步骤 a) ~f)。

　　分隔符长度测量、校准符一和校准符二长度测量见图 7,分隔符长度测量应以分隔符的上升和下降包络的 50%为起止，校准符长度测量应以前一符号上升包络和本符号上降包络的 50%为起止。

　　图 7 前导码测量示例

　　5 . 6 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器的调制方式、调制深度、Tc 时间、分隔符长度、校准符一长度、校准符二长度，并计算长度允差。

　　5 . 7 读写器解调和解码

　　5 . 7 . 1 测试目的

　　验证读写器解调是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 3 . 2 的要求：读写器应能解调 ASK 和(或)PSK调制的标签反向散射;验证读写器是否能够对 GB/T 29768—2013 中 5 . 3 . 3 规定的标签不同编码下的信号进行解码。

　　5 . 7 . 2 测试步骤

　　读写器解调和解码测试步骤如下：

　　a) 采用图 2 或图 3 所示测试装置进行测试;

　　b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下;

　　c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道 0 ;

　　d) 按表 6 前导码参数中首个测试用例参数设置读写器前导码参数;

　　e) 被测读写器发出启动查询命令，命令内容见表 5,按表 6 中 TRext 、反向链路速率因子、编码选

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　　择参数的首个测试用例设置启动查询命令参数;

　　f) 设置数字示波器处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中;

　　g) 标签模拟器在收到被测读写器发送的启动查询命令后，自动以 ASK 或 PSK 调制方式反向散射一个 11 位随机数和 5 位校验位的应答，应答的速率和编码方式应符合收到的启动查询命令的要求;

　　h) 如果被测读写器成功收到 11 位随机数和 5 位校验位的标签模拟器响应，则 自动发送一个编码获取命令，命令内容见 GB/T 29768—2013 的 6 . 5 . 8 ;

　　i) 使用数字示波器采集解调的功率—时间曲线;

　　j) 对于表 6 中的测试用例，依次改变 Tc 、TRext 、反向链路速率因子、编码选择参数，重复步骤

　　f) ~i)。

　　表 5 启动查询命令参数

　　表 6 读写器解调和解码测量参数

　　5 . 7 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器的工作信道、调制深度以及在不同的前导码参数和启动查询命令参数下读写器发送编码获取命令的结果。

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　　5 . 8 读写器链接时序 T2

　　5 . 8 . 1 测试目的

　　验证读写器链接时序 T2 是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 5 的要求：读写器链接时序 T2 最小为3Tpri , 最大为 20Tpri 。

　　5 . 8 . 2 测试步骤

　　读写器链接时序 T2 测试步骤如下：

　　a) 采用图 2 或图 3 所示测试装置进行测试;

　　b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下;

　　c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道 0 ;

　　d) 按表 6 前导码参数中首个测试用例参数设置读写器前导码参数;

　　e) 被测读写器发出启动查询命令，命令内容见表 5,按表 6 中 TRext 、反向链路速率因子、编码选择参数的首个测试用例设置启动查询命令参数;

　　f) 设置数字示波器处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中;

　　g) 标签模拟器在收到被测读写器发送的启动查询命令后，自动以 ASK 或 PSK 调制方式反向散射一个 11 位随机数和 5 位校验位的应答，应答的速率和编码方式应符合收到的启动查询命令的要求;

　　h) 如果被测读写器成功收到 11 位随机数和 5 位校验位的标签模拟器响应，则 自动发送一个编码获取命令，命令内容见表 7 ;

　　i) 使用数字示波器采集解调的功率—时间曲线，测量标签模拟器返回校验位的最后一位结束到读写器编码获取命令分隔符开始的时间间隔，即为 T2 时间;

　　j) 对于表 6 中的测试用例，依次改变 Tc 、TRext 、反向链路速率因子、编码选择参数，重复步骤

　　f) ~i)。

　　T2 时间测量见图 8,测量应以响应结尾上升包络和命令前导码分隔符下降包络的 50%为起止。

　　图 8 T2 时间测量示例

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　　5 . 8 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器的工作信道、调制深度以及在不同的前导码参数和启动查询命令参数下 T2 的测量值。

　　5 . 9 读写器链接时序 T3

　　5 . 9 . 1 测试目的

　　验证读写器链接时序 T3 是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 5 的要求：读写器链接时序 T3 最小为0,且 T1 +T3 应不小于 T4 。

　　5 . 9 . 2 测试步骤

　　读写器链接时序 T3 测试步骤如下：

　　a) 采用图 2 或图 3 所示测试装置进行测试;

　　b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下;

　　c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道 0 ;

　　d) 按表 8 前导码参数中的测试用例参数设置读写器前导码参数;

　　e) 被测读写器发出启动查询命令，命令内容见表 7,按表 8 中反向链路速率因子的首个测试用例设置启动查询命令参数;

　　f) 设置数字示波器处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中;

　　g) 标签模拟器在收到被测读写器发送的启动查询命令后，自动以 ASK 或 PSK 调制方式反向散射一个 11 位随机数和 5 位校验位的应答，应答的速率和编码方式应符合收到的启动查询命令的要求;

　　h) 验证被测读写器成功收到 11 位随机数和 5 位校验位的标签模拟器响应后，是否自动发送一个编码获取命令，命令内容见 GB/T 29768—2013 的 6 . 5 . 8 ;

　　i) 关闭标签模拟器，关闭载波，再重新打开载波;

　　j) 被测读写器发出启动查询命令，命令内容见表 7,反向链路速率因子同步骤 g) 的启动查询命令;

　　k) 验证被测读 写 器 是 否 随 后 发 送 一 个 重 复 查 询 命 令 或 分 裂 命 令 或 收 缩 命 令，命 令 内 容 见GB/T 29768—2013 的 6 . 5 . 4、6 . 5 . 5 和 6 . 5 . 7 ;

　　l) 使用数字示波器采集解调的功率—时间曲线，测量启动查询命令最后一个位结束到下一个命令分隔符开始的时间间隔，即为(T1+T3)时间;

　　m) 用步骤 l)测量得到的(T1+T3) 时间减去相同链路速率条件下 GB/T 29768—2013 中表 6 的T1 的最大值，即为 T3 时间;

　　n) 对于表 8 中的测试用例，改变反向链路速率因子，重复步骤 f) ~m)。

　　T1 +T3 时间测量见图 9,测量应以启动查询命令结尾上升包络和最后命令前导码分隔符下降包络的 50%为起止。

　　表 7 启动查询命令参数

　　GB/T 35102—20 17

　　表 8 链接时序 T3 测量参数

　　图 9 T1 +T3 时间测量示例

　　5 . 9 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器的工作信道、调制深度以及在不同的前导码参数和启动查询命令参数下(T1+T3) 的测量值和 T3 的计算值。

　　GB/T 35102—20 17

　　5 . 10 读写器链接时序 T4

　　5 . 10 . 1 测试目的

　　验证读写器链接时序 T4 是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 5 的要求：读写器链接时序 T4 最小为 3Tc 。

　　5 . 10 . 2 测试步骤

　　读写器链接时序 T4 测试步骤如下：

　　a) 采用图 1 或图 3 所示测试装置进行测试;

　　b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下;

　　c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道 0 ;

　　d) 按表 8 前导码参数中的测试用例参数设置读写器前导码参数，按反向链路速率因子的首个测试用例设置启动查询命令参数;

　　e) 设置频谱分析仪处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中;

　　f) 被测读写器发出分类命令，然后发送启动查询命令，命令内容见表 7 ;

　　g) 使用频谱分析仪采集解调的功率—时间曲线，测量读写器分类命令最后一个位结束到启动查询命令分隔符开始的时间间隔，即为 T4 时间;

　　h) 对于表 8 中的测试用例，改变反向链路速率因子，重复步骤 f) ~g)。

　　T4 时间测量见图 10,测量应以分类命令结尾上升包络和启动查询命令前导码分隔符下降包络的

　　50%为起止。

　　图 10 T4 时间测量示例

　　5 . 10 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器的工作信道、调制深度以及在不同的前导码参数和启动查询命令参数下 T4 的测量值。

　　GB/T 35102—20 17

　　5 . 1 1 读写器命令

　　5 . 1 1 . 1 测试目的

　　验证读写器是否支持 GB/T 29768—2013 中 6 . 5 规定的所有必选命令和声称的可选命令。

　　5 . 1 1 . 2 测试步骤

　　读写器命令测试步骤如下：

　　a) 采用图 1 或图 3 所示测试装置进行测试;

　　b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下;

　　c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道 0 ;

　　d) 读写器驱动标签模拟器转换到指定的状态，并持续发送载波;

　　e) 设置频谱分析仪处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中;

　　f) 读写器发射待验证的测试命令，并等待标签模拟器响应;

　　g) 使用频谱分析仪采集读写器命令和标签模拟器响应信号，验证读写器命令内容是否符合要求，以及读写器是否收到标签模拟器响应并正确处理;

　　h) 重复步骤 d) ~g),测量所有必选命令和声称的可选命令。

　　5 . 1 1 . 3 测试报告

　　测试报告应记录读写器支持命令的名称及所属的类型，以及命令格式和内容。

　　5 . 12 读写器多标签防碰撞机制

　　5 . 12 . 1 测试目的

　　验证读写器多标签防碰撞机制是否符合 GB/T 29768—2013 中 6 . 1 的要求。

　　5 . 12 . 2 测试步骤

　　读写器多标签防碰撞机制测试步骤如下：

　　a) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下;

　　b) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道 0 ;

　　c) 将至少 100 个基准标签按照图 11 所示的方式进行排列，标签中心点间隔 100 mm,读写器天线应尽可能多的覆盖基准标签。

　　d) 按读写器支持的参数设置启动查询命令内容，并开始盘点标签;

　　e) 记录被测读写器在判断盘点结束后，识读到的不同标签数目;

　　f) 重复步骤 d) ~e)至少 3 次 。

　　若被测读写器没有提供自定义的方法，则根据读写器提供的命令接口，使用 GB/T 29768—2013 中6 . 1 多标签防碰撞处理流程和附录 A 中建议的盘点结束条件对读写器多标签防碰撞处理进行测试。

　　若被测读写器没有提供盘点自动结束功能，则测试时应至少保持盘点过程 30 s。

　　GB/T 35102—20 17

　　说明：

　　— 基准标签。

　　图 1 1 基准标签排列方式

　　5 . 12 . 3 测试报告

　　测试报告应记录被测读写器重复测试次数，以及每次成功识读的不同标签个数。

　　5 . 13 读写器安全协议

　　5 . 13 . 1 测试目的

　　验证读写器安全鉴别协议和安全通信协议是否分别符合 GB/T 29768—2013 的 6 . 6 和 6 . 7 的要求。读写器应至少实现 GB/T 29768—2013 的 6 . 6 规定的一种鉴别协议。

　　5 . 13 . 2 测试步骤

　　读写器安全协议测试步骤如下：

　　a) 采用图 3 所示测试装置进行测试;

　　b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下;

　　c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道 0 ;

　　d) 设置被测读写器支持的安全协议测试用例及相关参数;

　　e) 读写器驱动标签模拟器转换到指定的状态，并持续发送载波;

　　f) 设置频谱分析仪处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中;

　　g) 安全鉴别协议按照 GB/T 29768—2013 的 6 . 6 规定的鉴别协议流程进行测试，安全通信协议按照 GB/T 29768—2013 的 6 . 7 规定的安全通信协议流程进行测试;

　　h) 使用测试装置采集读写器命令和标签模拟器响应信号，验证读写器是否按照规定流程执行安全鉴别协议或安全通信协议，以及命令内容是否符合要求，读写器是否收到标签模拟器响应并正确处理。

　　GB/T 35102—20 17

　　5 . 13 . 3 测试报告

　　测试报告应记录读写器支持安全协议的名称以及测试过程中读写器的命令格式、内容和标签模拟器响应的内容，并说明被测读写器的安全鉴别协议和安全通信协议是否符合 GB/T 29768—2013 的要求。

　　6 标签符合性测试

　　6 . 1 标签解调

　　6 . 1 . 1 测试目的

　　验证标签能否解调符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 1 的要求：标签应能解调 DSB-ASK 和 SSB-ASK的调制方式。

　　6 . 1 . 2 测试步骤

　　标签解调测试步骤如下：

　　a) 采用图 4 或图 5 所示测试装置进行测试;

　　b) 被测标签处于未上电状态;

　　c) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为 DSB-ASK 或 SSB- ASK,调制深度为 100%,载波频率设置见表 9 的工作频率;

　　d) 设置频谱分析仪为频率模板触发方式，中心频率为矢量信号发生器的载波频率;

　　e) 矢量信号发生器发送至少 1 ms 的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载波，命令参数见表 10 ;

　　f) 验证频谱分析仪在矢量信号分析仪发送启动查询命令结束后 1 s 内被测标签是否返回响应;

　　g) 改变矢量信号发生器的载波频率，重复步骤 b) ~f),直至表 9 中的所有工作频率用例都测试完毕;

　　h) 改变矢量信号发生器发送信号的调制方式，重复步骤 b) ~g) ,直至 DSB-ASK 和 SSB-ASK 两种调制方式都测试完毕。

　　表 9 标签解调测试用例

　　GB/T 35102—20 17

　　表 10 标签解调测试参数

　　6 . 1 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试过程中的前导码参数、启动查询命令参数、工作频率，并应记录被测标签支持的解调方式。

　　6 . 2 标签工作频率

　　6 . 2 . 1 测试目的

　　验证标签工作频率是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 2 . 2 的要求：在标签支持的工作频率范围内，标签应能正确接收命令并正确响应。

　　6 . 2 . 2 测试步骤

　　标签工作频率测试步骤如下：

　　a) 采用图 4 或图 5 所示测试装置进行测试;

　　b) 被测标签处于未上电状态;

　　c) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为 DSB-ASK 或 SSB-ASK,调制深度为 100%,载波频率设置见表 11 的工作频率;

　　d) 设置频谱分析仪为频率模板触发方式，中心频率为矢量信号发生器的载波频率;

　　e) 矢量信号发生器发送至少 1 ms 的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载波，命令参数见表 10 ;

　　f) 验证频谱分析仪在矢量信号分析仪发送启动查询命令结束后 1 s 内被测标签是否返回响应;

　　g) 改变矢量信号发生器的载波频率，重复步骤 b) ~f),直至表 11 中的所有工作频率用例都测试完毕。

　　表 1 1 标签工作频率测试用例

　　GB/T 35102—20 17

　　6 . 2 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试过程中的前导码参数、启动查询命令参数，并应记录被测标签支持的工作频率。

　　6 . 3 标签基带编码和副载波调制

　　6 . 3 . 1 测试目的

　　验证标签 FM0 编码的基带编码是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 3 . 3 . 2 . 1 的要求;米勒编码的基带编码是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 3 . 3 . 3 . 1 的要求;米勒副载波调制是否符合 GB/T 29768—2013中 5 . 3 . 3 . 3 . 2 的要求 。

　　6 . 3 . 2 测试步骤

　　标签基带编码和副载波调制测试步骤如下：

　　a) 采用图 5 所示测试装置进行测试;

　　b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为 DSB-ASK 或 SSB- ASK,调制深度为 100%,载波频率设置见表 12 首个测试用例的工作频率，按表 12 中首个测试用例设置启动查询命令;

　　c) 被测标签处于未上电状态;

　　d) 设置数字示波器为功率—时间模式，且处于下降沿触发状态;

　　e) 矢量信号发生器发送至少 1 ms 的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载波;

　　f) 等待数字示波器被触发，采集解调后标签应答信号包络;

　　g) 根据启动查询命令的编码选择参数所选的编码方式和副载波调制方式对该标签应答信号包络解码;

　　h) 验证标签应答信号数据编码正确、且信号的逻辑数据长为 16 且 CRC校验正确;

　　i) 改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的编码选择参数、反向链路速率因子，前导码的 Tc 时间，重复 c) ~h),直至表 12 中所有测试用例都测试完毕。

　　表 12 标签基带编码和副载波调制测试用例

　　GB/T 35102—20 17

　　表 12(续)

　　GB/T 35102—20 17

　　表 12(续)

　　6 . 3 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录标签支持的基带编码和副载波调制方式及其编码占空比。

　　6 . 4 标签前导码

　　6 . 4 . 1 测试目的

　　验证标签 FM0 编码的前导码是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 3 . 3 . 2 . 2 的要求;验证标签米勒编码的前导码是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 3 . 3 . 3 . 3 的要求。

　　6 . 4 . 2 测试步骤

　　标签前导码测试步骤如下：

　　a) 采用图 5 的测试装置进行测试;

　　b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为 DSB-ASK 或 SSB-

　　GB/T 35102—20 17

　　ASK,调制深度为 100%,载波频率设置见表 13 首个测试用例的工作频率，按表 13 中首个测试用例设置启动查询命令;

　　c) 被测标签处于未上电状态;

　　d) 设置数字示波器为功率—时间模式，且处于下降沿触发状态;

　　e) 矢量信号发生器发送至少 1 ms 的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载波，等待数字示波器被触发，采集解调后标签应答信号包络;

　　f) 根据启动查询命令的编码选择参数所选的编码方式和副载波调制方式对该标签应答信号包络解码;

　　g) 验证标签应答信号前导码编码格式正确、且随后信号的逻辑数据长为 16 ;

　　h) 改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的编码选择参数、反向链路速率因子，前导码的 Tc 时间，重复 c) ~g),直至表 13 中所有测试用例都测试完毕。

　　表 13 标签前导码测试用例

　　GB/T 35102—20 17

　　表 13(续)

　　GB/T 35102—20 17

　　6 . 4 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录标签支持的FM0 前导码和米勒编码前导码。

　　6 . 5 标签反向链路频率和频率允差

　　6 . 5 . 1 测试目的

　　验证标签反向链路频率和频率允差是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 3 . 4 的要求。

　　6 . 5 . 2 测试步骤

　　标签反向链路频率和频率允差测试步骤如下：

　　a) 采用图 5 的测试装置进行测试;

　　b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为 DSB-ASK 或 SSB- ASK,调制深度为 100%,载波频率设置见表 14 首个测试用例的工作频率，按表 14 中测试用例设置启动查询命令;

　　c) 被测标签处于未上电状态;

　　d) 设置数字示波器为功率—时间模式，且处于下降沿触发状态;

　　e) 矢量信号发生器发送至少 1 ms 的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载波;

　　f) 数字示波器在接收到被测标签响应信号后，发送编码获取命令，命令内容见表 15 ;

　　g) 使用数字示波器仪采集编码获取命令后的标签响应信号，获取解调后的信号包络;

　　h) 测量被测标签响应信号的数据速率，该数据速率即为标签反向链路频率;

　　i) 根据测量得到的标签反向链路频率与反向链路频率的标称值比较，计算频率允差;

　　j) 改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的反向链路速率因子，重复 c) ~i),直至表 14中所有测试用例都测试完毕。

　　表 14 标签反向链路频率和频率允差测试用例

　　GB/T 35102—20 17

　　表 15 编码获取命令内容

　　6 . 5 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录测量的反向链路频率最大值和最小值以及频率允差最大值和最小值。

　　6 . 6 标签链接时序 T1

　　6 . 6 . 1 测试目的

　　验证标签链接时序 T1 是否符合 GB/T 29768—2013 中 5.5 的要求：T1 最小值为 10Tpri (1 - | FT| ) - 2 μs,最大值为 10Tpri (1+ | FT| ) +2 μs。

　　6 . 6 . 2 测试步骤

　　标签链接时序 T1 测试步骤如下：

　　a) 采用图 5 的测试装置进行测试;

　　b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为 DSB-ASK 或 SSB- ASK,调制深度为 100%,载波频率设置见表 14 首个测试用例的工作频率，按表 14 测试用例设置启动查询命令;

　　c) 被测标签处于未上电状态;

　　d) 设置数字示波器为功率—时间模式，且处于下降沿触发状态;

　　e) 矢量信号发生器发送至少 1 ms 的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载波;

　　f) 等待数字示波器被触发，采集解调后标签应答信号包络;

　　g) 测量启动查询命令最后一个位结束到标签返回信号分隔符开始的时间间隔，即为 T1 时间;

　　h) 改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的反向链路速率因子，重复 c) ~g),直至表 14中所有测试用例都测试完毕。

　　T1 时间测量见图 12,测量应以启动查询命令结尾上升包络和标签响应前导码首个下降包络的

　　50%为起止。

　　GB/T 35102—20 17

　　图 12 T1 时间测量示例

　　6 . 6 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录测量的链接时序 T1 。

　　6 . 7 标签链接时序 T2

　　6 . 7 . 1 测试目的

　　验证标签链接时序 T2 是否符合 GB/T 29768—2013 中 5 . 5 的要求：T2 时间最小值为3Tpri , 最大值为 20Tpri 。

　　6 . 7 . 2 测试步骤

　　标签链接时序 T2 测试步骤如下：

　　a) 采用图 5 的测试装置进行测试;

　　b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为 DSB-ASK 或 SSB- ASK,调制深度为 100%,载波频率设置见表 14 首个测试用例的工作频率，按表 14 中测试用例设置启动查询命令;

　　c) 被测标签处于未上电状态;

　　d) 设置数字示波器为功率—时间模式，且处于下降沿触发状态;

　　e) 矢量信号发生器发送至少 1 ms 的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载波;

　　f) 数字示波器在接收到被测标签响应信号后，发送编码获取命令，命令内容见表 15 ;

　　g) 步骤 c) ~f)将按下面方式重复：

　　1) 标签应响应在 3Tpri 时读写器发出的命令;

　　2) 标签应响应在 20Tpri 时读写器发出的命令;

　　3) 标签不能响应在 20Tpri+TACK+T1 时读写器发出的命令;

　　h) 改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的反向链路速率因子，重复 c) ~g),直至表 14中所有测试用例都测试完毕。

　　GB/T 35102—20 17

　　TACK 是编码获取命令的持续时间。

　　6 . 7 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录被测标签在 T2要求的范围以内是否响应读写器命令，在 T2 要求的范围以外不应反向散射信息。

　　6 . 8 标签状态转换

　　6 . 8 . 1 测试目的

　　验证标签状态转换是否符合 GB/T 29768—2013 中 6 . 4 的要求。

　　6 . 8 . 2 测试步骤

　　标签状态转换测试步骤如下：

　　a) 采用图 5 所示测试装置进行测试;

　　b) 设置数字示波器为功率—时间模式;

　　c) 选择标签支持的前导码参数、反向链路速率和基带编码设置矢量信号发生器参数;

　　d) 设置被测标签为测试的初始状态“准备”，为将被测标签设置到测试初始状态，需在表 16 中查找相应的状态转换序列，然后通过查找表 17 中相应的命令，设置矢量信号发生器发送表 17 中读写器命令;

　　e) 设置矢量信号发生器发出 GB/T 29768—2013 中附录 B 中定义的命令;

　　f) 验证被测标签是否处在正确的标签状态，并做出正确的响应;

　　g) 对于所有的标签状态，包括：仲裁、应答、鉴别、开放、安全、灭活，重复步骤 b) ~步骤 d)。

　　表 16 标签状态转换序列表

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　　表 17 标签状态转换表

　　6 . 8 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录被测标签在各状态下的响应内容。

　　6 . 9 标签命令测试

　　6 . 9 . 1 测试目的

　　验证标签是否正确识别和响应 GB/T 29768—2013 中 6 . 5 要求的必选命令。

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　　6 . 9 . 2 测试步骤

　　标签命令测试步骤如下：

　　a) 采用图 5 所示测试装置进行测试;

　　b) 选择标签支持的前导码参数、反向链路速率和基带编码设置矢量信号发生器参数;

　　c) 驱动被测标签处于待验证命令有响应的状态;

　　d) 在指定的标签状态下发送待验证的测试命令;

　　e) 验证命令发送后在标签响应时间内标签返回命令或标签转换所处的状态;

　　f) 验证矢量信号发生器发送的命令格式是否与 GB/T 29768—2013 中规定的读写器命令格式 一致，标签是否正确响应矢量信号发生器命令并实现正确的状态转换。

　　6 . 9 . 3 测试报告

　　测试报告应记录标签支持命令的名称及所属的类型，并应说明标签是否支持 GB/T 29768—2013要求的必选命令。

　　6 . 10 标签防碰撞

　　6 . 10 . 1 测试目的

　　验证标签防碰撞是否符合 GB/T 29768—2013 中 6 . 1 的要求。

　　6 . 10 . 2 测试步骤

　　标签防碰撞测试步骤：

　　a) 将至少 100 个被测标签按图 13 所示方式进行排列，标签中心点间隔 100 mm;

　　b) 选择标签支持的前导码参数、反向链路速率和基带编码设置测试用读写器参数;

　　c) 设置测试用读写器为自身支持的最大发射功率，测试用读写器放置于能够与所有标签进行通信的位置;

　　d) 测试用读写器采用 GB/T 29768—2013 中 6 . 1 和附录 A 中建议的多标签防碰撞处理流程和盘点结束条件对标签防碰撞进行测试;

　　e) 确认测试用读写器是否成功识读所有标签;

　　f) 记录测试用读写器在判断盘点结束后，识读到的标签数目;

　　g) 将至少 50 个被测标签和至少 50 个基准标签按图 14 所示方式进行排列，被测标签和基准标签交叉放置，标签中心点间隔 100 mm;

　　h) 重复步骤 b) ~g)三次，记录识读到的标签数目。

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　　说明：

　　— 待测标签。

　　图 13 被测标签排列方式

　　说明：

　　ZZ— 基准标签;

　　— 待测标签。

　　图 14 被测标签和基准标签排列方式

　　GB/T 35102—20 17

　　6 . 10 . 3 测试报告

　　测试报告应记录测试用读写器的通信参数、发射功率、被测标签和基准标签数目及排列方式;记录测试次数以及每次防碰撞测试中识读到的标签数目。

　　6 . 1 1 标签安全协议

　　6 . 1 1 . 1 测试目的

　　验证标签安全鉴别协议和安全通信协议是否分别符合 GB/T 29768—2013 中 6 . 6 和 6 . 7 的要求。标签应至少实现 GB/T 29768—2013 中 6 . 6 规定的一种鉴别协议。

　　6 . 1 1 . 2 测试步骤

　　标签安全协议测试步骤如下：

　　a) 采用图 5 所示测试装置进行测试;

　　b) 选择标签支持的前导码参数、反向链路速率和基带编码设置矢量信号发生器参数;

　　c) 设置被测标签支持的安全协议测试用例及相关参数;

　　d) 驱动被测标签处于待验证安全鉴别协议和安全通信协议的状态;

　　e) 在指定的标签状态下进行安全鉴别协议和安全通信协议的测试;

　　f) 安全鉴别协议按照 GB/T 29768—2013 的 6 . 6 规定的鉴别协议流程进行测试，安全通信协议按照 GB/T 29768—2013 的 6 . 7 规定的安全通信协议流程进行测试;

　　g) 使用测试装置采集命令发送后在标签响应时间内标签返回的命令，验证标签是否按照规定流程执行安全鉴别协议或安全通信协议，以及标签返回命令内容是否符合要求，标签是否正确响应测试装置发送的命令并实现正确的状态转换。

　　6 . 1 1 . 3 测试报告

　　测试报告应记录标签支持安全协议的名称以及测试过程中发送的命令内容和标签响应的内容，并说明被测标签的安全鉴别协议和安全通信协议是否符合 GB/T 29768—2013 的要求。

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　　附 录 A

　　(资料性附录)测 试 场 地

　　A.1 测试场地和测试常规布置

　　A.1 . 1 概述

　　用于测试的场地分别有全电波暗室，半电波暗室和开阔场。

　　注：为了保证测试的复现性和可追溯性，测试中只能使用其中一种测试场地。

　　A.1 . 2 全电波暗室

　　全电波暗室是一个六面屏蔽的空间，在其内部的地板、墙壁和天花板上覆盖吸波材料。 暗室里包括天线架和转台，一般分别安装在暗室的一端。 典型的全电波暗室如图 A. 1 所示。

　　图 A.1 典型的全电波暗室

　　暗室进行屏蔽设计和安装吸波材料可以保证测试环境符合测试要求。

　　全电波暗室模拟自由空间的情况。

　　屏蔽体构成了测试空间，减小了外界电磁波信号的干扰及其他影响，同时，射频吸波材料可以减小由于墙壁和天花板的反射对测试结果的影响。 实际上，屏蔽体的屏蔽效能可以达到 80 dB~ 140 dB,在这种情况下，外界环境的干扰可以忽略不计。

　　转台，可以在水平方向旋转 360°,用于放置 DUT,一般来说，指定相对地面的高度，比如 1 m。 暗室的空间要保证测试距离至少为 3 m 或 2(d1 +d2) 2 /λ二者较大的值。 在实际测试中，需要在测试结果中记录测试距离。

　　同其他测试场地相比，全电波暗室的地面、天花板和墙壁反射最小，受外界环境干扰最小，并且不受外界天气的影响。 然而它也有一些缺点，如有限的测试距离、锥形吸波材料尺寸造成的有限的低频性能 。通常，采取同时使用铁氧体和吸波材料的方法以提高暗室的低频性能。

　　GB/T 35102—20 17

　　A.1 . 3 半电波暗室

　　半电波暗室的地板是导电的，外壳通常为屏蔽体，内部的墙壁和天花板覆盖吸波材料。 半电波暗室的地板是金属的，不需要覆盖吸波材料。 暗室里包括天线架和转台，一般分别安装在暗室的一端。 典型的半电波暗室如图 A. 2 所示。

　　图 A.2 典型的半电波暗室

　　半电波暗室模拟理想的开阔场，开阔场的主要特性是具有一个无限大的良好的导电地平面。

　　在半电波暗室中地面产生任意反射路径，这样接收天线接收到的信号是直接发射路径和反射路径信号的总和。 对于发射天线(或 DUT) 和接收天线的每个对地面的高度而言，接收到的信号电平是唯一的。

　　天线架是用来在 1 m~ 4 m 调节天线高度的设施，通过调节天线高度，可以获得发射天线(或DUT)与接收天线之间的最大耦合信号。

　　转台可以在水平面旋转 360°,用来支撑测试样品在一个指定的高度，通常是地面以上 1 . 5 m。 暗室的空间要保证测试距离至少为 3 m 或 2(d1 +d2) 2 /λ二者较大的值。 在实际测试中，需要在测试结果中记录测试距离。

　　A.1 . 4 开阔场

　　开阔场由放置在地面上的转台和可以升降高度的天线架组成，转台和天线架分别放置在开阔场的两端，理想情况下，开阔场的地面具有良好的导电性，面积无限大。 典型的开阔场如图 A. 3 所示。

　　在开阔场中地面产生期望的反射路径，这样接收天线接收到的信号是直接发射路径和反射路径信号的总和。 对于发射天线(或 DUT)和接收天线的每个对地面的高度而言，由于相位不同，接收到的信号电平是唯一的。

　　涉及天线高度、转台、测试距离和布置等方面的条件，与半电波暗室相同。

　　GB/T 35102—20 17

　　图 A.3 典型的开阔场

　　A.2 场地准备

　　测试场地两端的连接电缆在测试区域内需要至少 2 m 的水平方向的布线(除非在暗室中进行测试，天线与暗室墙壁的距离较短)，然后可以垂直方向布线，并且通过接地平面或隔板与测试仪器连接。为了减小电缆的电磁干扰，需要采取必要的预防措施(例如使用磁环或其他负载)。对于电缆的布线和使用磁环等负载应当与验证过程的布置相一致。

　　注：对于存在地面反射的场地(即半电波暗室和开阔场)，一般在天线架上配合使用电缆线盘，对于这种情况，上述的有关电缆长度 2 m 的要求不适用。

　　所有测试设备都应具备有效的校准数据。

　　所有电缆和衰减器的校准数据应当包括针对所有测试频率范围的插入损耗和驻波系数。 所有插入损耗和驻波系数需要在测试项目的 日志文件中存档。

　　当需要修正系数的时候，相关数据可以迅速获得。

　　对于所有的测试仪器，应当知道仪器的最大误差以及分布特性，如：

　　a) 电缆损耗：符合 ±0 . 5 dB 的矩形分布;

　　b ) 测试接收机：符合 1 . 0 dB(标准偏差)信号电平准确度高斯误差分布。

　　在测试开始之前，应检查所有将使用的测试仪器。

　　GB/T 35102—20 17

　　附 录 B

　　(资料性附录)

　　测试方法与基础标准要求的关系

　　本标准中测试条款与 GB/T 29768—2013 的对应关系见表 B. 1 。

　　表 B.1 本标准与 GB/T 29768—2013 对照表

　　GB/T 35102—20 17

　　附 录 C

　　(规范性附录)标签模拟器

　　C.1 耦合式标签模拟器

　　耦合式标签模拟器应该有一个中间分开的 λ/2 偶极子天线，连接到一个匹配网络，在载波频率下，将标签模拟器匹配到参考阻抗 40 Ω+j800, 以或图 C. 1 或图 C. 2 所示的方式实现。

　　耦合式标签模拟器的集成电路阻抗电路应包含一个整流电路(例如，两个肖特基二极管 HSMS8202) ,一个钽电容器，22 pF(NPO),一个 2 kΩ的并联电阻。

　　注 1 ：将反向散射器件连接到一个镜像电阻，或将它作为一个镜像电阻，将矢量信号发生器的调制用光塑料和发射二极管传输，避免任何电气耦合产生的影响。

　　注 2：在直接耦合的情况下，矢量信号发生器的输出是反向散射器件控制信号，其幅度不超过反向散射器件控制信号的幅度。

　　矢量信号发生器若接收到读写器已经发出命令的触发信号，应该根据 GB/T 29768—2013 产生 一个响应的图形。 除了触发信号，矢量信号发生器也可以有一个解调或其他手段检测命令的结束。 不论采用什么方法，应该保证从标签模拟器产生的响应在测试采用的操作模式的最小链路时序后发生。

　　图 C.1 采用直接耦合方式的标签模拟器