GB/T 4335-2013 低碳钢冷轧薄板铁素体晶粒度测定法

　　ICS 77. 040.99 H 24

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 4335—2013代替 GB/T 4335—1984

　　低碳钢冷轧薄板铁素体晶粒度测定法

　　Determination offerritegrain size forcold rolled low carbon steelsheets

　　2013-12-17发布 2014-09-01实施

　　中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会

　　

　　发

　　

　　布

　　GB/T 4335—2013

　　前 言

　　本标准按照 GB/T 1. 1—2009给出的规则起草 。

　　本标准是对 GB/T 4335—1984《低碳钢冷轧薄板铁素体晶粒度测定法》的修订 。

　　本标准与 GB/T 4335—1984相比 ,主要技术内容变化如下 :

　　a) 修改了标准英文名称 ;

　　b) 扩大了标准适用范围 ;

　　c) 增加了规范性引用文件 ;

　　d) 修改了术语和定义 ;

　　e) 修改了晶粒延伸度的测定方法 ;

　　f) 修改 了 表 1 中 的 数 据 , 删 除 表 1 中 - 2 级 和 - 3 级 晶 粒 度 的 相 关 数 据 , 增 加 了 13级 、14级 、 15级和各个晶粒度级别半级的相关数据 ;

　　g) 修改了第三标准评级图适用的晶粒延伸度范围 ;

　　h) 增加了表 2 中 500倍放大倍数与基准放大倍数(100倍)的晶粒度换算值 ;

　　i) 增加了不同放大倍数与基准放大倍数 100倍的晶粒度级别的换算公式 ;

　　j) 把 “切割法 ”改为了 “三圆截点法 ”;

　　k) 增加了“6 试验报告 ”;

　　l) 增加了三个系列的晶粒度级别为 9级的标准评级图片 ;

　　m) 调整了标准评级图谱的位置 , 以附录 A(规范性附录)的形式给出 ;

　　n) 增加了 “附录 B 显微晶粒度的各种计算公式(资料性附录) ”。

　　本标准由中国钢铁工业协会提出 。

　　本标准由全国钢标准化技术委员会(SAC/TC183)归 口 。

　　本标准主要起草单位 : 武汉钢铁(集团)公司 、首钢技术研究院 、冶金工业信息标准研究院 。

　　本标准主要起草人 :张萍 、陈士华 、栾燕 、孙宜强 、何明文 、吴立新 。

　　Ⅰ

　　GB/T 4335—2013

　　低碳钢冷轧薄板铁素体晶粒度测定法

　　1 范围

　　本标准规定了低碳钢冷轧薄板的铁素体晶粒度的术语和定义 、试样及制备 、测定方法 、试验报告等 。

　　本标准适用于测定含碳量小于 0. 2%的低碳钢冷轧薄板的铁素体晶粒度 , 晶粒形状与本标准系列评级图相似的其他金属材料的晶粒度测定也可参照本标准执行 。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。凡是注 日期的引用文件 ,仅注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注日期的引用文件 ,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 。

　　GB/T 6394—2002 金属平均晶粒度测定法

　　GB/T 13298 金属显微组织检验方法

　　GB/T 24177—2009 双重晶粒度表征与测定方法

　　3 术语和定义

　　下列术语和定义适用于本文件 。

　　3. 1

　　晶粒度 grain size

　　晶粒大小的量度 ,可 以 用 晶 粒 度 级 别 、晶 粒 平 均 直 径 d、平 均 截 距 l、晶 粒 平 均 截 面 积 a 等 量 来表示 。

　　3.2

　　显微晶粒度级别 G micro-grain sizenumberG

　　在 100倍下 645. 16 mm2 面积内包含的晶粒个数 N 与 G 有如下关系 :

　　N = 2G-1 …………………………( 1 )

　　表 1 给出了显微晶粒度各数值之间的关系 。

　　表 1 显微晶粒度各数值之间的关系

　　显微晶粒度级别

　　G

　　每平方毫米内晶粒数

　　n

　　1/mm2 (1×)

　　晶粒平均截面积a

　　2

　　μm

　　平 均直径d

　　μm

　　平 均截距l

　　μm

　　每毫米内截点数

　　p

　　1/mm

　　-1

　　3. 88

　　258064

　　508. 0

　　452. 5

　　2. 21

　　0

　　7. 75

　　129032

　　359. 2

　　320. 0

　　3. 12

　　0. 5

　　10. 96

　　91 239

　　302. 1

　　269. 1

　　3. 72

　　1

　　15. 50

　　64 516

　　254. 0

　　226. 3

　　4. 42

　　1. 5

　　21. 92

　　45 620

　　213. 6

　　190. 3

　　5. 26

　　1

　　GB/T 4335—2013

　　表 1 (续)

　　显微晶粒度级别

　　G

　　每平方毫米内晶粒数

　　n

　　1/mm2 (1×)

　　晶粒平均截面积a

　　2

　　μm

　　平 均直径d

　　μm

　　平 均截距l

　　μm

　　每毫米内截点数

　　p

　　1/mm

　　2

　　31. 00

　　32 258

　　179. 6

　　160. 0

　　6. 25

　　2. 5

　　43. 84

　　22 810

　　151. 0

　　134. 5

　　7. 43

　　3

　　62. 00

　　16 129

　　127. 0

　　113. 1

　　8. 84

　　3. 5

　　87. 68

　　11 405

　　106. 8

　　95. 1

　　10. 51

　　4

　　124. 00

　　8 065

　　89. 8

　　80. 0

　　12. 50

　　4. 5

　　175. 36

　　5 703

　　75. 5

　　67. 3

　　14. 87

　　5

　　248. 00

　　4 032

　　63. 5

　　56. 6

　　17. 68

　　5. 5

　　350. 73

　　2 851

　　53. 4

　　47. 6

　　21. 02

　　6

　　496. 00

　　2 016

　　44. 9

　　40. 0

　　25. 00

　　6. 5

　　701. 45

　　1 426

　　37. 8

　　33. 6

　　29. 73

　　7

　　992. 00

　　1 008

　　31. 8

　　28. 3

　　35. 36

　　7. 5

　　1 402. 9

　　713

　　26. 7

　　23. 8

　　42. 04

　　8

　　1 984. 0

　　504

　　22. 5

　　20. 0

　　50. 00

　　8. 5

　　2 805. 8

　　356

　　18. 9

　　16. 8

　　59. 46

　　9

　　3 968. 0

　　252

　　15. 9

　　14. 1

　　70. 71

　　9. 5

　　5 611. 6

　　178

　　13. 3

　　11. 9

　　84. 09

　　10

　　7 936. 0

　　126

　　11. 2

　　10. 0

　　100. 0

　　10. 5

　　11 223. 2

　　89. 1

　　9. 4

　　8. 4

　　118. 9

　　11

　　15 872. 0

　　63. 0

　　7. 9

　　7. 1

　　141. 4

　　11. 5

　　22446. 4

　　44. 6

　　6. 7

　　5. 9

　　168. 2

　　12

　　31 744. 1

　　31. 5

　　5. 6

　　5. 0

　　200. 0

　　12. 5

　　44 892. 9

　　22. 3

　　4. 7

　　4. 2

　　237. 8

　　13

　　63488. 1

　　15. 8

　　4. 0

　　3. 5

　　282. 8

　　13. 5

　　89 785. 8

　　11. 1

　　3. 3

　　3. 0

　　336. 4

　　14

　　126 976. 3

　　7. 9

　　2. 8

　　2. 5

　　400. 0

　　14. 5

　　179 546. 8

　　5. 6

　　2. 4

　　2. 1

　　476. 2

　　15

　　253 917. 5

　　3. 9

　　2. 0

　　1. 7

　　588. 2

　　15. 5

　　359093. 6

　　2. 8

　　1. 7

　　1. 5

　　666. 7

　　3.3

　　晶粒延伸度 e grain extensibilitye

　　在二维平面中表征晶粒特征的长宽比 。可以按公式(2)测定晶粒伸长的程度 :

　　2

　　GB/T 4335—2013

　　e …………………………( 2 )

　　式中 :

　　e — 晶粒延伸度 ;

　　n1— 与晶粒的伸长方向相垂直的一定长度的测量线段上的截点数 ;

　　n2— 与晶粒的伸长方向相平行的同一长度的测量线段上的截点数 。

　　4 试样及制备

　　4. 1 取样部位

　　试样应在交货状态材料上切取 ,在钢板宽度的 1/2处取样 ,也可在距侧边约 50 mm 处或按相关技术条件规定取样 。

　　4.2 取样方法

　　试样用冷加工如冲 、切 、剪 、锯等的方法切取 ,检验时 ,必须通过粗磨将冷加工变形层去除 。

　　4.3 取样方向

　　无特殊规定时 ,纵向(即平行于钢板的轧制方向)取样 ,试样的磨面为与钢板的轧制方向平行的厚度截面 。

　　4.4 试样尺寸

　　推荐试样尺寸为 :

　　长度约 10 mm ,宽度为钢板的厚度 。

　　4.5 试样制备

　　按 GB/T 13298制备并浸蚀试样 。

　　5 测定方法

　　晶粒度的测定方法有比较法和截点法两种 。一般采用比较法 ,仲裁时采用截点法 。

　　5. 1 比较法

　　5. 1. 1 试样制好后 ,在 100倍的显微镜下观察 。测定时 ,在显微镜下将试样作全面观察 ,选取代表性视场并将该视场的晶粒组织图像与附录 A 中的标准评级图进行比较 ,选取与检测图像最接近的标准评级图级别 ,记录评定结果 。

　　5. 1.2 标准评级图中的第一标准评级图是晶粒延伸度约等于 1 的图谱 ;第二标准评级图是晶粒延伸度约等于 2 的图谱 ;第三标准评级图是晶粒延伸度约等于 3 的图谱 ,分别用 Ⅰ 、Ⅱ 、Ⅲ表示 。评定时 ,应记下图谱的系列号和晶 粒 度 级 别 。 例 如 , 当 所 观 察 试 样 的 晶 粒 与 第 三 标 准 评 级 图 中 的 6 级 相 当 时 , 记Ⅲ6级 ,表示延伸度约等于 3, 晶粒度为 6级 。如果晶粒延伸度介于两个系列标准评级图之间 ,可表示为Ⅰ ~ Ⅱ或 Ⅱ ~ Ⅲ 。

　　5. 1.3 如所观察到的晶粒度在相邻两个晶粒度级别之间 ,可用半级表示 。

　　5. 1.4 当基准放大倍数(100倍)不能满足需要时 ,可用其他放大倍数进行评定 。若采用放大倍数 M 进行评定 ,将放大倍数 M 的待测晶粒图像与基准放大倍数 100倍的评级图片比较 ,评出的晶粒度级别为

　　3

　　GB/T 4335—2013

　　G′,其晶粒度级别 G 按式(3)计算 :

　　G =G′+ 6. 643 9lg …………………………( 3 )

　　也可以用表 2进行换算 。

　　表 2 不同放大倍数与基准放大倍数(100倍)的晶粒度换算关系

　　图象

　　放大倍数

　　晶粒度级别

　　100

　　-1

　　0

　　1

　　2

　　3

　　4

　　5

　　6

　　7

　　8

　　9

　　10

　　11

　　12

　　13

　　14

　　50

　　1

　　2

　　3

　　4

　　5

　　6

　　7

　　8

　　9

　　200

　　1

　　2

　　3

　　4

　　5

　　6

　　7

　　8

　　9

　　300

　　1

　　2

　　3

　　4

　　5

　　6

　　7

　　8

　　9

　　400

　　1

　　2

　　3

　　4

　　5

　　6

　　7

　　8

　　9

　　500