您当前的位置:首页 > JIS R 1693-2-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第2部分:使用红外光谱仪反射法测定正常发射率 > 下载地址2
JIS R 1693-2-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第2部分:使用红外光谱仪反射法测定正常发射率
- 名 称:JIS R 1693-2-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第2部分:使用红外光谱仪反射法测定正常发射率 - 下载地址2
- 类 别:JIS标准
- 下载地址:[下载地址2]
- 提 取 码:am7e
- 浏览次数:3
发表评论
加入收藏夹
错误报告
目录| 新闻评论(共有 0 条评论) |
资料介绍
JIS R1693-2-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第2部分:使用红外光谱仪反射法测定正常发射率
Measurement method for emissivity of fine ceramics and ceramic matrix composites --
Part 2: Normal emissivity by reflective method using FTIr='red'>R
Measurement method for emissivity of fine ceramics and ceramic matrix composites --
Part 2: Normal emissivity by reflective method using FTIr='red'>R

