GB/T 44921-2024 铸件 工业计算机射线照相检测

　　ICS 77. 140. 80 CCS J 31

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 44921—2024

　　铸件 工业计算机射线照相检测

　　Casting—Industrialcomputerradiographictesting

　　2024-11-28发布 2025-06-01实施

　　国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

　　

　　发

　　

　　布

　　GB/T 44921—2024

　　目 次

　　前言 Ⅲ

　　1 范围 1

　　2 规范性引用文件 1

　　3 术语和定义 1

　　4 符号 3

　　5 订货信息 4

　　6 计算机射线照相技术分级 4

　　7 一般要求 4

　　8 检测技术 6

　　9 图像评定 21

　　10 检测记录和报告 22

　　附录 A (规范性) 归一化信噪比的确定 23

　　附录 B (规范性) 图像最低像质值 24

　　附录 C (规范性) 最小灰度值的确定 28

　　附录 D (规范性) 基本空间分辨率的确定 31

　　附录 E (资料性) 环形铸件最少透照次数的确定 34

　　Ⅰ

　　GB/T 44921—2024

　　前 言

　　本文件按照 GB/T 1. 1—2020《标准化工作导则 第 1部分 :标准化文件的结构和起草规则》的规定起草 。

　　请注意本文件的某些内容可能涉及专利 。本文件的发布机构不承担识别专利的责任 。

　　本文件由全国铸造标准化技术委员会(SAC/TC54)提出并归 口 。

　　本文件起草单位 : 中国机械总院集团沈阳铸造研究所有限公司 、安徽扬天金塑新能源装备有限公司 、上海宝钺新材料技术有限公司 、兰州瑞奇戈德测控技术有限公司 、兰州兰石检测技术有限公司 、上海万泽精密铸造有限公司 、洛阳双瑞精铸钛业有限公司 、苏州派登斯仪器设备有限公司 、深海精密 科 技 (深圳)有限公司 、浙江遂金特种铸造有限公司 、浙江机电职业技术学院 、浙江东新动力有限公司 、江苏万恒新材料科技有限公司 、中车齐齐哈尔车辆有限公司 、中车长春轨道客车股份有限公司 、中铁宝桥集团有限公司 、宝钛集团有限公司 、重庆日联科技有限公司 、南京华建检测技术有限公司 、中信戴卡股份有限公司 、缙云县克力尔检测器材有限公司 、富士胶片(中国)投资有限公司 、烟台恒邦泵业有限公司 、内蒙古自治区特种设备检验研究院包头分院 、山东隆基机械股份有限公司 、山东浩信股份有限公司 、铜陵学院 、中国兵器科学研究院宁波分院 、泰钢合金(中山)有限公司 、常州萨伟利铸造技术有限公司 、贵州航天风华精密设备有限公司 、河南华探检测技术有限公司 、哈尔滨鑫润工业有限公司 、江苏凯特汽车部件有限公司 、哈尔滨九洲集团股份有限公司 、成都润博科技有限公司 、泊头市亚奇铸业有限公司 、广东中天创展球铁有限公司 、广东鸿图科技股份有限公司 、四维尔丸井(广州)汽车零部件有限公司 、浙江大隆新材料股份有限公司 、三明市毅君机械铸造有限公司 、广东鸿图南通压铸有限公司 、江西智强紧固件有限公司 、中车戚墅堰机车车辆工艺研究所股份有限公司 、钛玛科(北京)工业科技有限公司 、重庆市长寿湖船艇制造有限公司 。

　　本文件主要起草人 :李兴 捷 、孙 春 贵 、董 文 博 、孙 忠 诚 、陈 凯 敏 、邵 天 、靳 怀 卫 、王 传 、蒋 春 宏 、徐 旭 、陆敏 、张彦飞 、齐兵 、徐刘龙 、杨龙 、官仁发 、傅滨 、张建雄 、潘荣国 、张志峰 、曹峤 、宋全知 、田勐 、王汉超 、晁翔 、叶俊超 、胡斌定 、黄德海 、张福旺 、刘军 、卢旗锋 、袁观君 、王红光 、于涵 、张震 、朱正锋 、李新越 、孟鑫 、刘振东 、逄帅 、吕继贤 、徐礼锋 、张立君 、孙志标 、张培根 、杨明军 、胡宽明 、彭永杰 、高亚龙 、李萍 、王恩刚 、吕国来 、周明军 、郭兴春 、柯志敏 、闫锋 、黄军元 、俞成 、刘渊毅 、方中华 、蒋田芳 、杨牧 、陈干言 。

　　Ⅲ

　　GB/T 44921—2024

　　铸件 工业计算机射线照相检测

　　1 范围

　　本文件规定了铸件采用存储磷光成像板(IP)的工业计算机 X射线和 γ射线照相检测技术分级 、一般要求 、检测技术 、图像评定 、检测记录和报告 。

　　本文件适用于铸钢 、铸铁 、铜及铜合金 、镍及镍合金 、镁及镁合金 、铝及铝合金 、钛及钛合金等材料铸件的工业计算机射线照相检测 ,其他铸件参照使用 。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款 。其中 , 注 日期的引用文件 ,仅该日期对应的版本适用于本文件 ;不注日期的引用文件 ,其最新版本(包括所有的修改单) 适用于本文件 。

　　GB/T 5677 铸件 射线照相检测

　　GB/T 9445 无损检测 人员资格鉴定与认证

　　GB/T 12604. 2 无损检测 术语 射线照相检测

　　GB 18871 电离辐射防护与辐射源安全基本标准

　　GB/T 21355—2022 无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测 系统分类GB/T 21356 无损检测 计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法

　　GB/T 23901. 1 无损检测 射线照相检测图像质量 第 1部分 :丝型像质计像质值的测定

　　GB/T 23901. 2 无损检测 射线照相检测图像质量 第 2部分 : 阶梯孔型像质计像质值的测定

　　GB/T 23901. 5 无损检测 射 线 照 相 检 测 图 像 质 量 第 5 部 分 : 双 丝 型 像 质 计 图 像 不 清 晰 度 的测定

　　GB/T 23910 无损检测 射线照相检测用金属增感屏

　　GB/T 25758(所有部分) 无损检测 工业 X射线系统焦点特性

　　GB/T 39427 无损检测 工业 Ir192伽玛射线源尺寸测定方法

　　GBZ 98 放射工作人员健康要求及监护规范

　　GBZ 117 工业探伤放射防护标准

　　3 术语和定义

　　GB/T 12604. 2 界定的以及下列术语和定义适用于本文件 。

　　3. 1

　　计算机射线照相系统 computed radiography system;CR

　　由存储磷光成像板(IP)和相应的信息读出单元(扫描仪或读出器) 及系统软件等组成的将 IP上的信息转换成数字图像的系统 。

　　3.2

　　存储磷光成像板 storagephosphor imagingplate;IP

　　一种可吸收和存储被检测物体穿透射线信息并形成潜在图像的光致发光的磷光材料 。

　　1

　　GB/T 44921—2024

　　3.3

　　灰度值 grey value

　　GV

　　数字图像中像素的数值 。

　　注 : 又称为 “像素灰度值 ”。

　　3.4

　　CR 系统基本空间分辨率 basicspatialresolution ofaCR system

　　SRb(d)etector

　　将双丝像质计放置在 IP板上曝光 ,采集的数字图像中测量的不清晰度值的 1/2。

　　3.5

　　数字图像空间分辨率 spatialresolution ofa digitalimage

　　SRb(im)age

　　将双丝像质计放置在工件上的射线源侧曝光 ,采集的数字图像中测量的不清晰度值的 1/2。 3.6

　　信噪比 signal-to-noiseratio

　　SNR

　　数字图像指定区域内 ,线性灰度值的平均值与标准差的比值 。

　　3.7

　　归一化信噪比 normalized signal-to-noiseratio

　　SNRN

　　图像信噪比的测量值被空间分辨率归一化处理后的值 。

　　注 : 通过测量数字图像的信噪比 SNR 和空间分 辨 率 SRb来 计 算(SRb可 以 是 SRb(d)etector或 SRb(im)age) ,SNRN = SNR×

　　(88. 6/SRb ) 。

　　3. 8

　　公称厚度 nominalthickness

　　t

　　母材的公称壁厚(不包括偏差) 。

　　3.9

　　透照厚度 penetrated thickness

　　w

　　射线透照方向上的材料公称厚度 。

　　3. 10

　　源尺寸 sourcesize

　　d

　　放射源尺寸或射线管焦点尺寸 。

　　3. 11

　　工件至 IP距离 object-to-IP distance

　　b

　　沿射线束中心线测出的射线源侧被检工件表面至 IP表面的距离 。

　　3. 12

　　射线源至 IP距离 source-to-IP distance

　　F

　　沿射线束中心线测出的射线源至 IP表面的距离 。

　　2

　　GB/T 44921—2024

　　注 : 见公式(1) 。

　　F = f+ b …………………………( 1 )

　　式中 :

　　f— 射线源至工件的距离(3. 13) ;

　　b — 工件至 IP 的距离(3. 11) 。

　　3. 13

　　射线源至工件距离 source-to-objectdistance

　　f

　　沿射线束中心线测出的射线源至射线源侧被检工件表面的距离 。

　　3. 14

　　几何放大倍数 geometricmagnification

　　v

　　射线源至 IP距离(3. 12)与射线源至工件距离(3. 13)的比值 。

　　4 符号

　　表 1所列符号适用于本文件 。

　　表 1 符号和说明

　　符号

　　说明

　　b

　　工件至 IP距离

　　CR

　　计算机射线照相系统

　　d

　　射线源尺寸或射线管焦点尺寸

　　f

　　射线源至工件距离

　　GV

　　灰度值

　　GVmin

　　最小灰度值

　　IP

　　存储磷光成像板

　　K

　　透照厚度比

　　F

　　射线源至 IP距离

　　SNR

　　信噪比

　　SNRN

　　归一化信噪比

　　SRb

　　基本空间分辨率 ,根据使用环境可以是系统基本空间分辨率或数字图像空间分辨率

　　SRb(d)etector

　　系统基本空间分辨率

　　SRb(im)age

　　数字图像空间分辨率

　　t

　　公称厚度

　　Ug

　　几何不清晰度

　　Ui

　　固有不清晰度 ,将双丝型像质计直接放置于 IP表面 ,在获得的数字图像上测量

　　UT

　　总图像不清晰度 ,包括几何不清晰度和固有不清晰度 ,将双丝型像质计放置在工 件 表 面 ,在 获得的数字图像上测量

　　3

　　GB/T 44921—2024

　　表 1 符号和说明 (续)

　　符号

　　说明

　　Uim

　　图像不清晰度 ,将双丝型像质计直接放置在源侧工件表面 ,在获得的数字图像上测量

　　v

　　几何放大倍数

　　w

　　透照厚度

　　5 订货信息

　　5. 1 结构复杂铸件中的无法检测区域 ,合同双方在检测前协商确定 ,并在透照工艺文件中注明 。

　　5.2 在双方合同中明确下列涉及检测的内容 :

　　a) 检测时机 ;

　　b) 表面状况 ;

　　c) 检测范围和区域 ;

　　d) 检测标准 、技术等级 ;

　　e) 透照布置图 ;

　　f) 铸件上检测区域的标识 ;

　　g) 图像的标记 ;

　　h) 图像质量要求 ;

　　i) 验收标准 ;

　　j) 任何特殊要求 ,如检测缺陷的最小尺寸等 。

　　5.3 初始检测验收后进行复检 ,若发生以下情况 ,则不按复检的结果判定 。

　　a) 复检方法或工艺与合同规定不同 ;

　　b) 经过机加透照厚度减少 50%或以上 。

　　6 计算机射线照相技术分级

　　6. 1 射线照相技术分为两个等级 :

　　—A级 :基本技术 ;

　　—B级 :优化技术 。

　　6.2 射线照相技术等级选择应符合相关标准 、设计图样 、技术条件的规定 。在无特殊要求时 ,一般应选用 A级技术 。A级技术不能满足检测要求时 ,应选用 B级技术 。

　　6.3 本文件的 A级 、B级技术与 GB/T 5677胶片射线照相检测的 A级 、B级技术具有等效性 。应采用GB/T 23901. 1、GB/T 23901. 2、GB/T 23901. 5 规定的像质计验证 。

　　6.4 当由于技术或结构原因 ,不能满足 B 级规定的透照条件时(例如射线源类型 、射线源至工件距离等) ,经合同双方商定 ,可选用 A级规定的透照条件 ,采取有效补偿措施 (如增加曝光量或选用更高信噪比的 CR 系统) ,若补偿后检测图像质量达到了 B级技术的规定 ,可认为铸件按 B级技术检测 。

　　7 一般要求

　　7. 1 检测人员

　　7. 1. 1 检测人员的资质应符合 GB/T 9445或其他相关标准要求 ,通过数字射线检测技术培训考核 ,并

　　4

　　GB/T 44921—2024

　　从事与其等级要求相符的工作 。

　　7. 1.2 检测人员的健康应符合 GBZ 98的规定 ,上岗前应进行辐射安全知识的培训考核 。

　　7.2 CR 系统

　　7.2. 1 CR 系统应按 GB/T 21355或 GB/T 21356进行系统性能测试 ,满足规定要求 。

　　7.2.2 系统性能校验周期不超过 12个月 ,存在如下情况应进行校验 :

　　a) 系统有改变时 ;

　　b) 系统和图像质量有明显异常时 ;

　　c) 系统停止使用超过 3个月后 ,重新使用时 。

　　7.3 增感屏

　　增感屏应符合 GB/T 23910的要求 ,应平整 、无划伤 、无污物 。

　　7.4 像质计

　　7.4. 1 采用的像质计包括丝型 、阶梯孔型 、双丝型像质计 , 其型号和规格应分 别 符 合 GB/T 23901. 1、 GB/T 23901. 2、GB/T 23901. 5 的规定 。

　　7.4.2 丝型像质计或阶梯孔型像质计用于图像的灵敏度测定 ,像质计材料的吸收系数应接近或等同于被检材料的吸收系数 。

　　7.4.3 双丝型像质计用于测量 IP和图像的空间分辨率 。

　　7.5 射线防护

　　射线照相的辐射防护应遵守 GB 18871、GBZ 117及相关安全防护的规定 。

　　7.6 工艺文件

　　7.6. 1 除非协议或合同中有特殊规定 ,否则应按工艺文件进行检测 ,合同双方应商定工艺文件的具体要求 。工艺文件包括工艺规程和操作指导书 。

　　7.6.2 工艺规程中至少应包含如下内容 :

　　a) 适用范围 ;

　　b) 依据的标准 、法规及其他技术文件 ;

　　c) 检测人员资格要求 ;

　　d) 检测设备(型号 、主要技术参数等) 、CR 系统(IP型号 、扫描仪型号 、主要技术参数等) ;

　　e) 像质计类型及使用 ;

　　f) 增感屏的选择 ;

　　g) 检测标准 、验收标准 、验收级别 ;

　　h) 技术等级 ;

　　i) 射线能量的选择 ;

　　j) 透照方式 ;

　　k) 透照工艺参数 ;

　　l) 散射线的控制 ;

　　m) 图像处理参数 ;

　　n) 图像质量要求 :不清晰度 、灵敏度 、归一化信噪比或灰度值等 ;

　　o) 图像显示与评定 ;

　　p) 检测记录和报告 ;

　　5

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　　q) 系统测试 。

　　7.6.3 首次使用的操作指导书应进行工艺验证 , 以验证图像质量是否能够达到标准规定的要求 。操作指导书中应至少包含如下内容 :

　　a) 铸件名称 、编号 、材质 、热处理状态 、检测部位 、表面状态 、检测时机 ;

　　b) 射线机(型号 、射线源尺寸) 、CR 系统(IP型号 、扫描仪型号 、主要技术参数等) ;

　　c) 检测标准 、验收标准 、验收级别 ;

　　d) 技术等级 ;

　　e) 像质计类型和型号 ;

　　f) 增感屏的厚度和类型 ;

　　g) 透照方式及布置 ;

　　h) 透照工艺参数 :射线能量 、曝光量 、透照几何参数等 ;

　　i) 屏蔽方式 ;

　　j) 图像处理参数 ;

　　k) 图像质量要求 :不清晰度 、灵敏度 、归一化信噪比或灰度值 、标记等 ;

　　l) 图像显示与评定 。

　　8 检测技术

　　8. 1 铸件表面处理和检测时机

　　8. 1. 1 铸件表面应去除任何可能遮盖或混淆铸件内部缺陷的状态 ,清除铸件上影响图像中缺陷影像辨认的多余物 。

　　8. 1.2 检测时机应在订货合同中规定或在订货信息中明确 。若无特殊规定时 ,宜选择热处理前 、热处理后 、交货状态下进行 。

　　8.2 透照方式

　　8.2. 1 一般规定

　　8.2. 1. 1 根据铸件的结构特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式 ,应优先选用单壁透照方式 ,在单壁透照不能实施的情况下 ,才可以采用双壁透照方式 。

　　8.2. 1.2 若条件允许 , 曲面铸件应优选图 3、图 4 内透照方式 , 以获得更佳的透照方向 。

　　8.2. 1.3 按图 5 透照方式 ,在满足灵敏度和不清晰度要求的前提下 ,放射源靠近被检表面 。

　　8.2. 1.4 外径小于 100 mm 环形铸件 ,可按图 6使用双壁双影透照方法 ,每隔 120°或 60°曝光一次 。若几何形状造成其他方式难以应用或者为了获得更好的灵敏度 ,可按图 7使用双壁双影透照方法 ,但应确保图像质量满足要求 。

　　8.2. 1.5 按图 6、图 7透照方式 ,缺陷应按单壁的厚度分级 ,壁厚不同时 ,参照较小的壁厚 。

　　8.2. 1.6 除非获得其他许可 ,复杂几何形状按图 8~ 图 12透照方式 。

　　8.2.2 平面铸件单壁透照

　　射线源位于被检铸件前侧 ,IP位于另一侧 ,见图 1。

　　6

　　GB/T 44921—2024

　　标引符号说明 :

　　1— 放射源 ; 2— 被检工件 ; 3—IP板 ;

　　f— 射线源至工件的距离 ; t— 公称厚度 ; b— 工件至 IP 的距离 ; w— 透照厚度 。

　　图 1 平面铸件单壁透照布置

　　8.2.3 曲面铸件单壁外透照

　　射线源位于被检铸件凸面侧 ,IP位于凹面侧 ,见图 2。

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 2 曲面铸件单壁外透照布置

　　8.2.4 曲面铸件单壁内透照

　　射线源位于被检铸件凹面侧 ,IP位于凸面侧 ,见图 3。

　　7

　　GB/T 44921—2024

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 3 曲面铸件单壁内透照布置

　　8.2.5 曲面铸件周向中心透照

　　射线源位于被检铸件圆心 ,IP位于外圆周 ,见图 4。

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 4 曲面铸件周向中心透照布置

　　8.2.6 平面或曲面铸件双壁单影透照

　　射线源与 IP位于被检铸件的两侧 ,见图 5。

　　8

　　GB/T 44921—2024

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 5 平面或曲面铸件双壁单影透照布置

　　8.2.7 平面或曲面铸件双壁双影透照

　　射线源与 IP位于被检铸件的两侧 ,分段或整体曝光分别见图 6、图 7。

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 6 平面及曲面铸件双壁双影透照布置(分段曝光)

　　9

　　GB/T 44921—2024

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 7 平面及曲面铸件双壁双影透照布置(整体曝光)

　　8.2. 8 复杂几何形状铸件单壁透照

　　复杂几何形状铸件的单壁透照见图 8~ 图 12。

　　a) b)标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　注 : b)只有在 a)不能实现时才能使用 。

　　图 8 边缘和法兰铸件透照布置

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　　GB/T 44921—2024

　　a) b)标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　注 : b)只有在 a)不能实现时才能使用 。

　　图 9 肋形铸件透照布置

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 10 十字形铸件透照布置

　　11

　　GB/T 44921—2024

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 11 楔形铸件透照布置

　　标引符号说明 :

　　— 放射源 ; —IP板 ; — 被检工件 。

　　图 12 肋形和支撑结构铸件透照布置

　　8.3 射线能量的选择

　　8.3. 1 管电压 1000kV 以下的 X 射线机

　　8.3. 1. 1 在保证 穿 透 铸 件 的 前 提 下 , 采 取 较 低 的 管 电 压 , 推 荐 的 材 料 透 照 厚 度 与 最 高 管 电 压 选 择 见图 13。

　　8.3. 1.2 采用 A级技术检测或使用细粒度成像板时 ,透照管电压可使用图 13限值或更高值 ;采用 B 级技术检测或使用粗粒度成像板时 ,透照管电压宜将图 13限值降低 20%左右 。

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　　GB/T 44921—2024

　　标引序号说明 :

　　1— 铜 、镍及其合金 ; 2— 钢或铁 ; 3— 钛及钛合金 ;

　　4— 铝及铝合金 ; w— 透照厚度 ,mm; U—X射线电压 ,kV。

　　图 13 推荐的不同透照厚度允许的 X 射线最高透照管电压

　　8.3. 1.3 检测截面厚度变化较大铸件时 ,可以将规定的管电压适当提高 ,若一次曝光成像不同厚度 ,宜使用这些厚度的平均值 。

　　8.3.2 γ 射线源和 1 MeV 以上 X 射线设备

　　8.3.2. 1 γ射线源和 1 MeV 以上 X射线设备所允许的透照厚度范围见表 2。

　　8.3.2.2 采用 Ir192时 ,最小透照厚度可降至 10 mm;采用 Se75时 ,最小透照厚度可降至 5 mm。

　　8.3.2.3 对较薄的钢铸件 ,Se75、Ir192、Co60等 γ射线数字图像的缺陷检出灵敏度不如 X射线 ,但由于γ射线源有操作方便 、易于接近被检部位等优点,当使用 X射线机有困难时 ,可在表 2 给出的透照厚度范围内使用 γ射线源 。

　　8.3.2.4 在某些特定的应用场合 ,只要能够获得高的图像质量 ,也允许将透照厚度范围放宽 。

　　8.3.2.5 使用 IP进行 γ射线照相检测时 ,射线源输送到位的往返时间不应超过总曝光时间的 10% 。

　　表 2 γ 射线源和 1 MeV 以上 X 射线设备透照厚度范围(钢、铁、铜及镍基合金等)

　　射线源

　　透照厚度 w/mm

　　A级

　　B级

　　Tm170

　　≤5

　　≤5

　　Yb169a

　　1~ 15

　　2~ 12

　　Se75b

　　10~ 40

　　14~ 40

　　Ir192

　　20~ 100

　　20~ 90

　　13

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　　表 2 γ 射线源和 1 MeV 以上 X 射线设备透照厚度范围(钢、铁、铜及镍基合金等) (续)

　　射线源

　　透照厚度 w/mm

　　A级

　　B级

　　Co60

　　40~ 200

　　60~ 150

　　1 MeV~ 4 MeV X射线

　　30~ 200

　　50~ 180

　　>4 MeV~ 12 MeV X射线

　　≥50

　　≥80

　　>12MeV X射线

　　≥80

　　≥100

　　a 对于铝 、钛 ,允许的透照厚度范围 A级为 10 mm≤w≤70 mm , B级为 25 mm≤w≤55 mm。 b 对于铝 、钛 ,允许的透照厚度范围 A级为 35 mm≤w≤120 mm。

　　8.4 CR 系统和增感屏

　　8.4. 1 最小归一化信噪比

　　8.4. 1. 1 对于 CR检测 ,应达到表 3 和表 4所示的最小 SNRN 值 。 附录 A描述了 SNRN 的测定过程 ,并为习惯使用非归一化测量 SNR 值而不是归一化信噪比SNRN 值的用户提供了一个转换表 。

　　8.4. 1.2 根据使用的 IP、扫描仪以及参数设置 ,按附录 A确定表 3 和表 4规定的最小 SNRN ,可以采用等效最小灰度值代替最小 SNRN 值 。

　　8.4. 1.3 SNRN 值应在被检铸件厚度和图像灰度值均匀区域测定 ,测定部位应靠近丝型像质计或阶梯孔型像质计 。 由于材料的粗糙度产生的噪声影响图像归一化信噪比 SNRN ,表 3 和表 4 中的值仅为推荐值 。如果图像质量满足附录 B 中表 B. 1~表 B. 5要求 ,则这些值可比表 3 和表 4 的值下降 20% 。

　　8.4. 1.4 附录 C给出了用等效最小灰度值替代所需归一化信噪比 SNRN 的确定方法 。

　　表 3 钢、铁、铜、镍合金 CR检测的最小 SNRN 和前金属增感屏

　　射线能量

　　透照厚度 w/mm

　　最小 SNRN

　　推荐的前金属增感屏类型和厚度

　　mm

　　A级

　　B级

　　X射线 ≤50kV

　　—

　　100

　　150

　　—

　　X射线 c>50kV~ 150 kV

　　70

　　120

　　0~ 0. 1(Pb)

　　X射线 c>150kV~ 250 kV

　　70

　　100

　　0~ 0. 1(Pb)

　　X射线 c>250kV~ 350 kV

　　≤50

　　70

　　100

　　0~ 0. 25(Pb)

　　>50

　　70

　　70

　　0. 1~ 0. 3(Pb)

　　X射线 c>350kV~ 1000 kV

　　≤50

　　70

　　100

　　0. 1~ 0. 3(Pb)

　　>50

　　70

　　70

　　0. 1~ 0. 3(Pb)

　　Yb169c

　　≤5

　　70

　　120

　　0~ 0. 1(Pb)

　　>5

　　70

　　100

　　0~ 0. 1(Pb)

　　Ir192c , Se75c

　　≤50

　　70

　　100

　　0. 1~ 0. 3(Pb)

　　>50

　　70

　　70

　　0. 1~ 0. 4(Pb)

　　14

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　　表 3 钢、铁、铜、镍合金 CR检测的最小 SNRN 和前金属增感屏 (续)

　　射线能量

　　透照厚度 w/mm

　　最小 SNRN

　　推荐的前金属增感屏类型和厚度

　　mm

　　A级

　　B级

　　Co60a, b

　　≤100

　　70

　　100

　　0. 5(Fe) +1. 5(Pb)

　　>100

　　70

　　70

　　0. 5(Fe) +2. 0(Pb)

　　X射线a, b >1 MeV

　　≤100

　　70

　　100

　　0. 5(Fe) +1. 5(Pb)

　　>100

　　70

　　70

　　0. 5(Fe) +2. 0(Pb)

　　a 使用多屏(Fe+Pb)时 ,钢屏应位于 IP和铅屏之间 。

　　b 如果可以保证图像质量 ,也可以使用铜 、钨代替 Fe或 Fe+Pb。

　　c Pb屏可以完全或部分地用 Fe或 Cu屏代替 ,Fe或 Cu 的等效厚度是 Pb屏厚度的 3倍 。

　　表 4 铝、钛合金 CR检测的最小 SNRN 和前金属增感屏

　　射线能量

　　最小 SNRN

　　前金属增感屏类型和厚度/mm

　　A级

　　B级

　　X射线 ≤150kV

　　70

　　120

　　≤0. 03(Pb)

　　X射线 >150kV~ 250 kV

　　70

　　100

　　≤0. 2(Pb) a

　　X射线 >250kV~ 500 kV

　　70

　　100

　　≤0. 2(Pb) a

　　Yb169

　　70

　　100

　　≤0. 15(Pb) a

　　Se75

　　70

　　100

　　≤0. 3(Pb) a

　　a 可以在 IP 暗盒外 ,用 0. 1 mm 铅屏附加 0. 1 mm 滤光板 ,取代 0. 2 mm 的铅屏 。

　　8.4.2 金属增感屏和防护板

　　8.4.2. 1 当使用前金属增感屏时 ,对 IP板采取真空包装袋或施压措施 ,实现 IP和前屏之间紧贴 。铅屏与 IP之间的间隙可能导致图像不清晰度增大 。对于 IP,铅屏的增感作用明显小于胶片 。

　　8.4.2.2 多数 IP对低能量背散射和背散射防护铅板产生的 X射线荧光非常敏感 。这将导致影像边缘不清晰度增加 。 因此 ,宜采用钢或铜防护板放在 IP后屏蔽 ,或者在背散射铅板和 IP之间插入钢或铜防护板 ,提高图像质量 。设计制造暗盒时 ,可将钢或铜防护板直接放入暗盒内 。

　　8.4.2.3 采用高能量射线检测时 , 由于 IP对铅防护的敏感特性 ,增感效果显著降低 ,根据所使用的射线能量和 IP种类 ,增感效果仅为在一定 X射线能量下无金属屏情况的 20% ~ 100% 。

　　8.4.2.4 当不使用铅屏时 ,铅屏所产生的较小增强效应损失 ,可通过增加曝光量来补偿 。在 IP扫描前去除铅屏 ,避免在 IP上产生划痕 ,宜将铅屏放置在暗盒外面 ,滤除散射线 。对于透照厚度小于 12 mm的钢铸件 ,不宜使用铅屏 。

　　8.4.2.5 宜按表 3 和表 4选择使用金属屏的材料和厚度 。在满足图像质量的前提下 ,也可使用其他材料和厚度的金属屏 。宜在 IP前面放置金属屏 。

　　8.5 图像最大不清晰度和基本空间分辨率的选择

　　8.5. 1 CR 系统应提供高质量图像 , 以保证被检铸件中不均匀性的有效检出 。 表 B. 5 规定了根据透照厚度和技术等级 ,要求达到的图像不清晰度和基本空间分辨率值以及最小双丝像质计值 。检测图像不

　　15

　　GB/T 44921—2024

　　应大于表 B. 5 中规定的最大不清晰度和基本空间分辨率值 ,也不应小于所规定的双丝像质计值 。

　　8.5.2 按 GB/T 23901. 5 的 规 定 和 附 录 D 所 测 定 的 不 清 晰 度 值 , 计 算 数 字 图 像 基 本 空 间 分 辨 率(SRb(im)age) 。

　　8.5.3 为确保检测图像对点状缺陷和线状缺陷的有效显示和检出 ,显示点状缺陷中的像素不少于 3 像素 × 3像素 ,显示线状缺陷的像素不少于 2像素 × 6像素 。

　　8.5.4 通过调整检测工艺设计和软硬件参数 ,可改变系统基本空间分辨率 SRb(d)etector。

　　8.5.5 图像基本空间分辨率 SRb(im)age的测量应将双丝型像质计放置在铸件上的射线源侧 。

　　8.6 一次透照最大区域

　　8.6. 1 被检区域的外端与中心射线束的透照厚度比 K 值 ,对于平面铸件 ,A 级 、B级技术 ,K 值不应大于 1. 03。对于曲面 、环形 、复杂结构铸件 ,B级技术 ,K 值不应大于 1. 1,A级技术 ,K 值不应大于 1. 2,环形铸件通过 K 值确定的最少透照次数 N 的图表见附录 E。

　　8.6.2 由透照厚度的改变引起的 SNRN 值变化 ,不应低于表 3 或表 4 规定的 SNRN 值 。 CR 检测应达到的最小灰度值 ,见附录 C。

　　8.7 射线束方向

　　8.7. 1 一般情况下主射线束应对准被检区中心 ,并与被检工件垂直 ;建议优先选择有利于发现缺陷的方向透照 。

　　8.7.2 当受铸件形状结构的限制时 ,入射辐射角不超过 30°,引起的检测图像变形不应影响对缺陷的有效识别和评定 。

　　8. 8 散射线控制

　　8. 8. 1 准直器和金属滤波板

　　为了减少散射线的影响 ,射线束透照时对准被检区域 ,必要时可以安装准直器 。

　　使用 Se-75、Ir-192和 Co-60放射源 ,或存在边蚀散射时 , 可在铸件与 IP之间放置一个铅滤波板滤除散射线 。根据透照厚度不同 ,滤波板的厚度选择为 0. 5 mm~ 2 mm 之间 。在铅滤波板和 IP之间 ,推荐使用一块 0. 5 mm 的钢板或 0. 2 mm 的铜板来屏蔽铅滤波板产生的二次荧光辐射 。

　　8. 8.2 背散射防护

　　初次透照确定曝光参数时 ,应检查背散射 ; 在 IP 暗 盒 后 背 粘 上 一 个 铅 字 “B”(厚 度 ≥1. 5 mm , 高度 ≥10 mm) ,若数字图像上出现低于周围背景灰度的“B”字影像 ,表明背散射防护不足 ,应增加防护铅板的厚度 。若数字图像上出现高于周围背景灰度的 “B”字影像或不出现影像 ,表明背散射防护符合要求 。数字图像上高于周围背景灰度的“B”字影像 ,只要不遮掩数字图像影像或与缺陷混淆 ,数字图像可以使用 。

　　必要时 ,IP后应放置至少 1 mm 厚的铅板或至少 1. 5 mm 厚的锡板 , 防护背散射 。 同时 ,将厚度约0. 5 mm 的钢屏或铜屏放置在铅防护屏和 IP 暗盒 之 间 , 以 减 少 X 射 线 荧 光 对 数 字 图 像 的 影 响 。 采 用80kV以上的 X射线检测时 ,在 IP 暗盒背面不应使用铅防护板 。

　　8.9 射线源至工件的最小距离

　　8.9. 1 射线源至工 件 最 小 距 离 fmin 与 射 线 源 尺 寸 d 和 工 件 至 IP 距 离 b 有 关 。 射 线 源 尺 寸 d 应 按GB/T 25758(所有部分)和 GB/T 39427测定 。如果符合此两项标准 ,可以使用制造商的射线源尺寸测定值 。 当射线源有两个方向尺寸时 ,应取较大值 。

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　　GB/T 44921—2024

　　8.9.2 射线源至工件距离 f 的选择 ,适用于工件与柔性 IP直接紧密接触 ,应使 f/d符合公式(2) 和公

　　式(3)的要求 :

　　A级技术:f/d≥ 7. 5(b)2/3 ( 2 )

　　B级技术:f/d≥ 15(b)2/3 ( 3 )

　　8.9.3 诺模图由公式(2)和公式(3)确定 ,为确定射线源至工件最小距离 fmin,可使用图 14。

　　8.9.4 当 b<1. 5t时 ,公式(2)和公式(3)及图 14 中的 b 可用公称厚度 t取代 ;采用双壁单影透照 ,b 取一个公称厚度 t;采用双壁双影透照 ,b取其外径 。

　　8.9.5 采用 A级技术检测平面型缺陷时 ,为减小几何不清晰度应采用 B级技术确定 fmin值 , 即为 A 级技术确定的 fmin值的 2倍 。

　　8.9.6 对裂纹敏感度大的材料有更为严格的技术要求时 ,应选用灵敏度比 B级更优的技术进行透照 。

　　8.9.7 采用射线源在内圆心透照方式周向曝光时(见图 4) ,fmin减小值不应超过规定值的 50% 。采用射线源位于凹面侧 IP位于凸面侧内单壁透照方式曝光时(见图 3) ,fmin减小值不应超过规定值的 20% 。在数字图像质量满足要求的前提下,fmin值可以进一步减小 。

　　17

　　GB/T 44921—2024

　　单位为毫米

　　图 14 确定射线源至工件表面最小距离 fmin的诺模图

　　8.9. 8 采 用 几 何 放 大 技 术 检 测 时 , CR 系 统 的 固 有 不 清 晰 度(Ui= 2SRb(d)etector) 和 几 何 不 清 晰 度 (Ug =

　　db/f)将导致图像总不清晰度(UT )的增加 ,见公式(4) 。

　　UT = Ui(2) +Ug(2) …………………………( 4 )

　　推荐通过增加射线源至工件最小距离 fmin, 降低 CR 系统获得数字图像的总不清晰度 。

　　使用几何放大技术时 ,则图像不清晰度 Uim 将按公式(5)计算 ,代替表 B. 5 中的 UT :

　　Uim =UT /v …………………………( 5 )

　　8. 10 曝光曲线

　　8. 10. 1 对于每台在用的射线设备都应绘制出常用被检材料的曝光曲线 ,按照曲线确定曝光参数 。

　　8. 10.2 制作曝光曲线所用 CR 系统 、增感屏 、焦距 、射线能量等条件以及灵敏度 、不清晰度 、最小 SNRN

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　　GB/T 44921—2024

　　或灰度值等参数均应符合本文件的规定 。

　　8. 10.3 每年应至少对使用中的曝光曲线校验一次 ,若对射线透照参数有影响的设备部件进行更换和修理 ,应及时对曝光曲线进行校验 。校验发现灰度值超过 ±15% ,应重新制作曝光曲线 。

　　8. 11 标记与标识

　　8. 11. 1 图像标识

　　8. 11. 1. 1 被检铸 件 的 每 一 个 透 照 部 位 , 应 放 置 由 高 密 度 材 料 制 成 的 字 母 、数 字 、符 号 组 成 的 识 别 标记 ,如 :铸件编号 、部位编号 、定位标记 、返修标记 、曝光日期等 ,表征检测图像所属工件 、部位等信息 。 图像标识应位于有效评定区之外 ,并确保每一透照部位标记明确无误 。

　　8. 11. 1.2 当透照区域要采用两幅以上的图像时 ,每幅图像应具有一定的搭接区域 , 以确保整个受检区域均被透照 ,IP 间搭接标记 ,通常用“↑ ”符号表示 。

　　8. 11. 1.3 应确保数字图像标识的唯一性 ,至少包括以下信息 :

　　a) 检测实验室的名称和代号 ;

　　b) 曝光日期 ;

　　c) 透照的铸件 、部位 ;

　　d) 首次或返修透照 。

　　注 : 返修透照以“R”作标记 ,后面跟相应的透照次数(如 :R1为第一次透照 , R2为第二次透照) 。

　　8. 11.2 工件标记

　　铸件表面应作出永久性标记 , 以确保每张数字图像可准确定位 ;若铸件的性质或使用条件不准许在铸件表面作永久性标记时 ,应采用准确的透照示意图或拍照等方式记录 。

　　8. 12 像质计的使用

　　8. 12. 1 丝型和阶梯孔型像质计使用

　　8. 12. 1. 1 图像的灵敏度应使用丝型像质计或阶梯孔型像质计验证和评定 ,并满足表 B. 1~表 B. 4规定 。

　　8. 12. 1.2 像质计应优先放置在工件射线源侧表面边缘上 ,像质计应与工件表面紧贴 ,并置于厚度均匀区 ,在图像上该区具有均匀的灰度值 。

　　8. 12. 1.3 若像质计 不 能 按 标 准 放 置 在 铸 件 上 时 , 可 放 置 在 等 效 厚 度 垫 块 上 , 用 同 一 IP 进 行 灵 敏 度验证 。

　　8. 12. 1. 4 若需要在相同条件下得到大量图像 , 每个位置一次曝光 , 则应至少放置一 个 像 质 计 验 证 灵敏度 。

　　8. 12. 1.5 检测不同壁厚的区域 ,像质计应按壁厚最大的部位选择并放置在壁厚最大部位 。

　　8. 12. 1.6 中空工件检测 IP侧单壁 ,像质计可以放置在工件内部单壁射线源侧表面上 。

　　8. 12. 1.7 200 mm 以上环形铸件周向中心 100%透照时 ,至少使用 3个像质计间隔 120°放置 。

　　8. 12. 1. 8 像质 计 若 不 能 放 置 在 射 线 源 一 侧 , 也 不 能 使 用 等 效 厚 度 垫 块 的 情 况 下 , 可 将 其 放 置 在 IP侧 ,应紧贴像质计放置高密度材料“F”标记 ; 除非几何结构使其无法实现 ,标记影像应位于有效评定区之外 ,并在检测报告中注明 。单壁透照应进行对比试验 ,确定出 IP侧像质指数 。

　　8. 12. 1.9 使用丝型像质计时 ,其位置应确保在灰度值均匀的图像中 , 至少识别最细丝长 10 mm。使用阶梯孔型像质计时 ,其位置应确保在灰度值均匀的图像中 ,能够识别最小孔 ,若同一阶梯上有两个孔 ,均应识别 。

　　8. 12. 1. 10 采取相关措施能保证 ,类似的被检工件或区域是以相同的曝光参数和透照技术进行检测 ,且获得的图像灵敏度没有差异 ,则不应对每幅图像进行灵敏度验证 , 图像灵敏度验证范围由双方商定 。

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　　GB/T 44921—2024

　　8. 12.2 双丝型像质计使用

　　8. 12.2. 1 CR 系统基本空间分辨率按附录 D 的 要 求 测 定 , 验 证 系 统 硬 件 是 否 满 足 表 B. 5 透 照 厚 度 的规定 。

　　8. 12.2.2 图像空间分辨率按附录 D 的要求测定 ,测定的图像空间分辨率对应透照厚度应满足表 B. 5 的规定 。

　　8. 12.2.3 对工件进行 CR检测时 ,宜进行双丝型像质计验证 ,可使用具有代表性试件验证 。

　　8. 12.2. 4 用于图像空间分辨率 , 单壁单影透照时的透照厚度对应于工件的公称厚 度 , 双 壁 双 影 透 照(8. 2. 7) ,双丝型像质计放置于工件射线源侧表面上 , 以外部尺寸为透照厚度 。

　　8. 12.2.5 用于双壁双影透照的 IP基本空间分辨率 ,应达到不低于以 2 倍壁厚作为透照厚度所对应表B. 5 的规定值 。

　　8. 12.2.6 双丝型像质计放置时 ,其金属丝与数字图像的行或列倾斜角度应为 2°~ 5°。若其金属丝与数字图像的行或列倾斜角度为 45°,则得到的像质值应减少 1。

　　8. 13 IP擦除

　　为了避免由于天然辐射而产生的过高本底噪声 ,如果最后一次擦除时间超过 2周 ,在使用之前应将IP进行擦除操作 。如果 IP用于高能射线或伽玛射线照相 ,则应在擦除后 ,通过测试读出确认擦除是否彻底 。

　　8. 14 变截面透照技术

　　对于截面厚度变化较大的铸件 ,在满足规定的图像质量要求的前提下 ,一次曝光成像 ,增大厚度有效透照范围 ,其技术方法如下 :

　　a) 提高射线能量 ;

　　b) 厚度补偿 ;

　　c) 更高动态范围读出 。

　　8. 15 数据处理

　　8. 15. 1 图像扫描与读出

　　8. 15. 1. 1 IP或扫描仪应按制造商推荐的条件使用 , 以获得稳定的图像质量 。

　　8. 15. 1.2 IP曝光后进行扫描读出之间的停留时间应控制 ,优选在 5 min~ 60 min范围内 。 在停留时间 ,IP应处于柔和的照明下 。

　　8. 15.2 图像处理

　　8. 15.2. 1 图像应采用一定灰阶的灰度值表示方法进行评价 , 测定信噪比 、空间分辨 率 和 归 一 化 信 噪比 ,理想的图像应对信噪比 、空间分辨率和归一化信噪比进行评价 。 可通过对比度和亮度调节技术 ,获得最佳显示图像 。

　　8. 15.2.2 图像处理软件中应具有灰度 、信噪比 、空间分辨率 、几何尺寸等测量工具 ,应具有灰度变换 、对比度和亮度调节 、图像缩放等功能 ,应具有图像格式的转换功能 。

　　8. 15.2.3 对存储的原始图像进一步处理时 ,应有明确记录 ,并得到合同双方的许可 ,且不应修改所存储的原始图像数据 。

　　8. 15.2.4 若图像处理是为了评价丝型或阶梯孔型像质值时 ,则应在相同的处理参数下 ,评定铸件图像 。

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　　GB/T 44921—2024

　　8. 16 图像显示、观察条件和存储

　　8. 16. 1 图像应在较暗的室内评定 ,背景光反射不应干扰图像评定 ;显示器设置应使用适当的测试图像校验 。

　　8. 16.2 图像显示观察最低条件应满足下列要求 :

　　a) 最低亮度 :250 cd/m2 ;

　　b) 最少显示灰度级 :256;

　　c) 最小可显示的亮度比 :1 ∶ 250;

　　d) 最少显示像素数 :2M ,像素尺寸小于 0. 3 mm。

　　8. 16.3 原始图像存储格式宜按 DICONDE格式 。

　　8. 16.4 应定期对 CR 系统中的原始图像进行备份 , 以便长期存储 ;备份存储时采用的压缩方式不应丢失原始数据 ,不应降低原始图像的图像质量 。

　　8. 16.5 图像处理后 ,应进行标识 ,并与原始图像一起存储 。

　　8. 17 图像质量

　　8. 17. 1 图像最低像质值

　　8. 17. 1. 1 图像的灵敏度 ,应满足表 B. 1~表 B. 4 的规定 。

　　8. 17. 1.2 图像的不清晰度与空间分辨率 ,应满足表 B. 5 的规定 。

　　8. 17. 1.3 图像应同时满足灵敏度和不清晰度与空间分辨率的规定 。

　　8. 17.2 图像最小归一化信噪比

　　8. 17.2. 1 图像的最小归一化信噪比应满足表 3 和表 4 的规定 。

　　8. 17.2.2 使用 CR 系统检测厚度不均匀的铸件时 ,允许采用最小灰度值代替最小 SNRN 。

　　8. 17.3 其他要求

　　图像上标识影像应符合 8. 11. 1 的规定 , 图像评定区内不应存在影响评定的伪缺陷 , 如对图像上显示的真实性存在怀疑 ,应重新透照 。

　　8. 18 晶粒组织的影响

　　8. 18. 1 晶粒组织的衍射和吸收可导致图像产生衍射斑 ,改变透照技术能够判断是否为衍射斑 ,如选择平移法 、更高的射线能量 、增加工件与 IP之间的距离 。

　　8. 18.2 当衍射斑致使图像无法评定 ,可使用本文件规定之外的参数 。

　　9 图像评定

　　9. 1 图像应由数字射线 2 级及以上检测人员评定 ,按合同 、技术条件 、图纸或者其他协议等规定的验收标准和等级 ,确定铸件的符合性 。

　　9.2 在开始识别评定前 ,评定人员要有暗场适应时间 。

　　9.3 评定人员对缺陷进行识别定性 ,并利用辅助评定工具对缺陷进行定量分析评定 。评定应在适当的对比度和亮度调节下进行 ,相应的值应根据评定区的信噪比大小确定 。

　　9.4 采用铸件参考缺陷数字图像标准评定 ,应将参考缺陷图像调整与检测图像相同的空间分辨率 ,进行显示对比 。

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　　GB/T 44921—2024

　　9.5 按评定区特征确定图像缩放比例 ,在固定的缩放模式下进行评定 。

　　9.6 缺陷自动识别评定时 ,漏检率 、误判率应满足合同双方要求 ;具有缺陷识别 、等级评定 、铸件符合性等功能 。

　　10 检测记录和报告

　　10. 1 检测记录

　　应按照现场操作的实际情况 ,详细记录检测过程的有关信息和数据 ,至少应包括下列内容 :

　　a) 检测单位 ;

　　b) 被检铸件 :名称 、编号 、材质 、热处理状况 、检测部位 、检测比例 、厚度 、表面状态 、检测时机 ;

　　c) 设备器材 :名称 、型号和主要技术特性参数 ;

　　d) 检测技术 :检测标准 、工艺规范 、技术等级 、验收要求 ;

　　e) 工艺参数 :透照方式 、像质计 、增感屏 、滤波板 、背散射板 、射线能量 、曝光量 、透照几何参数 、图像处理参数等 ;

　　f) 透照示意图 ;

　　g) 检测数据 ;

　　h) 图像评定 :灵敏度 、空间分辨率 、最小归一化信噪比或最小灰度值 、缺陷类别尺寸位置 ;

　　i) 评定结果 ;

　　j) 检测人员 、资格 ;

　　k) 检测 日期 。

　　10.2 检测报告

　　应依据检测记录出具 ,至少包含以下的内容 :

　　a) 检测单位 ;

　　b) 被检铸件 :名称 、编号 、材质 、热处理状况 、检测部位 、检测比例 、厚度 、表面状态 、检测时机 ;

　　c) 设备器材 :射线机(型号 、焦点尺寸) 、IP(型号 、规格等) 、扫描仪(型号 、主要技术参数) ;

　　d) 检测技术 :检测标准 、工艺规范 、技术等级 、验收要求 ;

　　e) 工艺参数 :透照方式 、像质计 、增感屏 、滤波板 、背散射板 、射线能量 、曝光量 、透照几何参数 、图像处理参数等 ;

　　f) 透照示意图 ;

　　g) 图像评定 :灵敏度 、空间分辨率 、最小归一化信噪比或最小灰度值 、缺陷类别和级别 ;

　　h) 评定结论 :评定结果 、符合性 ;

　　i) 偏离标准的特别协议 ;

　　j) 检测和审核人员 、资格 ;

　　k) 检测和编制报告日期 。

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　　GB/T 44921—2024

　　附 录 A

　　(规范性)

　　归一化信噪比的确定

　　A. 1 信噪比的测定

　　A. 1. 1 信噪比按 GB/T 21355—2022的 6. 1测定 。通常将数字图像上一个 20× 55个像素区(应测定的典型部位)内确定的线性平均灰度值与按 GB/T 21355—2022的 6. 1. 1 的标准差的比值作为信噪比测定值 。测定区的灰度值应处于灰度线性化区 ,并与射线剂量成正比 ,未曝光区域的灰度值为零 。

　　注 : 信噪比测定区的宽度不超过 20个 像 素 , 长 度 不 小 于 55个 像 素 。较 大 的 长 度 有 利 于 提 高 信 噪 比 测 定 准 确 度 。

　　GB/T 21355关于线性信噪比中值 ,见软件测定工具 。

　　A. 1.2 在相同的透照条件下 ,较大像素尺寸(不清晰度高) 的 CR 系统可以获得更高信噪比 ,但检测细小缺陷能力低于较小像素尺寸的 CR 系统 。

　　A.2 归一化信噪比的测定

　　A.2. 1 通过基本空间分辨率对测量的信噪比进行归一化 ,具有相同归一化信噪比的 CR 系统 ,具有相同的细小细节识别能力 。 因此 ,测定 CR 系统的信噪比 ,应测定归一化信噪比 。

　　归一化信噪比的计算见公式(A. 1) :

　　SNRN = SNRmeasured

　　A.2.2 归一化信噪比值通常由检测系统制造商提供的软件测定 ,如果在软件工具算法中已输入了基本空间分辨率值 ,则归一化信噪比值可直接测定 。

　　A.2.3 CR检测系统 ,扫描仪任何扫描读出参数(如扫描分辨率 、扫描速度或 IP类型)被改变 ,则需要重新测定检测系统的基本空间分辨率 。

　　A.2.4 不同基本空间分辨率的 CR检测系统 ,表 A. 1 给出了归一化信噪比值 SNRN 与非归一化信噪比SNR 的对应值 。如果检测系统制造商提供的软件工具不能直接测定归一化信噪比 SNRN 值 ,则应按表 A. 1确定替代非归一化信噪比 SNR 的归一化信噪比SNRN 值 。

　　表 A. 1 不同基本空间分辨率的 CR检测系统非归一化信噪比测定值与规定的归一化信噪比对应值

　　系统参数

　　高清晰度系统

　　标准系统

　　双丝丝对

　　D13+

　　D13

　　D12

　　D11

　　D10

　　D9

　　D8

　　D7

　　D6

　　基本空间分辨率

　　(SRb )

　　40 μm

　　50 μm

　　63 μm

　　80 μm

　　100 μm

　　130 μm

　　160 μm

　　200 μm

　　250 μm

　　规定的归一化信

　　噪比值(SNRN )

　　(表 3 和表 4)

　　非归一化信噪比测定值 SNRmeasured

　　150

　　65

　　85

　　110

　　135

　　170

　　220

　　270

　　340

　　425

　　120

　　55

　　70

　　85

　　110

　　135

　　180

　　220

　　270

　　340

　　100

　　45

　　60

　　75

　　90

　　115

　　150

　　185

　　225

　　285

　　70

　　35

　　40

　　50

　　65

　　80

　　105

　　130

　　160

　　200

　　23

　　GB/T 44921—2024

　　附 录 B

　　(规范性)

　　图像最低像质值

　　B. 1 单壁透照且像质计置于射线源侧的图像丝型像质计灵敏度见表 B. 1。

　　表 B. 1 丝型像质计灵敏度— 单壁透照、像质计置于射线源侧

　　单位为毫米

　　像质值(丝径)

　　公称厚度 t

　　A级

　　B级

　　W19(0. 050)

　　—

　　≤ 1. 5

　　W18(0. 063)

　　≤ 1. 2

　　>1. 5~ 2. 5

　　W17(0. 080)

　　>1. 2~ 2. 0

　　>2. 5~ 4. 0

　　W16(0. 100)

　　>2. 0~ 3. 5

　　>4. 0~ 6. 0

　　W15(0. 125)

　　>3. 5~ 5. 0

　　>6. 0~ 8. 0

　　W14(0. 160)

　　>5. 0~ 7. 0

　　>8. 0~ 12

　　W13(0. 20)

　　>7. 0~ 10

　　>12~ 20

　　W12(0. 25)

　　>10~ 15

　　>20~ 30

　　W11(0. 32)

　　>15~ 25

　　>30~ 35

　　W10(0. 40)

　　>25~ 32

　　>35~ 45

　　W9(0. 50)

　　>32~ 40

　　>45~ 65

　　W8(0. 63)

　　>40~ 55

　　>65~ 120

　　W7(0. 80)

　　>55~ 85

　　>120~ 200

　　W6(1. 00)

　　>85~ 150

　　>200~ 350

　　W5(1. 25)

　　>150~ 250

　　>350

　　W4(1. 60)

　　>250~ 350

　　—

　　W3(2. 00)

　　>350

　　—

　　B.2 单壁透照且像质计置于射线源侧的图像阶梯孔型像质计灵敏度见表 B. 2。

　　表 B.2 阶梯孔型像质计灵敏度— 单壁透照、像质计置于射线源侧

　　单位为毫米

　　像质值(孔径)

　　公称厚度 t

　　A级

　　B级

　　H2(0. 160)

　　—

　　≤ 2. 5

　　H3(0. 200)

　　≤ 2. 0

　　>2. 5~ 4. 0

　　H4(0. 250)

　　>2. 0~ 3. 5

　　>4. 0~ 8. 0

　　H5(0. 320)

　　>3. 5~ 6. 0

　　>8. 0~ 12

　　24

　　GB/T 44921—2024

　　表 B.2 阶梯孔型像质计灵敏度— 单壁透照、像质计置于射线源侧 (续)

　　单位为毫米

　　像质值(孔径)

　　公称厚度 t

　　A级

　　B级

　　H6(0. 400)

　　>6. 0~ 10

　　>12~ 20

　　H7(0. 500)

　　>10~ 15

　　>20~ 30

　　H8(0. 630)

　　>15~ 24

　　>30~ 40

　　H9(0. 800)

　　>24~ 30

　　>40~ 60

　　H10(1. 000)

　　>30~ 40

　　>60~ 80

　　H11(1. 250)

　　>40~ 60

　　>80~ 100

　　H12(1. 500)

　　>60~ 100

　　>100~ 150

　　H13(2. 000)

　　>100~ 150

　　>150~ 200

　　H14(2. 500)

　　>150~ 200

　　>200~ 250

　　H15(3. 200)

　　>200~ 250

　　—

　　H16(4. 000)

　　>250~ 320

　　—

　　H17(5. 000)

　　>320~ 400

　　—

　　H18(6. 300)

　　>400

　　—

　　B.3 双壁透照且像质计分别置于射线源侧和 IP侧的图像丝型像质计灵敏度见表 B. 3。

　　表 B.3 丝型像质计灵敏度— 双壁透照

　　单位为毫米

　　像质值(丝径)

　　透照厚度 w

　　源侧

　　IP侧

　　源侧

　　IP侧

　　A级

　　A级

　　B级

　　B级

　　W19(0. 050)

　　—

　　—

　　≤1. 5

　　≤ 1. 5

　　W18(0. 063)

　　≤1. 2

　　≤ 1. 2

　　>1. 5~ 2. 5

　　>1. 5~ 2. 5

　　W17(0. 080)

　　>1. 2~ 2. 0

　　>1. 2~ 2. 0

　　>2. 5~ 4. 0

　　>2. 5~ 4. 0

　　W16(0. 100)

　　>2. 0~ 3. 5

　　>2. 0~ 3. 5

　　>4. 0~ 6. 0

　　>4. 0~ 6. 0

　　W15(0. 125)

　　>3. 5~ 5. 0

　　>3. 5~ 5. 0

　　>6. 0~ 8. 0

　　>6. 0~ 12

　　W14(0. 160)

　　>5. 0~ 7. 0

　　>5. 0~ 10

　　>8. 0~ 15

　　>12~ 18

　　W13(0. 20)

　　>7. 0~ 12

　　>10~ 15

　　>15~ 25

　　>18~ 30

　　W12(0. 25)

　　>12~ 18

　　>15~ 22

　　>25~ 38

　　>30~ 45

　　W11(0. 32)

　　>18~ 30

　　>22~ 38

　　>38~ 45

　　>45~ 55

　　W10(0. 40)

　　>30~ 40

　　>38~ 48

　　>45~ 55

　　>55~ 70

　　W9(0. 50)

　　>40~ 50

　　>48~ 60

　　>55~ 70

　　>70~ 100

　　W8(0. 63)

　　>50~ 60

　　>60~ 85

　　>70~ 100

　　>100~ 180

　　W7(0. 80)

　　>60~ 85

　　>85~ 125

　　>100~ 170

　　>180~ 300

　　25

　　GB/T 44921—2024

　　表 B.3 丝型像质计灵敏度— 双壁透照 (续)

　　单位为毫米

　　像质值(丝径)

　　透照厚度 w

　　源侧

　　IP侧

　　源侧

　　IP侧

　　A级

　　A级

　　B级

　　B级

　　W6(1. 00)

　　>85~ 120

　　>125~ 225

　　>170~ 250

　　>300

　　W5(1. 25)

　　>120~ 220

　　>225~ 375

　　>250

　　—

　　W4(1. 60)

　　>220~ 380

　　>375

　　—

　　—

　　W3(2. 00)

　　>380

　　—

　　—

　　—

　　B.4 双壁透照且像质计分别置于射线源侧和 IP侧的图像阶梯孔型像质计灵敏度见表 B. 4。

　　表 B.4 阶梯孔型像质计灵敏度— 双壁透照

　　单位为毫米

　　像质值(孔径)

　　透照厚度 w

　　源侧

　　IP侧

　　源侧

　　IP侧

　　A级

　　A级

　　B级

　　B级

　　H2(0. 160)

　　—

　　—

　　≤1. 0

　　≤2. 5

　　H3(0. 200)

　　≤1. 0

　　≤2. 0

　　>1. 0~ 2. 5

　　>2. 5~ 5. 5

　　H4(0. 250)

　　>1. 0~ 2. 0

　　>2. 0~ 5. 0

　　>2. 5~ 4. 0

　　>5. 5~ 9. 5

　　H5(0. 320)

　　>2. 0~ 3. 5

　　>5. 0~ 9. 0

　　>4. 0~ 6. 0

　　>9. 5~ 15

　　H6(0. 400)

　　>3. 5~ 5. 5

　　>9. 0~ 14

　　>6. 0~ 11

　　>15~ 24

　　H7(0. 500)

　　>5. 5~ 10

　　>14~ 22

　　>11~ 20

　　>24~ 40

　　H8(0. 630)

　　>10~ 19

　　>22~ 36

　　>20~ 35

　　>40~ 60

　　H9(0. 800)

　　>19~ 35

　　>36~ 50

　　—

　　>60~ 80

　　H10(1. 000)

　　—

　　>50~ 80

　　—

　　—

　　注 : 表 B. 1~ 表 B. 4 中的数值仅适用于铸件与 IP直接紧密接触 。若采用几何放大技术 ,则不适用 。

　　B.5 使用 Ir192或 Se75检测时 , 当像质值不能满足表 B. 1~表 B. 4要求时 ,可按以下要求执行 。

　　a) 双壁双影透照技术 ,A级和 B级 :

　　— 使用 Ir192,10 mm

　　— 使用 Se75,5 mm

　　b) 单壁单影和双壁单影透照技术 ,A级 :

　　— 使用 Ir192,10 mm

　　— 使用 Ir92,24 mm

　　— 使用 Se75,5 mm

　　c) 单壁单影和双壁单影透照技术 ,B级 :

　　— 使用 Ir192,10 mm

　　— 使用 Se75,5 mm

　　B.6 图像最大不清晰度和空间分辨率见表 B. 5。

　　26

　　GB/T 44921—2024

　　表 B.5 A 级和 B 级图像最大不清晰度和空间分辨率

　　单位为毫米

　　透照厚度 wa

　　A级应识别最小丝对值和最大不清晰度b

　　A级最大空间分辨率b

　　SRbimage

　　B级应识别

　　最小丝对值和最大不清晰度b

　　B级最大空间分辨率b

　　SRbimage

　　≤2. 0

　　D12(0. 125)

　　0. 063

　　D13+(0. 08)

　　0. 04

　　>2. 0~ 5. 0

　　D10(0. 20)

　　0. 10

　　D13(0. 10)

　　0. 05

　　>5. 0~ 10

　　D9(0. 26)

　　0. 13

　　D12(0. 125)

　　0. 063

　　>10~ 24

　　D8(0. 32)

　　0. 16

　　D11(0. 16)

　　0. 08

　　>24~ 40

　　D7(0. 40)

　　0. 20

　　D10(0. 20)

　　0. 10

　　>40~ 55

　　D7(0. 40)

　　0. 20

　　D9(0. 26)

　　0. 13

　　>55~ 85

　　D6(0. 50)

　　0. 25

　　D9(0. 26)

　　0. 13

　　>85~ 150

　　D6(0. 50)

　　0. 25

　　D8(0. 32)

　　0. 16

　　>150~ 200

　　D5(0. 64)

　　0. 32

　　D8(0. 32)

　　0. 16

　　>200~ 250

　　D5(0. 64)

　　0. 32

　　D7(0. 40)

　　0. 20

　　>250~ 380

　　D4(0. 80)

　　0. 40

　　D7(0. 40)

　　0. 20

　　>380

　　D4(0. 80)

　　0. 40

　　D6(0. 50)

　　0. 25

　　注 : D13+是指双丝型像质计图像中 D13丝对所显示的调制传递函数曲线上的调制度值远大于 20% 。

　　a 对于双壁单影透照技术 ,应用公称厚度 t替代透照厚度 w。

　　b 采用直接紧密接触透照技术时 ,双丝像质计最 小 丝 对 识 别 方 法 按 附 录 D 执 行 。 当 采 用 几 何 放 大 技 术 时 , 可 通过比对测试试验确定可识别的双丝像质计最小丝对值 。

　　27

　　GB/T 44921&mdash