GB/T 25838-2010 核电厂安全级电阻温度探测器的质量鉴定

　　ICS 27. 120. 20 F 65

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 25838—2010

　　核电厂安全级电阻温度探测器的

　　质量鉴定

　　Qualification ofsafety classresistancetemperaturedetectorsfor

　　nuclearpowerplants

　　2010-12-23发布 2011-05-01实施

　　中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会

　　

　　发

　　

　　布

　　GB/T 25838—2010

　　目 次

　　前言 Ⅰ

　　1 范围 1

　　2 规范性引用文件 1

　　3 术语和定义 1

　　4 技术规格书 3

　　5 质量鉴定方法 4

　　6 鉴定试验大纲和鉴定试验程序 4

　　7 鉴定试验准备 5

　　8 基准试验 6

　　9 极限使用条件下的试验 9

　　10 评价设备性能随时间变化的试验 10

　　11 事故和事故后环境条件下的试验 13

　　12 试验程序综合及顺序表 16

　　13 鉴定试验记录和报告 16

　　附录 A (资料性附录) 可应用于电阻温度探测器的水平和垂直方向 OBE和 SSE的要求反应谱 18

　　附录 B (资料性附录) 典型的设计基准事故环境条件变化曲线 19

　　GB/T 25838—2010

　　前 言

　　本标准按照 GB/T 1. 1—2009给出的规则起草 。

　　本标准是 GB/T 12727—2002《核 电 厂 安 全 系 统 电 气 设 备 质 量 鉴 定 》的 配 套 标 准 , 为 执 行GB/T 12727—2002《核电厂安全系统电气设备质量鉴定》的要求提供了具体化的实施条件 。

　　本标准由中国核工业集团公司提出 。

　　本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC30)归 口 。

　　本标准起草单位 :核工业标准化研究所 、中科华核电技术研究院北京分院 。

　　本标准主要起草人 :崔贞北 、邱建文 、于宏伟 、郑骈垚 、耿文行 。

　　Ⅰ

　　GB/T 25838—2010

　　核电厂安全级电阻温度探测器的

　　质量鉴定

　　1 范围

　　本标准规定了核电厂安全级电阻温度探测器质量鉴定所采用的试验项目 、试验条件 、试验方法和验收准则 。

　　本标准适用于压水堆核电厂中安全级电阻温度探测器的质量鉴定 。

　　本标准也可供其他类型核电厂安全级电阻温度探测器进行质量鉴定时参考 。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。凡是注 日期的引用文件 ,仅所注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注日期的引用文件 ,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 。

　　GB/T 2421. 1—2008 电工电子产品环境试验 概述和指南

　　GB/T 2423. 4—2008 电工电子产品环境试验 第 2部分 :试验方法 试验 Db:交变湿热(12h+ 12 h循环)

　　GB/T 2423. 10—2008 电工电子产品环境试验 第 2部分 :试验方法 试验 Fc:振动(正弦) GB/T 12727—2002 核电厂 安全系统电气设备 质量鉴定

　　GB/T 13625—1992 核电厂安全系统电气设备抗震鉴定

　　EJ 1039—1996 核电厂核岛机械设备无损检验规范

　　EJ/T 1197—2007 核电厂安全级电气设备质量鉴定试验方法与环境条件

　　JB/T 8622—1997 工业铂热电阻技术条件和分度表

　　IEC 60751:2008 工 业 铂 电 阻 温 度 计 和 铂 温 度 传 感 器 (Industrial platinum thermometers and platinum temperature sensors)

　　IEC 62397:2007 核电站 仪 器 装 置 和 控 制 系 统 电 阻 温 度 探 测 器(Nuclear powerplants—In-

　　strumentation and controlimportantto safety—Resistance temperature detectors)

　　3 术语和定义

　　GB/T 12727—2002界定的以及下列术语和定义适用于本文件 。

　　3. 1

　　鉴定程序 qualification procedure

　　提供某类设备质量证明的程序 。

　　3. 2

　　条件试验 conditioning

　　把试验样品暴露在试验环境中 , 以确定这些条件对试验样品的影响 。

　　3. 3

　　预处理 pre-conditioning

　　为消除或部分消除试验样品以前经历的各种响应 ,在条件试验前对试验样品所做的处理 。

　　1

　　GB/T 25838—2010

　　3. 4

　　恢复 recovery

　　在条件试验之后 ,最后检测之前 ,为使试验样品的性能稳定所做的处理 。

　　3. 5

　　感温元件 sensing resistor

　　铂热电阻中用来感受温度的电阻器 。

　　3. 6

　　保护管 protective tube

　　用来保护感温元件-内引线组件免受环境有害影响的管状物 。

　　3. 7

　　电阻温度探测器 resistance temperaturedetector(RTD)

　　通常由对铂电阻起保护作用的不锈钢圆柱形保护管制成的探测器 ,其中铂电阻的电阻值随温度而变化 。探测器位于包含有被测流体的管道中 ,它可以直接置入流体中 ,或由套管进行保护 。

　　[IEC 62397:2007,定义 3. 5] 3. 8

　　套管 thermowell

　　套管保护温度探测器 ,并使之可在带载荷的回路上进行拆卸 。

　　3. 9

　　探测器头 detectorhead

　　包含有感温元件的机械固定装置和电气连接装置的温度探测器上部部件 。

　　3. 10

　　影响量 influencingvariable

　　通常指设备以外可能影响其运行的变量 。

　　3. 11

　　额定运行条件 nominaloperating conditions

　　测量范围以及规定有运行特性的额定运行范围的总和 。

　　3. 12

　　极限使用条件 limitconditionsofoperation

　　影响量和功能特性超出其各自额定运行范围和测量范围的数值范围总和 。在这些范围内设备可以运行 ,而当设备重新在额定运行条件下运行时 ,既不出现设备损坏 ,也不导致功能特性下降 。

　　3. 13

　　分度特性 calibration characteristics

　　由标准规定的铂热电阻的电阻-温度关系 。

　　3. 14

　　分度表 reference table

　　用表格形式表示的铂热电阻的分度特性 。

　　3. 15

　　允差 tolerance

　　铂热电阻实际的电阻-温度关系偏离分度表的允许范围 。

　　3. 16

　　热响应时间 thermalresponse time

　　在温度出现阶跃变化时铂热电阻的电阻值变化至相当于该阶跃变化的某个规定百分数所需的时间 ,通常以 τ表示 。

　　2

　　GB/T 25838—2010

　　3. 17

　　自热 self-heating

　　铂热电阻的激励功率造成感温元件加热 。

　　3. 18

　　置入深度 immersion depth

　　从保护管底部算起 ,铂热电阻处于被测温空间的长度 。

　　3. 19

　　K1类设备 K1category equipment

　　位于安全壳内 ,应在对应于核电机组正常 、事故和(或)事故后运行工况的环境条件下以及地震荷载下保证其功能的设备 。

　　3. 20

　　K2类设备 K2category equipment

　　位于安全壳内 ,应在对应于正常运行工况的环境条件下以及地震荷载下保证其功能的设备 。

　　3. 21

　　K3类设备 K3category equipment

　　位于安全壳外 ,应在对应于正常运行工况的环境条件下以及地震荷载下保证其功能的设备 。

　　4 技术规格书

　　本章阐述了技术规格书中应为设备鉴定说明的条款 ,包括设备标识 、功能和性能要求 、设备电源要求及设计环境条件 , 以及电源 、环境条件变化对设备功能特性的影响 。

　　安全级电阻温度探测器的技术规格书宜包括 :

　　a) 所属的分类 ;

　　b) 分度表与分度号 ;

　　c) 标称电阻 ;

　　d) 温度测量范围及允差 ;

　　e) 自热误差 ;

　　f) 置入深度 ;

　　g) 内连线电阻 ;

　　h) 可互换性 ;

　　i) 电气绝缘特性 ;

　　j) 重复性 ;

　　k) 抗震要求 ;

　　l) 热响应时间 ;

　　m) 额定电流范围 ,不损坏敏感元件时的最大允许电流 ;

　　n) 材料 :敏感元件 、密封 、套管 ;

　　o) 结构 、电气连接方式 、机械连接方式 ;

　　p) 使用环境条件 。

　　技术规格书中还应说明 :

　　a) 适应于其设备的接地回路布线图 ;

　　b) 探测器部件相互间的各个上紧力矩 , 以及在探测器固定设备上的上紧力矩 ;

　　c) 应与探测器相连接的电缆的技术特性(如有必要) ;

　　d) 套管的结构特性(如有必要) 。

　　3

　　GB/T 25838—2010

　　5 质量鉴定方法

　　设备质量鉴定可通过分析法 、试验法(主要指型式试验) 、运行经验法或组合法(分析 、试验 、运行经验的结合)获得的 证 据 , 以 证 明 在 规 定 的 运 行 条 件 和 环 境 条 件 下 设 备 能 满 足 其 规 定 的 准 确 度 和 性 能要求 。

　　本标准阐述了使用试验法对电阻温度探测器进行质量鉴定 。

　　6 鉴定试验大纲和鉴定试验程序

　　6. 1 鉴定试验大纲

　　应制定鉴定试验大纲 ,鉴定试验大纲是开展设备鉴定试验的纲领性文件 。试验大纲应与设备技术规格书相协调 ,且详细说明应进行的各项试验和建立设备技术规格书与试验结果之间的联系 , 以使所提供的证据证明所采用的试验方法是合适的 。鉴定试验大纲应包括 :

　　a) 待试验设备说明 ;

　　b) 待试验样本设备的数量及其标识 ;

　　c) 安装 、连接和其他接口的要求 ;

　　d) 老化模拟程序 ;

　　e) 模拟的运行条件和环境条件 ;

　　f) 需测定的环境变量 、设备性能和验收准则 ;

　　g) 对试验设备的要求 ,包括准确度 ;

　　h) 鉴定试验期间允许的维修和更换 ;

　　i) 性能限值和故障定义 ;

　　j) 鉴定试验数据的文档要求 ;

　　k) 设备技术规格书中不适用部分的说明 ;

　　l) 鉴定试验项目的顺序 ;

　　m) 以上没有涉及但在试验期间可能对设备有影响的特殊情况说明 。

　　6. 2 鉴定试验程序

　　应按照 GB/T 12727—2002 中 5. 4. 2及 EJ/T 1197—2007第 5 章 、第 6章和第 8章中的有关规定 ,编制设备质量鉴定试验程序 , 以规定和说明鉴定试验的项目 、试验条件 、试验和测试方法 、操作和测试步骤 、以及验收准则等 。

　　电阻温度探测器的质量鉴定程序中应包括 6. 2. 1~ 6. 2. 4 四类试验内容 。

　　6. 2. 1 基准试验

　　基准试验包括 :

　　— 设备电气特性试验 ;

　　— 设备功能特性的测定试验 。

　　基准试验的结果将作为与后续试验时设备性能进行比较的基准 。

　　6. 2. 2 极限使用条件下的试验

　　设备在极限使用条件下的试验用于检验设备在影响量的额定范围内和限值下的功能特性 ,这些影响量包括 :

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　　— 环境条件 ,如温度 、压力 、湿度 、辐照等 ;

　　— 每个设备特定的影响量 、与其安装条件有关的影响量(如振动) 或与其操作所需的电源特性有关的影响量(如电源电压或频率的影响 、电磁干扰) 。

　　对电阻温度探测器鉴定试验所考虑的影响量在下面的各项试验内容条款中分别表述 。

　　6. 2. 3 评价设备性能随时间变化的试验

　　应按要求对设备老化 ,使其置于模拟预期安装寿期末的状态 。应考虑的老化因素包括 :

　　— 温度(循环或不循环的温度变化) ;

　　— 腐蚀 ;

　　— 长时间运行 ;

　　— 设备全寿期内可能经受的正常辐照的累积剂量 ;

　　— 机械振动 。

　　6. 2. 4 事故和事故后环境条件下的试验

　　目的是验证设备在下列设计基准事故工况条件下的性能 :

　　— 地震 ;

　　— 安全壳内事故期间可能出现的累积辐照剂量 ;

　　— 安全壳内事故热力条件(压力 、温度)和化学条件 ;

　　— 安全壳内事故后热力条件(温度 、饱和蒸汽压力) 。

　　7 鉴定试验准备

　　7. 1 电阻温度探测器分类

　　电阻温度探测器从结构上来划分 , 可以分成带套管和无套管的电阻温度探测器 ;从响应时间来划分 ,也可分成快响应和标准响应的电阻温度探测器 。

　　7. 2 试验样机的选择

　　鉴定所用的样本设备数量和类型是由样本设备所要代表核电厂中安装设备的应用范围来确定的 。

　　对被鉴定的每一类电阻温度探测器 ,选择 6 个相同的电阻温度探测器作为试验样品(标号为 S1~ S6) ,对 5个样品进行试验 ,第 6个样品保留作为对照品,它也可以用于补充的研究试验 。

　　7. 3 试验用设备的准备

　　除了在每一项试验中需要准备为达到试验条件所需的试验设备或装置以及必要的测试设备外 ,还需要准备下述设备 。

　　7. 3. 1 探测器的配套连接部件

　　在试验中 ,将使用两种类型的配套连接部件 :

　　a) 带连接线或连接电缆的插头 。在正常环境条件下的试验中 ,使用带连接线或连接电缆的插头 ,连接线或连接电缆的长度根据试验的需要确定 ;

　　b) 专用的配套连接组件 。在有些特殊的试验中(如有些需要将探测器置入在液体中的试验 、需要将探测器安放在封闭容器中的试验) ,使用专用的配套连接组件 , 它由密封插头 、导线或电缆 、保护软管等组成 ,应能够承受安全壳内事故环境条件 。

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　　7. 3. 2 试验安装支架

　　在机械振动试验和抗震试验中 ,应准备电阻温度探测器的安装支架 ,要求见 10. 5 和 11. 1。

　　7. 3. 3 试验电路

　　应准备有试验电路 ,在一般试验期间对探测器供以额定电流(1±0. 2) mA, 在过电流试验中 ,对探测器供以规定的最大允许电流 。

　　8 基准试验

　　8. 1 试验和测量时的大气条件

　　基准试验时以及在第 9章 ~ 第 11章 试 验 中 进 行 测 量 时 的 大 气 条 件 符 合 GB/T 2421. 1—2008 中5. 2 和 5. 3 的规定 。

　　8. 1. 1 测量和试验用正常大气条件

　　除非特别指明 ,正常大气条件为 :

　　— 温度 :15 ℃ ~ 35 ℃ ;

　　— 相对湿度 :25% ~ 75% ;

　　— 大气压力 : (96±10)kPa。

　　在进行基准试验之前 ,所有被试验样品在正常大气条件下放置 24 h。 如没有特殊说明 , 这些条件也是恢复和预处理的条件 。

　　8. 1. 2 参考大气条件(仲裁测量和试验用标准大气条件)

　　某些试验应在下面所定义的具有正常容差的参考大气条件下进行 :

　　— 环境温度 : (23±2) ℃ ;

　　— 相对湿度 :45% ~ 55% ;

　　— 大气压力 : (96±10)kPa[(960±100) mbar] 。

　　8. 2 介电强度试验

　　试验在不通电的探测器样品上进行 ,不通电时间要足够长 , 以致可认为它处于冷态 。

　　试验在正常大气条件下进行 ,但对 9. 1 描述的试验除外 。

　　被试验的电气线路是指电阻温度探测器样品的敏感元件电路 ,接地点为外壳以及用作机械固定的金属部件 。

　　在被试验的电气线路与接地点之间 ,用额定频率 50 Hz、100V有效值的正弦波电压施加 1 min。

　　将试验电压同时施加到敏感元件电路的所有输出端上 ,或者加到连接件的端子上 ,或者加到连接电缆的端部 。

　　在试验过程中不 应 出 现 起 弧 、击 穿 和 放 电 现 象 。 当 漏 电 流 大 于 或 等 于 3 mA 时 , 便 认 为 有 起 弧现象 。

　　8. 3 绝缘电阻测量

　　基准试验时绝缘电阻测量在正常大气条件下进行 ,在 100 V直流电压下保持 1 min后测量探测器样品的绝缘电阻 。

　　在试验过程中高温条件下进行测量时 ,在 100V直流电压下测量探测器样品的绝缘电阻 。

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　　GB/T 25838—2010

　　测量时电压施加点与 8. 2相同 。

　　不同条件下的绝缘电阻测量应达到下述要求 :

　　a) 在正常大气条件下 ,测得的绝缘电阻值应大于 100 MΩ;

　　b) 在最高工作温度条件下 ,测得的绝缘电阻值应大于 10 MΩ;

　　c) 在 10. 4 和 11. 2. 1规定的辐照试验后 ,绝缘电阻值应不小于 70 MΩ;

　　d) 在 11. 2. 2 和 11. 2. 3规定的事故和事故后环境条件试验后 ,绝缘电阻值应不小于 1 MΩ。

　　8. 4 静态响应试验

　　该试验的目的是验证敏感元件的静态特性符合规定的要求 。

　　根据不同的试验温度 ,将探测器样品分别放置到不同的恒温槽中或高温炉中 ,并加以局部搅动 ,使温度达到均匀 。

　　对 0 ℃点进行试验时 ,在冰点槽中使用由水和研碎冰块的混合物制成的 0 ℃混合液 ,这种液体在大气下是饱和的 ,并加以搅动 。其中的冰块用化学纯净水制成 。

　　对包括 0 ℃和正常使用的可能最高值(例如 350 ℃)在内呈规则分布的 5个温度点进行探测器样品的静态响应试验 。

　　在上述 5个温度下热平衡后记录探测器样品的输出信号以及标定传感器的输出信号(必要时) 。这些记录点可以确定和校核探测器样品的电阻-温度曲线 。

　　静态响应试验应符合下述要求 :

　　a) 在基准试验中以及极限使用条件下的试验后 ,各个温度点的测量误差应小于或等于表 1 规定的该等级电阻温度探测器的允差值(见 IEC 60751:2008表 3 和 JB/T 8622—1997表 3) ;

　　b) 在评价设备性能随时间变化的试验 、抗地震试验(见 11. 1)后 ,5个温度点测量值对初始测量时测定曲线相比较的最大误差偏移应 ≤±1 ℃ ;

　　c) 在事故辐照试验(见 11. 2. 1) 、事故后热力条件试验(见 11. 2. 3) 后 , 5 个温度点测量值对初始测量时测定曲线相比较的最大误差偏移应 ≤±5 ℃ 。

　　表 1 电阻温度探测器的允差分级

　　允差等级

　　温度有效范围℃

　　允差值a ℃

　　线绕电阻

　　薄膜电阻

　　AA

　　-50~ +250

　　0~ +150

　　±(0. 1+0. 0017 ︱ t ︱ )

　　A

　　-100~ +450

　　-30~ +300

　　±(0. 15+0. 002 ︱ t ︱ )

　　B

　　-196~ +600

　　-50~ +500

　　±(0. 3+0. 005 ︱ t ︱ )

　　C

　　-196~ +600

　　-50~ +600

　　±(0. 6+0. 01 ︱ t ︱ )

　　a ︱ t ︱ = 用 ℃表示不带符号的温度绝对值 。

　　8. 5 单点静态响应试验

　　该试验的目的是在鉴定试验过程中需要时快速核查敏感元件电路的完整性 , 以便发现各种异常情况 ,如电路断开 , 电路完全或部分短路 。

　　试验时 ,将探测器样品置入水沸点槽或冰点槽中 ,稳定 30 min,然后在 1 mA 电流下测量敏感元件的电阻值 ,并按 8. 3 的规定测量绝缘电阻 。

　　单点静态响应试验应符合下述要求 :

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　　GB/T 25838—2010

　　a) 通过敏感元件电阻值的测量 ,表明敏感元件电路完整性正常 ;

　　b) 在基准试验 、极限使用条件下的试验中或试验后 ,单个温度点的测量误差应小于或等于表 1 中给出的最大允许偏差 ;

　　c) 在评价设备性能随时间变化的试验后 ,单个温度点测量值对初始测量时测定值相比较的最大误差偏移应 ≤±1 ℃ ;

　　d) 在事故后热力条件试验(见 11. 2. 3)后 ,单个温度点测量值对初始测量时测定值相比较的最大误差偏移应 ≤±5 ℃ ;

　　e) 测量的绝缘电阻值应符合 8. 3 中规定的要求 。

　　8. 6 有限的静态响应试验

　　在鉴定试验过程中的某些试验期间尤其是当探测器处于恒温箱中或位于机械台架上时 ,不可能进行 8. 4静态响应试验或 8. 5单点静态响应试验 ,为此在所处的环境温度下进行有限的静态响应试验 。

　　记录试验期间探测器样品的输出信号 ,并记录各种异常情况 ,尤其是开路 ,长久或间断的短路 。

　　使用标定温度计记录环境温度 。

　　试验过程中定期地按 8. 3 的规定测量探测器样品的绝缘电阻 。

　　有限的静态响应试验应符合下述要求 :

　　a) 探测器样品的输出信号不应包含有任何异常 ,表明敏感元件电路完整性正常 ;

　　b) 在评价设备性能随时间变化的试验中(见 10. 3)以及抗震试验中和试验后(见 11. 1) ,试验结果应正常 ;

　　c) 在事故和事故后热力条件下的试验中(见 11. 2. 2,11. 2. 3) ,试验结果应正常 ;

　　d) 测量的绝缘电阻值应符合 8. 3 中规定的要求 。

　　8. 7 响应时间试验

　　该试验的目的是使被测介质温度成阶跃变化时确定每一个探测器样品输出信号变化至 50%所对应的响应时间(τ50) , 以便验证探测器样品符合规定设备类别的要求 ,并应记录温度阶跃变化时探测器输出信号变化至 10%和 90%的响应时间(τ10,τ90)作为信息 。

　　在有些场合 ,使用温度阶跃变化时输出信号达到 63. 2%的响应时间 。

　　试验方法和要求可按照 IEC 62397:2007中 4. 7. 4 的规定进行 。

　　确定响应时间的典型试验条件 是 将 20 ℃时 的 探 测 器 快 速 插 入 温 度 为(75±2. 5) ℃ 、流 速 为(1± 0. 15) m/s 的水中 。另外的 方 法 是 将 传 感 器 在 空 气 中 加 热,然 后 将 其 插 入 到 室 温 、流 速 为 1 m/s 的水中 。

　　试验中应测量和记录下述信号 :

　　a) 测量位于流体介质中探测器样品附近的快响应热电偶输出信号 ,作为流体温度变化信号 ;

　　b) 记录探测器样品输出信号 ,并利用记录曲线 ,得出输出信号变化至 10%、50%和 90%时的响应时间 。

　　应进行 3 次测量 ,取 3 次测量的平均值作为响应时间指示值 ,其中任一次的测量值不应与平均值相差超过 ±10% 。

　　响应时间试验应符合下述要求 :

　　a) 基准试验测量时的响应时间应符合制造商对各个类型电阻温度探测器规定的数值 ;

　　b) 在评价设备性能随时间变化的试验后 、事故和事故后环境条件下试验之后 ,测量的响应时间偏离应不超过初始测量时响应时间的 ±20% 。

　　8. 8 焊缝的液体渗透探伤试验

　　该试验的目的是检验探测器密封的焊接处(探测器头部/延伸管焊缝) 和安装套管表面是否存在可

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　　能的缺陷 。为此 ,对探测器保护管表面上的焊缝和安装套管表面进行液体渗透检验 。

　　从事液体渗透检验工作的人员 , 必须持有国家有关主管部门颁发的液体渗透检验有效资格证书 。渗透检验所使用的材料和步骤应经过产品试样的评定 ,才能用于产品检验 。

　　试验方法和条件参照 EJ/T 1039—1996第 13章的有关规定执行 。

　　液体渗透检验是一种非破坏性的试验 ,本试验推荐采用着色渗透检验方法 。

　　着色渗透检验结果应达到下述要求 :

　　a) 探测器保护管表面上的探测器头部/延伸管焊缝没有显现线性显示(裂纹) ;

　　b) 探测器安装套管表面 :

　　1) 不出现尺寸大于 1 mm 的显示 ;

　　2) 不出现线性显示或直径大于 3 mm 的圆形显示 ;

　　3) 同一直线上不出现 3个或 3个以上 、边缘相距小于 3 mm 的显示 。

　　c) 底部即测量端(最敏感区域)不出现显示 。

　　9 极限使用条件下的试验

　　9. 1 流体温度的影响试验

　　该试验的目的是当其中浸入有探测器样品的流体的温度变化时 ,用来研究温度对探测器样品电气特性的影响 。

　　把探测器样品依次置入到 8. 4规定温度下的恒温槽或恒温炉中 ,对 8. 4 规定的呈规则分布的 5 个温度点进行试验 。

　　在 8. 4规定的 5个温度下分别稳定 30 min以后 ,对探测器样品进行下述测量 :

　　— 按 8. 2 的规定进行介电强度试验 ,试验结果应符合 8. 2 中规定的要求 ;

　　— 按 8. 3 的规定测量绝缘电阻 ,测量的绝缘电阻值应符合 8. 3 中规定的要求 。

　　9. 2 水压试验

　　该试验适用于安装在带压力冷却水中的探测器 。

　　试验的目的是 :

　　— 在流体(待测其温度的流体)的规定试验压力下 ,检验探测器样品的机械性能以及固定装置的密封性 ;

　　— 在压力变化和保持的过程中 ,检验探测器样品的电气特性 。

　　在正常大气条件的环境温度下 ,将探测器样品以密封方式安装在其中产生有压力的容器中 ,试验使用的流体是水 。

　　试验分成三个阶段 :

　　a) 第 1 阶段 :至少在 30 s 以内使压力从正常压力升高到试验压力 ;

　　b) 第 2 阶段 :在试验压力平台下保持 1 h;

　　c) 第 3 阶段 :至少在 30 s 以内使压力从试验压力下降到正常压力 。

　　试验压力规定为设计压力的 1. 5倍 。例如 ,对使用在反应堆冷却剂系统中的探测器 ,试验压力一般为 25. 8 MPa;对使用在余热排出系统中的探测器 ,试验压力一般为 7. 1 MPa。

　　试验过程中对探测器样品进行下述测量和检查 :

　　a) 在第 1 阶段和第 3 阶段中 ,按 8. 6 的规定进行有限的静态响应试验 ,试验结果应正常 ;

　　b) 在第 2 阶段中 :

　　1) 在压力平台开始后 20min,按 8. 3 的规定测量绝缘电阻 ,测量的绝缘电阻值应符合 8. 3 中规定的要求 ;

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　　2) 通过记录 容 器 中 压 力 的 变 化 , 容 器 中 压 力 不 应 发 生 变 化 , 表 明 探 测 器 样 品 密 封 性 符 合要求 ;

　　3) 在第 2 阶段末期 ,按 8. 6 的规定进行有限的静态响应试验 ,试验结果应正常 。

　　试验结束后在正常大气条件下对探测器样品进行下述测量 :

　　— 按 8. 3 的规定测量绝缘电阻 ,测量的绝缘电阻值应符合 8. 3 中规定的要求 ;

　　— 按 8. 4 的规定进行静态响应试验 ,试验结果应符合 8. 4 中规定的要求 。

　　9. 3 自然试验

　　该试验的目的是当探测器本身电阻消耗的功率等于制造商预定的最大值时 ,检验探测器的准确度 。把探测器样品置入到 8. 4 中使用的冰点槽中 。

　　使探测器电阻中电流达到额定电流范围的上限值(或称为保持要求准确度时的最大电流值) 。

　　在温度保持 30 min后测量探测器样品的电阻值 ,测量结果应符合 8. 4 中规定的要求 。

　　9. 4 过电流试验

　　该试验用来检验探测器的坚固性 。

　　在正常大气条件下进行试验 ,使探测器样品通过规定的最大允许电流(能够承受而不损坏敏感元件的电流值) ,持续 15 min。

　　试验结束后 ,按 8. 5 的规定对探测器样品进行单点静态响应试验 ,试验结果应符合 8. 5 中规定的要求 。

　　9. 5 密封性试验

　　该试验适用于探测器头部 ,包括有探测器的连接插头和连接电缆 , 即探测器配置有专用的配套连接组件(见 7. 3. 1) 。

　　在正常大气条件下进行试验 ,在探测器样品头部连接好连接插头和连接电缆 。

　　将探测器样品置入在相对压力为 0. 5 MPa、5%氯化钠溶液中 ,试验的持续时间为 1 h。

　　试验期间探测器样品不通电 。

　　试验完后不断开连接插头 ,立即按 8. 3 的规定测量探测器样品的绝缘电阻 ,测量的绝缘电阻值应符合 8. 3 中规定的要求 。

　　10 评价设备性能随时间变化的试验

　　10. 1 热老化试验

　　该试验的目的是模拟热(环境)老化对探测器的影响 。

　　对于 K1类电阻温度探测器,热老化试验的时间 τ和温度θ按照下面的规定执行 :

　　— 基准值 :950 h 和 135 ℃ ;

　　— 对于任何不同于 135 ℃的试验温度 θ,试验时间 τ应按式(1)计算 :

　　τ= 950× 2[(135-θ)/10] …………………………( 1 )

　　式中 :

　　τ— 放置探测器样品的试验箱内温度保持恒定的时间 ,单位为小时(h) ,不少于 100 h;

　　θ— 试验温度 ,单位为摄氏度( ℃) 。

　　放置=、,,τT(中)1,197(持续)—时200(间)7τ5(9)54(0).. 1(或)说(者)明(将)的(探)阿(测)伦(器)钮(样)斯(品)

　　10

　　GB/T 25838—2010

　　定律进行 。

　　试验期间探测器样品不通电 。

　　试验结束后 ,在正常大气条件下对探测器样品进行下述测量和检查 :

　　— 按 8. 3 的规定测量绝缘电阻 ,测量的绝缘电阻值应符合 8. 3 中规定的要求 ;

　　— 按 8. 5 的规定进行单点静态响应试验 ,试验结果应符合 8. 5 中规定的要求 ;

　　— 按 8. 7 的规定进行响应时间试验 ,试验结果应符合 8. 7 中规定的要求 。

　　10. 2 交变湿热试验

　　将探测器样品放置在高低温湿热试验箱中 ,按照 GB/T 2423. 4—2008第 4章和第 5 章中规定的条件和方法进行交变湿热试验(循环湿热试验) ,采用的条件是 :

　　— 高温温度 :55 ℃ ;

　　— 相对湿度 :95% ;

　　— 试验循环次数 :2 次 ,每次(12+12)h。

　　试验期间探测器样品不通电 。

　　试验结束后 ,在正常大气条件下 ,经辅助干燥恢复 2 h后 ,对探测器样品进行下述测量 :

　　— 按 8. 3 的规定测量绝缘电阻 ,测量的绝缘电阻值应符合 8. 3 中规定的要求 ;

　　— 按 8. 5 的规定进行单点静态响应试验 ,试验结果应符合 8. 5 中规定的要求 。

　　10. 3 长期运行试验

　　该试验用来验证被测温度的大幅度变化对探测器功能特性的影响 。

　　使其中浸入有探测器样品的流体的温度呈现由下面定义的齿槽形曲线变化 :

　　— 周期值至少等于探测器信号达 90%时响应时间(见 8. 7)的 10倍 ;

　　— 低温平台等于(23±20) ℃ ;

　　— 高温平台等于(Th±20) ℃ ;

　　— 齿槽形曲线的上升时间和下降时间小于周期值的 1/10;

　　— 循环次数 :500;

　　— 占空比 :50% 。

　　高温平台 Th按照探测器测量范围上限而定 。例如 ,在测量范围为(0~ 350) ℃ 、(0~ 400) ℃时 ,取