JIS R1693-2-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第2部分:使用红外光谱仪反射法测定正常发射率 Measurement method for emissivity of fine ceramics and ceramic matrix composites -- Part 2: Normal emissivity by reflective method using FTIr='red'>R 上一篇:JIS Q 8901-2012 地面用光伏组件--可靠性保证系统要求(设计、生产和产品质量保证)下一篇:JIS R 1693-3-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第3部分:直接加热法测定热