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GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
- 英文名称:Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
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- 提 取 码:ilar
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资料介绍
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。
本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试,其他非本征半导体材料可参照本标准测试。
本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果;对于导电类型不均匀的材料,可在其表面上测出不同导电类型区域。
本标准不适用于分层结构材料(如外延片)导电类型的测试。
本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试,其他非本征半导体材料可参照本标准测试。
本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果;对于导电类型不均匀的材料,可在其表面上测出不同导电类型区域。
本标准不适用于分层结构材料(如外延片)导电类型的测试。
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