GB/T 22093-2018 电子数显内径千分尺

　　ICS 17 . 040 . 30 J 42

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 22093—2018

　　代替 GB/T 22093—2008

　　电子数显内径千分尺

　　Internalmicrometerwithelectronicdigitaldisplay

　　2018-05-14 发布 2018-12-01 实施

　　国家市场监督管理总局中国国家标准化管理委员会

　　发

　　布

　　GB/T 22093—2018

　　前 言

　　本标准按照 GB/T 1 . 1—2009 给出的规则起草。

　　本标准代替 GB/T 22093—2008《电子数显内径千分尺》。 本标准与 GB/T 22093—2008 相比，除编辑性修改外，主要技术变化如下：

　　— 扩大电子数显内径千分尺的测量范围到 1 000 mm(见第 1 章，2008 年版的第 1 章);

　　— 修改了电子数显数显装置的定义(见 3 . 1 , 2008 年版的 3 . 1) ;

　　— 增加了电子数显内径千分尺的定义(见 3 . 2) ;

　　— 增加了测微螺杆螺距为 2 mm 的电子数显内径千分尺(见 4 .2 .1) ;

　　— 增加了对电子数显内径千分尺测量力范围的规定(见 5 . 5) ;

　　— 修改了示值最大允许误差的要求和规定值(见 5 . 13 和表 2 , 2008 年版的 5 . 13 和表 2) ;

　　— 增加了对量程大于 25 mm 的电子数显内径千分尺的示值最大允许误差的规定(见 5.13.1) ;

　　— 增加了 A 型电子数显内径千分尺锁紧变化的检验方法(见 6 . 1) ;

　　— 修改了分度误差检验方法中注 2(见 6 . 3 . 1 , 2008 年版的 6 . 2 . 1) ;

　　— 修改了示值误差的检验方法(见 6 . 4 , 2008 年版的 6 . 3) ;

　　— 增加了示值误差检验方法的 B组尺寸系列(见 6 . 4 和表 3) ;

　　— 增加了量程等于 50 mm 的示值误差检验尺寸系列(见 6.4 和表 3) ;

　　— 把附录 B 的部分内容移到正文里(见 5 . 13 和表 2 , 2008 年版的附录 B) ;

　　— 删除了对角度传感器等分数的规定(见 2008 年版的 5 . 12 . 3) 。

　　本标准由中国机械工业联合会提出。

　　本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC 132)归口 。

　　本标准负责起草单位：苏州麦克龙测量技术有限公司。

　　本标准参加起草单位：成都工具研究所有限公司、桂林量具刃具有限责任公司、桂林广陆数字测控有限公司、广西壮族自治区计量检测研究院、辽宁省计量科学研究院。

　　本标准主要起草人：黄晓宾、王荣华、许刚、赵伟荣、闫列雪、阳明珠、杨斌。

　　本标准所代替标准的历次版本发布情况为：

　　— GB/T 22093—2008 。

　　GB/T 22093—2018

　　电子数显内径千分尺

　　1 范围

　　本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义 、型式与基本参数 、要求 、检验方法、试验方法、标志与包装。

　　本标准适用于分辨力为 0.001 mm,量程小于或等于 100 mm,测量范围上限至 1 000 mm 的电子数显内径千分尺。测量范围 1 000 mm~6 000 mm 的 A 型电子数显内径千分尺参见附录 A。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件对于本文件的应用是必不可少的。 凡是注 日期的引用文件，仅注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注 日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

　　GB/T 1216—2018 外径千分尺

　　GB/T 2423.3—2016 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 Cab：恒定湿热试验

　　GB/T 2423 . 22—2012 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 N：温度变化

　　GB/T 4208—2017 外壳防护等级(IP 代码)

　　GB/T 1800 . 2—2009 产品几何技术规范(GPS) 极限与配合 第 2 部分：标准公差等级和孔、轴极限偏差表

　　GB/T 17163—2008 几何量测量器具术语 基本术语

　　GB/T 17164—2008 几何量测量器具术语 产品术语

　　GB/T 17626 . 2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验

　　GB/T 17626 . 3—2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验

　　GB/T 24634—2009 产品几何技术规范(GPS) GPS测量设备通用概念和要求

　　3 术语和定义

　　GB/T 17163—2008、GB/T 17164—2008 和 GB/T 24634—2009 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

　　3.1

　　电子数显千分尺数显装置 electronicdigitalindicatingdevicesformicrometer

　　利用传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显内径千分尺的测微螺杆位移的装置。

　　注 ：以下简称“电子数显装置”。

　　3.2

　　电子数显内径千分尺 internalmicrometerwithelectronicdigitaldisplay

　　利用电子数显装置，对两测量面分隔的内尺寸或三测量面接触的内孔进行测量读数的测量器具。

　　4 型式与基本参数

　　4 . 1 型式

　　电子数显内径千分尺的型式见图 1 和图 2 所示。 图示仅供图解说明，不表示详细结构。

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　　a)A型：电子数显 2 点内径千分尺(测微螺杆轴线与角度传感器的轴线和测量面的位移同轴)

　　b)B 型：电子数显 2 点内径千分尺(测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移平行)

　　图 1 电子数显 2 点内径千分尺型式示意图

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　　c)C 型：电子数显 2 点内径千分尺(测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直)

　　图 1(续)

　　a)D 型：电子数显 3 点内径千分尺(测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直)

　　b)E 型：电子数显 3 点内径千分尺(测微螺杆轴线与测量面的位移同轴，与角度传感器的轴线垂直)

　　图 2 电子数显 3 点内径千分尺型式示意图

　　4 . 2 基本参数

　　4 .2 . 1 电子数显内径千分尺测微螺杆的螺距宜为 0 .5 mm、1 mm 或 2 mm。

　　4 .2 .2 A 型、B 型电子数显内径千分尺的量程宜为 25 mm ,测量范围下限宜为 5 mm 或 25 mm 的整数倍。

　　4 . 2 . 3 C 型、D 型、E 型电子数显内径千分尺的测量范围的下限宜为整数。

　　5 要求

　　5 . 1 外观

　　5 . 1 . 1 电子数显内径千分尺表面不得有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。

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　　5 . 1 . 2 电子数显内径千分尺表面的镀、涂层不得有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。

　　5 . 1 . 3 电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷。

　　5 . 2 材料

　　测微螺杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他类似性能的材料制造;测量面宜镶硬质合金或其他耐磨材料。

　　5 . 3 相互作用

　　5 . 3 . 1 测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啮合，配合良好，不得出现卡滞和明显窜动。

　　5 . 3 . 2 D 型、E 型电子数显内径千分尺的量爪与槽或孔之间的配合应良好，且移动自如，不得出现卡滞，沿测量面轴线方向不得有明显摆动。

　　5 . 4 锁紧装置

　　A 型电子数显内径千分尺应具有锁紧装置。 锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆。 锁紧前、后，两

　　测量面间的距离变化不应大于 2 μm。

　　5 . 5 测力装置

　　B 型、C 型、D 型、E 型电子数显内径千分尺应具有测力装置，通过测力装置作用到测量面的测量力应一致。

　　B 型、C 型和测量范围 l≤12 mm 的 D 型：测量力宜为 4 N~10 N,测量力变化不应大于 2 N。

　　测量范围 12 mm100 mm 的 D 型和 E 型：测量力宜为 15 N~40 N,测量力变化不应大于 30%。

　　5 . 6 测量面

　　5 . 6 . 1 电子数显内径千分尺测量面宜为球形或圆柱形表面，其半径应小于测量范围下限的 1/2。

　　5 . 6 . 2 测量面也可以是其他形状，以适合特殊测量任务的要求。

　　5 . 6 . 3 合金工具钢测量面的硬度不应小于 740 HV(或 61 . 8 HRC) ;不锈钢测量面的硬度不应小于552 HV(或 52 . 5 HRC) 。

　　5 . 7 测头和量爪

　　C 型、D 型、E 型电子数显内径千分尺可以配备数个测头或量爪，通过更换测头或量爪扩大测量范围。

　　5 . 8 长度接杆

　　5 . 8 . 1 A 型电子数显内径千分尺可配备数个长度接杆以扩大测量范围。

　　5 . 8 . 2 长度接杆的基准面应一端为平面另一端为球面。

　　5 . 8 . 3 长度接杆基准面的硬度不应小于 740 HV(或 61 . 8 HRC) 。

　　5.8.4 长度接杆基准尺寸的偏差不应大于 GB/T 1800.2—2009 中规定的 js2。

　　5 . 9 深度接杆

　　D 型、E 型电子数显内径千分尺宜配备深度接杆以扩大测量深度。 接上深度接杆后需要重新校对。

　　5 . 10 校对装置

　　5 . 10 . 1 电子数显内径千分尺宜提供校对零位的环规或卡规。

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　　5 . 10 . 2 校对环规或校对卡规基准面的硬度不应小于 740 HV(或 61 . 8 HRC) 。

　　5 . 10 . 3 校对环规或校对卡规上的标注尺寸的偏差和测量面的圆柱度或平行度不应大于表 1 规定。

　　表 1 标注尺寸的偏差和测量面的圆柱度或平行度 单位为毫米

　　5 . 1 1 标尺标记

　　电子数显内径千分尺上的标尺标记按 GB/T 1216—2018 中 5 . 9 的规定。

　　5 . 12 电子数显装置

　　5 . 12 . 1 功能键：电子数显装置的功能键应灵活、可靠，标注的符号或图文应清晰且含义准确。

　　5. 12.2 数字显示屏：电子数显装置的数字显示应清晰、完整、无闪跳现象;字高不应小于 4 mm。

　　5 . 12 .3 分度误差：电子数显装置的分度误差不应大于 0 .002 mm。

　　5. 12.4 数值漂移：电子数显装置在 1 h 内的数值漂移不应大于其分辨力。

　　5 . 12 . 5 通信接口：电子数显装置宜设置通信接 口 。 电子数显装置的通信接口宜为 USB、RS-232 或无线接口 。制造商应能够提供电子数显装置与其他设备之间的通信电缆、通信协议和通讯软件。

　　5 . 12 . 6 防护等级：电子数显装置应具有防水、防尘能力，其防护等级不得低于 IP40(见 GB/T 4208 — 2017) 。

　　5. 12.7 工作环境：电子数显装置应能在环境温度 0 ℃ ~40 ℃、相对湿度不大于 80%的条件下，进行正常工作。

　　5 . 12 . 8 抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力：电子数显装置的抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力均不应低于 1 级(见 GB/T 17626 . 2—2006、GB/T 17626 . 3—2016) 。

　　5 . 13 示值最大允许误差

　　5. 13. 1 量程小于或等于 25 mm 电子数显内径千分尺的示值最大允许误差不应大于表 2 的规定。量程大于 25 mm、小于或等于 50 mm 的电子数显内径千分尺，示值最大允许误差不应大于表 2 的规定值加1 μm。量程大于 50 mm、小于或等于 100 mm 的电子数显内径千分尺，示值最大允许误差不应大于表 2的规定值加 2 μm。

　　5 . 13 . 2 A 型电子数显内径千分尺组装任意一个长度接杆后的示值最大允许误差均不应大于表 2 的规定。

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　　表 2 示值最大允许误差和重复性

　　5 . 14 重复性

　　C 型、D 型、E 型电子数显内径千分尺的重复性不应大于表 2 的规定。

　　6 检验方法

　　6 . 1 A 型电子数显内径千分尺的锁紧变化

　　在检验示值误差的同时检验锁紧变化。 锁紧测微螺杆前、后，测长机显示值的变化，即为两测量面间的距离变化量。

　　6 . 2 测量面的硬度

　　对于未镶硬质合金或其他耐磨材料的测量面，可在该测量面上或距测量面 1 mm 的处检验。

　　对于镶了硬质合金或其他耐磨材料的测量面，其硬度可不做检验。

　　6 . 3 电子数显装置

　　6 . 3 . 1 分度误差：分度误差在 1 圈内沿测量方向均匀检 25 点 。检验时，分别读出各受检点的电子数显

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　　装置显示值与微分筒读数值之差，做出误差曲线，其最高点与最低点之差，即为电子数显装置的分度误

　　差。对于没有微分筒的电子数显内径千分尺，可以将分度误差不大于 20′的鼓轮固定在角度传感器的

　　传动轴上，检验方法与前述带微分筒的检验方法相同。

　　注 1 ：如果把电子数显内径千分尺的示值误差的检验点投影到角度传感器的同一等分上时有不少于四个独立点，此时示值误差的检验结果已包含了角度传感器的分度误差，允许不检验分度误差。

　　注 2：当电子数显装置的角度传感器为五等分或十等分，螺距是 0.5 mm、1 mm 或 2 mm,用表 3 中的 B组量块尺寸

　　检验示值误差，允 许 不 检 验 分 度 误 差。 当 电 子 数 显 装 置 的 角 度 传 感 器 为 二 等 分 或 四 等 分，或 者 螺 距 是

　　0.508 mm或 0.635 mm,用表 3 中的 A组或 B组量块尺寸检验示值误差，均允许不检验分度误差。

　　6.3.2 数值漂移：在任意位置下使测微螺杆固定，并保持 1 h。观察电子数显装置显示数值的变化。

　　6 . 4 示值误差

　　6 . 4 . 1 A 型电子数显内径千分尺的示值误差：A 型电子数显内径千分尺用测长机检验，支撑位置参见附录 B。 推荐检验点为表 3 中数值加电子数显内径千分尺测量范围的下限。 示值误差的判定采用浮动零点原则，即将各检验点的千分尺显示值与测长机显示值的差值绘制成误差曲线，曲线上最高点与最低点在纵坐标上的差值，即为其示值误差。

　　表 3 受检点的尺寸系列 单位为毫米

　　6 . 4 . 2 B 型电子数显内径千分尺的示值误差：B 型电子数显内径千分尺用准确度为 2 级的量块与量块附件组成的内尺寸或准确度为 3 级的校准环规检验。 推荐检验点为表 3 中数值加电子数显内径千分尺测量范围的下限。 检查时，在每个检验点连续测量 3 次(剔除粗大误差)，取其算术平均值作为测量结果，计算与标准器尺寸的差值，示值误差的判定采用浮动零点原则，即将各检验点的检定结果绘制成误差曲线，曲线上最高点与最低点在纵坐标上的差值，即为其示值误差。

　　6 . 4 . 3 C 型、D 型、E 型电子数显内径千分尺的示值误差：C 型、D 型 、E 型电子数显内径千分尺用准确度为 3 级的校准环规检验。检验环规的尺寸应包括测量范围的上、下限，并尽量在测量范围内和 360°上均匀分布。 检验环规的数量不得少于表 4 的要求。

　　检验时，在每个检验点连续测量 3 次(剔除粗大误差)，取其算术平均值作为测量结果，计算与标准器尺寸的差值，示值误差的判定采用浮动零点原则，即将各检验点的检定结果绘制成误差曲线，曲线上最高点与最低点在纵坐标上的差值，即为其示值误差。

　　表 4 检验环规的数量

　　6 . 5 重复性

　　用环规检验 C 型、D 型、E 型电子数显内径千分尺的重复性。 在完全相同的测量条件下，重复测量5 次(剔除粗大误差)，其 5 次显示值间的最大差异，即为电子数显内径千分尺的重复性。

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　　7 试验方法

　　7 . 1 防水、防尘试验

　　电子数显内径千分尺的防水、防尘试验应符合 GB/T 4208—2017 的规定。

　　7 . 2 温度变化试验

　　电子数显内径千分尺的温度变化试验应符合 GB/T 2423 . 22—2012 的规定。

　　7 . 3 湿热试验

　　电子数显内径千分尺的湿热试验应符合 GB/T 2423 . 3—2016 的规定。

　　7 . 4 抗静电干扰试验

　　电子数显内径千分尺的抗静电干扰试验应符合 GB/T 17626 . 2—2006 的规定。

　　7 . 5 抗电磁干扰试验

　　电子数显内径千分尺的抗电磁干扰试验应符合 GB/T 17626 . 3—2016 的规定。

　　8 标志与包装

　　8 . 1 电子数显内径千分尺上应标志有：

　　a) 制造厂厂名或商标;

　　b ) 测量范围;

　　c) 分辨力;

　　d) 产品序号;

　　e) 防护等级高于 IP40 时，应标有防护等级标志。

　　8 . 2 校对装置上应标志其长度标称尺寸。

　　8 . 3 电子数显千分尺包装盒上应标志有：

　　a) 制造厂厂名或商标;

　　b ) 产品名称;

　　c) 测量范围。

　　8 . 4 电子数显千分尺在包装前应经过防锈处理并妥善包装，不得因包装不善而在运输过程中损坏产品。

　　8 . 5 电子数显千分尺经检验符合本标准要求的应附有产品合格证及使用说明书，产品合格证上应标有本标准的标准号、产品序号和出厂 日期。

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　　附 录 A

　　(资料性附录)

　　测量范围 1 000 mm~6 000 mm 的 A型电子数显内径千分尺

　　A.1 测量范围 1 000 mm~6 000 mm 的 A 型电子数显内径千分尺的示值最大允许误差应符合表 A.1的规定。

　　A.2 距两端 0 .22L 处支撑与距两端 200 mm 处支撑的长度变化应符合表 A.1 的规定。

　　表 A.1 示值最大允许误差和长度变化允许值

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　　附 录 B

　　(资料性附录)

　　A 型电子数显内径千分尺的支撑

　　为了最大限度地减小 A 型电子数显内径千分尺的弯曲变形，应按图 B. 1 所示位置设置支撑。

　　图 B.1 A 型电子数显内径千分尺的支撑