GB/T 22181.6-2015 等离子体显示器件 第6部分:数字电视机用等离子体显示器件空白详细规范
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资料介绍
ICS 31. 120 L 47
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
GB/T 22181.6—2015代替 GB/T 14279—1993
等离子体显示器件
第 6 部分 : 数字电视机用等离子体
显示器件空白详细规范
Plasma displaypanels—
Part6: Blank detailspecification forplasma displaypanels
used fordigitalTV sets
2015-06-02发布 2016-02-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会
发
布
GB/T 22181.6—2015
前 言
GB/T 22181《等离子体显示器件》的预计结构如下 :
— 第 1部分 :术语与文字符号(GB/T 22181. 1—2008) ;
— 第 2-1部分 :光学参数测量方法(GB/T 22181. 21—2008) ;
— 第 2-2部分 :光电参数测量方法(GB/T 22181. 22—2008) ;
— 第 2-3部分 :模块显示质量测量方法(GB/T 22181. 23—2012) ;
— 第 2-4部分 :数字电视机用器件特性测量方法(GB/T 22181. 24—2016) ;
— 第 3-1部分 :机械接 口 ;
— 第 3-2部分 : 电子接 口 ;
— 第 4部分 :气候和机械试验方法 ;
— 第 5部分 :总规范(GB/T 22181. 5—2015) ;
— 第 6部分 :数字电视机用等离子体显示器件空白详细规范(GB/T 22181. 6—2015) 。本部分是 GB/T 22181的第 6部分 。
本部分代替 GB/T 14279—1993《交流等离子体显示器件空白详细规范(可供认证用)》。
本部分与 GB/T 14279—1993相比 ,除编辑性修改外 ,主要技术性变化如下 :
— 对 GB/T 14279—1993中的检验项目进行了增删 ,如去掉了原标准中的着火电压 、电压零散 、相邻电极间漏电流和电极间电容等项 目 ,增加了平均显示亮度 、峰值亮度 、暗室对比度 、亮室对比度 、平均功耗 、白场色度均匀性 、高灰度色域覆盖率 、低灰度色域覆盖率 、图像条纹 、闪烁 、动态图像分辨率 、图像残留 、噪声 、亮度视角 、对比度视角 、色度视角等项 目 ;
— 对在本部分与 GB/T 14279—1993中相同的检验项目(如缺陷 、亮度 、亮度均匀性等)的测试方法及检验要求进行了修改 ;
— 增加了结构相似程序 、鉴定批准程序及抽样要求等内容 。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利 。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出 。
本部分由中国电子技术标准化研究院归 口 。
本部分起草单位 : 四川虹欧显示器件有限公司 、西安交通大学 、四川长虹电器股份有限公司 。
本部分主要起草人 :邓新群 、胡文波 、王平松 、赵晓东 、王丽雯 、黄长戈 、唐礼 。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为 :
—GB/T 14279—1993。
等离子体显示器件
第 6 部分 : 数字电视机用等离子体
显示器件空白详细规范
1 范围
GB/T 22181的本部分是数字电视机用等离子体显示器件(以下简称器件)空白详细规范 。它规定了器件的电学 、光学 、图像显示 、机械及环境性能描述和测试的详细要求 。
本部分适用于数字电视机用等离子体显示器件 。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。凡是注 日期的引用文件 ,仅注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注日期的引用文件 ,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 。
SJ/T 11379—2008 等离子体显示器件 第 4部分 :气候和机械试验方法
3 空白详细规范首页的说明
空白详细规范首页方括号中的数字应与下列给出的说明相符合 。
a) 详细规范的识别
[1] 授权发布详细规范的国家标准化机构名称 。
[2] 详细规范的 IECQ编号 。
[3] 总规范的国家编号和出版号 。
[4] 详细规范的国家编号 、发布日期及国家标准体系要求的任何资料 。
b) 等离子体显示器件的识别
[5] 器件型号 。
[6] 典型结构和应用资料 。 如果一种器件有几种应用 ,则应在详细规范中说明 。 这些应用的特性 、极限值和检验要求均应予以满足 。如果器件是静电敏感型或有害材料 ,应在详细规范中予以注明 。
[7] 外形图和(或)引用有关的外形标准 。
[8] 质量评定的类别 。
[9] 能在器件型号之间比较的最重要特性的参考数据 。
GB/T 22181.6—2015
[在本部分中 ,方括号里给出的文字用于指导详细规范的编写 ,不应纳入详细规范中 。] [在本部分中 ,“X”表示应在详细规范中规定特性或额定值的值 。]
4 标志
[除了前面第[6]栏和(或)GB/T 22181. 5—2015的 4. 3所给出的以外 ,任何其他特殊信息应在这里规定 。]
5 订货信息
[除非另有规定 ,订购一种具体器件至少需要以下信息 :
— 准确的型号 ;
— 有关的带版本号和(或) 日期的 IECQ详细规范号 ;
— 按 GB/T 22181. 5—2015的 4. 4规定的质量评定类别 ;
— 其他特殊要求 。]
6 极限值(绝对最大额定值制)
除非另有规定 ,这些极限值适用于整个工作温度范围 。
[只重复使用带有标题的条号 。任何增加的参数将在适当的地方给出 ,但没有条号 。]
7 工作范围和器件性能
7. 1 推荐工作条件(在规定的工作温度范围内)
7.2 器件性能
测试要求见第 8章 。
[只重复使用带有标题的条号 。任何增加的性能将在适当的地方给出 ,但没有条号 。]
[当在同一详细规范中规定几种器件时 ,相应的值应以连续的方式给出 , 以避免相同值的重复 。]
8 质量评定程序
8. 1 通则
[在以下各表中如给出试验条件和检验要求 ,其中所有数值和确切的试验条件 ,应按照给定型号的要求和按有关标准的有关试验的要求规定 。]
[当在同一详细规范中包括几种器件时 ,有关条件和(或)数值应以连续的方式给出 , 以尽可能避免相同条件和(或)数值重复出现 。]
8.2 初始制造阶段
适用于本部分的等离子体显示模块的初始制造阶段 ,是指前基板和后基板上电极图形制作的第 一道工序 。
8.3 制造过程
等离子体显示模块的制造过程分类如下 :
a) 前基板制作过程
该过程是指从初始制造阶段到最后一步将前基板制作完成的制造过程 ;
b) 后基板制作过程
该过程是指从初始制造阶段到最后一步将后基板制作完成的制造过程 ;
c) 装配过程
该过程是指前基板与后基板装配的制造过程 ;
d) 电路器件的连接过程
该过程是指将屏与电路板通过柔性印刷电路(FPC) 、带载封装(TCP)等进行连接的制造过程 ;
e) 组装过程和最终电光测试
该过程是最后一组制造过程 ,包括将边框 、外部连接器等按要求组装到屏以构成模块 ,进行模块老练及尺寸目检 、电光特性测试 ,并在完成的等离子体显示模块上打上标志 。
8.4 结构相似程序
见附录 A。
8.5 鉴定批准程序
见附录 B。
8.6 质量一致性检验
8.6. 1 A 组— 逐批检验
这些试验应按表 1规定 。
表 1 A 组— 逐批检验
8.6.2 B 组— 逐批检验
这些试验应按表 2规定 。
表 2 B 组— 逐批检验
8.6.3 C 组— 周期检验
提交用于周期检验的样品应是三个月之内生产 , 由连续的三个月的 日期编码或连续的 13周的 日期编码标识 。
这些试验应按表 3规定 。
表 3 C 组— 周期检验
表 3 (续)
8.6.4 D 组— 周期性试验
进行这些试验是为了质量认证 ,其后 ,仅在有要求时 ,每年进行一次 。试验应在详细规范中规定 。
8.6.5 抽样要求
表 4 中给 出 A 组 检 验 的 抽 样 要 求 , 表 5 中 给 出 B 组 和 C 组 检 验 的 抽 样 要 求 , 批 量 大 小 为 501~ 1 200之间 。对于不同的批量的其他抽样样本大小 ,按详细规范中的规定进行 。
表 4 A 组试验抽样要求
表 5 B 组和 C 组试验抽样要求
表 5 (续)
8.7 筛选
当详细规范或订单中规定了筛选项目时 ,生产的所有模块应进行筛选 。
筛选通常在 A、B、C组检验前进行 。如在满足了 A、B 组逐批检验和 C、D组周期检验要求后进行筛选 ,则应重复 A组检验 。
其他筛选后的试验按详细规范规定的要求 。
试验按表 6规定 。
表 6 筛选试验项目和条件
8. 8 延期交货
对于贮存超过一年的模块 ,在交货之前 ,要交货的批或数量应按 A 组规定进行试验 。一旦在整批完成了试验 ,则一年内不再要求重新试验 。
9 附加资料
[只在规范和器件应用需要时给出 ,例如 :
— 与极限值有关的温度曲线 ;
— 测量电路或补充方法的完整说明 ;
— 详细的外形图 ;
— 特征尺寸 ;
— 电气驱动条件 ;
— 维护信息 ;
— 静电放电的有关注意事项 ;
— 与安装有关的机械和(或)电气方面的注意事项 。]
附 录 A (规范性附录)结构相似程序
A. 1 总则
结构相似程序旨在允许减少质量评定需试验的检验批的数量 。 因而 , 由于认可类型放宽或更改设计而需重新评定时 ,可采用相同组结构相似产品的试验数据 。
A.2 结构相似模块
结构相似模块是由同一制造厂 ,采用相同的设计 、相同的材料 、生产工艺和方法生产的 。结构相似模块的类型组合的关键依据是 ,各类型间的差别不影响所形成组合的试验结果 。
A.3 结构相似模块对应试验判别规则
表 A. 1 给出用于 B组逐批检验和 C组周期检验的结构相似模块对应试验判别规则 。
a) ~h)项对结构相似模块对应试验判别规则作了详细说明 :
a) 屏
用于屏的材料和基本设计应相同 。显示区面积差异应在 ±50%以内 ,并且子像素节距的差异应在 ±20%以内 。
b) 电路器件
材料和基本设计应相同 。
c) 边框材料
用于边框的材料和基本设计应相同 。
d) 外部连接
用于模块外部连接的材料和基本设计应相同 。
e) 工艺(通用)
基本工艺和工艺材料应相同 。
f) 生产线(通用)
模块应在相同生产线上生产 。
g) 标志
标志应采用相同的材料 ,并且标志的基本工艺条件应相同 。
h) 额定值
除与显示区面积和子像素节距有关的项目外 ,详细规范中规定的额定值应相同 。相关类型的功耗应小于被测模块的功耗的 1. 5倍 。
表 A. 1 结构相似模块对应试验判别规则
表 A. 1 (续)
附 录 B (规范性附录)鉴定批准程序
B. 1 鉴定批准程序
鉴定批准试验的检验要求如下 :
a) 按程序规则 IEC QC 001002-3:2005 中 3. 1. 4 给出的方法 a) ,并采用本部分表 B. 1 中规定的试验要求(包括试验项目 、条件 、最终抽样样本大小等) 完成并取得满意的结果 ,则通常被认为通过了质量认证 。
b) 如要求也可采用程序规则 IEC QC 001002-3:2005 中 3. 1. 4规定的方法 b) ,抽样要求采用本部分表 4 和表 5 中的规定 。
表 B. 1 鉴定批准试验
表 B. 1 (续)
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