资料介绍
ICS 17.240 F 74
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
GB/T 30142—2013
平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法
Measuring methodsforshielding effectivenessofplanarelectromagnetic
shielding materials
2013-12-17发布 2014-05-10实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会
发
布
GB/T 30142—2013
目 次
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
3. 1 电薄 1
3. 2 屏蔽效能 1
4 测量方法 2
4. 1 总则 2
4. 2 法兰同轴装置法 2
4. 3 屏蔽室法 6
5 报告要求 9
附录 A (资料性附录) 30 MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置结构图 10
附录 B (资料性附录) 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置图 15
附录 C (规范性附录) 屏蔽室谐振频率的计算 20
附录 D (资料性附录) 屏蔽效能数据记录表格 21
参考文献 22
GB/T 30142—2013
前 言
本标准按照 GB/T 1. 1—2009给出的规则起草 。
本标准由中国电器工业协会提出 。
本标准由全国电磁屏蔽材料标准化技术委员会(SAC/TC323)归 口 。
本标准起草单位 :上海市计量测试技术研究院 、中国计量科学研究院 、东南大学 、上海晨隆纺织新材料有限公司 、安方高科电磁安全技术(北京)有限公司 、天津工业大学 、山东天诺光电材料有限公司 。
本标准起草人 :桑昱 、陈超婵 、黄攀 、蔡青 、蒋全兴 、陆福敏 、来磊 、黄建华 、朱安东 、齐鲁 、朱焰焰 。
Ⅰ
GB/T 30142—2013
平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法
1 范围
本标准规定了 10 kHz~40 GHz频率范围内平面型电磁屏蔽材料的电磁屏蔽效能测量方法 。
本标准适用于电磁屏蔽织物 、电磁屏蔽金属板 、电磁屏蔽金属网 、电磁屏蔽玻璃 、电磁屏蔽薄膜 、电磁屏蔽塑料 、电磁屏蔽橡胶等平面型电磁屏蔽材料的电磁波屏蔽效能的测量 。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。凡是注 日期的引用文件 ,仅注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注日期的引用文件 ,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 。
GB/T 25471—2010 电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法
GB/T 26667—2011 电磁屏蔽材料术语
3 术语和定义
GB/T 26667—2011界定的以及下列术语和定义适用于本文件 。
3. 1 电薄 electricallythin
试样的厚度远小于(<1/100)试样的导电波长 。
注 : 改写 GB/T 25471—2010,定义 3. 2。
3.2 屏蔽效能 electromagneticshielding;SE
在同一激励下的某点上 ,有屏蔽材料与无屏蔽材料时所测量到的电场强度 、磁场强度或功率之比 。
SE= 20lg(E2/E1 )(dB)
或 SE= 20lg(H2/H1 )(dB) …………………………( 1 )
或 SE= 10lg(P2/P1 )(dB)
式中 :
SE — 屏蔽效能(dB) ;
H1 — 无屏蔽材料时的磁场强度 ;
H2 — 有屏蔽材料时的磁场强度 ;
E1 — 无屏蔽材料时的电场强度 ;
E2 — 有屏蔽材料时的电场强度 ;
P1 — 无屏蔽材料时的功率 ;
P2 — 有屏蔽材料时的功率 。
注 : 屏蔽效能通常为负值 ,但习惯用其绝对值 。
[GB/T 26667—2011,定义 2. 1. 7]
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GB/T 30142—2013
4 测量方法
4. 1 总则
法兰同轴装置法适用于电薄材料的屏蔽效能测量 ,根据测量频率范围分为 30MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置法 、30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置法 。
屏蔽室法适用于屏蔽材料在 10 kHz~40 GHz频率范围的屏蔽效能测量 。屏蔽室屏蔽效能应大于被测材料屏蔽效能至少 6 dB。也可采用屏蔽半暗室或屏蔽全暗室 。
4.2 法兰同轴装置法
4.2. 1 测量条件
测量条件应满足以下要求 :
a) 环境温度 :23 ℃ ±5 ℃ ;
b) 环境相对湿度 :40% ~ 75% ;
c) 大气压力 :86kPa~ 106kPa;
d) 试样测量前应在上述环境中保持 48h;
e) 环境电磁噪声对测量结果不应产生影响 。
4.2.2 测量设备
4.2.2. 1 法兰同轴装置
法兰同轴装置技术指标应满足以下要求 :
a) 频率范围 :30 MHz~ 1. 5 GHz或者 30 MHz~ 3 GHz;
b) 特性阻抗 :50 Ω;
c) 电压驻波比 :<1. 2;
d) 传输损耗 :<1dB;
e) 30 MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置的结构尺寸参见附录 A; 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置的结构尺寸参见附录 B。
4.2.2.2 信号发生器
信号发生器技术指标应满足以下要求 :
a) 频率范围 :根据测量需求选择 ;
b) 输出阻抗 :50 Ω;
c) 电压驻波比 :<2. 0;
d) 最大输出功率 :≥13dBm。
4.2.2.3 频谱分析仪
频谱分析仪技术指标应满足以下要求 :
a) 频率范围 :根据测量需求选择 ;
b) 特性阻抗 :50 Ω;
c) 频谱分析仪最小分辨率带宽 :≤1kHz。
2
GB/T 30142—2013
4.2.2.4 带跟踪信号源的频谱分析仪
带跟踪信号源的频谱分析仪技术指标应满足以下要求 :
a) 频率范围 :根据测量需求选择 ;
b) 跟踪信号源最大输出功率 : ≥0dBm;
c) 跟踪信号源电压驻波比 :<2. 0;
d) 频谱分析仪最小分辨率带宽 :≤1kHz。
4.2.2.5 网络分析仪
网络分析仪技术指标应满足以下要求 :
a) 频率范围 :根据测量需求选择 ;
b) 特性阻抗 :50 Ω;
c) 电压驻波比 :<2. 0;
d) 中频带宽 :≤1kHz。
4.2.2.6 衰减器
衰减器技术指标应满足以下要求 :
a) 频率范围 :根据测量需求选择 ;
b) 特性阻抗 :50 Ω;
c) 驻波比 :<1. 2;
d) 衰减量 :≥6dB(额定功率 ≥1W) 。
4.2.2.7 电缆及连接线
电缆及连接线技术指标应满足以下要求 :
a) 特性阻抗 :50 Ω;
b) 连接器 :N 型 。
4.2.3 测量频率点
采用法兰同 轴 装 置 法 开 展 测 量 时 , 推 荐 在 30 MHz、80 MHz、300 MHz、450 MHz、915 MHz、 1 GHz、1. 5 GHz、1. 8 GHz、2. 45GHz、3 GHz等频率点给出测量结果 ,并尽量满足用户对测量频率范围和频率点的要求 。
4.2.4 被测试样要求
用法兰同轴装置测量屏蔽效能的被测试样应满足以下要求 :
a) 被测试样分参考试样和负载试样 ,参考试样和负载试样应是电薄材料 。
b) 参考试样和负载试样的材质应相同 ,30 MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置法对被测试样的形状和尺寸要求见图 1,30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置法对被测试样的形状和尺寸要求见图 2。 图1a) 、图 2a)中参考试样分为两部分(画有网纹部分) ,测量时 , 中间圆形部分安装在装置的中心导体上 ,环形部分安装在装置的外导体法兰上 。
c) 被测试样应在温度 23 ℃ ±5 ℃ 、相对湿度 40% ~ 75%的条件下存放 48h后 ,立即开展测量 。
d) 参考试样和负载试样厚度应相等(当两种试样平均厚度之差小于 25 μm 时 ,本方法认为参考试样和负载试样厚度相等) ,各自表面各点厚度之差应小于平均厚度的 5% 。
e) 将被测试样夹放在法兰同轴装置中 ,并夹紧被测试样 ,使被测试样与装置法兰面紧密接触 ,避
3
GB/T 30142—2013
免因接触不良而引起的测量误差 。
f) 由于噪声电平会影响接收机的灵敏度 , 因此测量屏蔽效能值高于 60 dB 以上的待测试样时应使用双层屏蔽或半刚性电缆 。
单位为毫米
a) 参考试样 b) 负载试样
图 1 参考试样和负载试样的尺寸要求(30MHz~ 1.5 GHz法兰同轴装置法)
单位为毫米
a) 参考试样 b) 负载试样
图 2 参考试样和负载试样的尺寸要求(30MHz~3 GHz法兰同轴装置法)
4.2.5 测量方法
用法兰同轴装置对平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能开展测量时 , 常用的测量方法有 :信号发生器/频谱分析仪测量方法 、带跟踪信号源的频谱分析仪测量方法 、网络分析仪测量方法 。
4.2.5. 1 信号发生器/频谱分析仪测量方法
使用信号发生器/频谱分析仪测量方法的步骤如下 :
a) 按图 3 连接测量系统 ,将满足 4. 2. 2. 2要求的信号发生器通过衰减器接入该装置的一端 ,装置的另一端通过衰减器与频谱分析仪相连接 ,测量时注意测量电缆应尽量短 ;
b) 接通测量设备的电源 ,待设备工作稳定后进行测量 ;
c) 将参考试样固定于法兰同轴装置中 ,采用 30 MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置时 ,用力矩改锥拧紧尼龙螺钉 ,采用 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置时 ,拧紧旋钮固定并标记至某一个刻度 ;
d) 信号发生器调到 30MHz频率点上 ,输出电平置于 0 dBm ,调节频谱分析仪频率至 30MHz,读取最大值 ,并记下此读数 P1 (dBm) ;
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GB/T 30142—2013
e) 保持信号发生器输出电平不变 ,改变信号发生器的输出频率 ,测量参考试样在不同频率点上的P1 (dBm) ;
f) 调松法兰同轴装置 ,取出参考试样 ,将负载试样固定于装置中 ,采用 30MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置时 ,用力矩改锥以 c) 中相同力矩拧紧尼龙螺钉 ,采用 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置时 ,拧紧旋钮至 c)步骤的同一刻度 ;
g) 保持信号发生器频率和输出电平不变 ,观察频谱分析仪读数 ,如果读数大于它的噪声电平至少10 dB,记下此时频谱分析仪的读数 P2 (dBm) ;
h) 保持信号发生器的电平输出不变 ,改变信号发生器的输出频率 ,测量负载试样在不同频率点上的 P2 (dBm) ;
i) 被测试样屏蔽效能应按公式(2)计算 :
SEdB = P1 - P2 …………………………( 2 )
图 3 信号发生器/频谱分析仪测试系统示意图
4.2.5.2 带跟踪信号源的频谱分析仪测量方法
使用带跟踪信号源的频谱分析仪测量屏蔽效能的步骤如下 :
a) 按图 4要求连接测量系统 ,将满足 4. 2. 2. 4要求的带跟踪信号源的频谱分析仪的输出端与法兰同轴装置的一端连接 ,输入端与装置的另一端连接 ;
b) 接通测量设备的电源 ,待设备工作稳定后进行测量 ;
c) 将参考试样固定于法兰同轴装置中 ,采用 30 MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置时 ,用力矩改锥拧紧尼龙螺钉 ,采用 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置时 ,拧紧旋钮固定并标记至某一个刻度 ;
d) 对测量系统做传输校准 ;
e) 调松法兰同轴装置 ,取出参考试样 ,将负载试样固定于装置中 ,采用 30MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置时 ,用力矩改锥以 c) 中相同力矩拧紧尼龙螺钉 ,采用 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置时 ,拧紧旋钮至 c)步骤的同一刻度 ;
f) 测量负载试样的屏蔽效能 。
图 4 跟踪信号源/频谱分析仪测量系统示意图
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4.2.5.3 网络分析仪测量方法
使用网络分析仪测量屏蔽效能的步骤如下 :
a) 按图 5要求连接测量系统 ,将满足 4. 2. 2. 5要求的网络分析仪输入端与法兰同轴装置的一端相连接 ,输出端连接装置另一端 ;
b) 接通测量设备的电源 ,待设备工作稳定后进行测量 ;
c) 将参考试样固定于法兰同轴装置中 ,采用 30 MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置时 ,用力矩改锥拧紧尼龙螺钉 ,采用 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置时 ,拧紧旋钮固定并标记至某一个刻度 ;
d) 对测量系统做传输校准 ;
e) 调松法兰同轴测量装置 ,取出参考试样 ,将负载试样固定于装置中 ,采用 30MHz~ 1. 5 GHz法兰同轴装置时 ,用力矩改锥以 c)中相同力矩拧紧尼龙螺钉 ,采用 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置时 ,拧紧旋钮至 c)步骤的同一刻度 ;
f) 测量负载试样的屏蔽效能 。
图 5 网络分析仪测量系统示意图
4.3 屏蔽室法
4.3. 1 测量条件
测量条件应满足以下要求 :
a) 环境温度 :15 ℃ ~ 30 ℃ ;
b) 环境相对湿度 :低于 80% ;
c) 大气压力 :86kPa~ 106kPa;
d) 试样测量前应在上述环境中保持 48h;
e) 环境电磁噪声对测试结果不应产生影响 。
4.3.2 测量设备
4.3.2. 1 屏蔽室
屏蔽室测试窗为正方形 ,边长不小于 0. 6 m ,适用频率范围为 10 kHz~40 GHz,方形孔中心距屏蔽室地面高度不小于 1 m ,方形孔边界距侧墙不小于 0. 5 m。方形孔边沿法兰宽度不小于 25 mm ,法兰应做导电处理 。
如仅用于 1 GHz~ 40 GHz屏 蔽 效 能 测 量 , 测 试 窗 尺 寸 可 为 0. 3 m × 0. 3 m , 边 界 距 侧 壁 不 小 于0. 1 m ,方形孔边沿法兰宽度不小于 25 mm ,法兰应做导电处理 ,应保证屏蔽室内天线沿距侧壁不小于0. 1 m。也可使用屏蔽暗箱 。
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4.3.2.2 信号发生器
信号发生器应满足以下要求 :
a) 频率范围 :10 kHz~40 GHz;
a) 输出阻抗 :50 Ω;
b) 电压驻波比 :<2. 0;
c) 最大输出功率 :≥13dBm。
4.3.2.3 频谱分析仪
频谱分析仪应满足以下要求 :
a) 频率范围 :9 kHz~40 GHz;
b) 特性阻抗 :50 Ω;
c) 频谱分析仪最小分辨率带宽 :≤1kHz。
4.3.2.4 前置放大器
前置放大器应满足以下要求 :
a) 频率范围 :10 kHz~40 GHz;
b) 增益 :30 dB。
4.3.2.5 测量天线
各频段推荐使用的天线见表 1。
表 1 各频段使用的天线
场型
频率范围
天线类型
磁场
10 kHz~ 30 MHz
环天线
电场
10 kHz~ 30 MHz
垂直极化单极天线
电场
20 MHz~ 200 MHz
双锥天线
电场
100 MHz~ 1 000 MHz
偶极天线
电场
200 MHz~ 1 000 MHz
对数周期天线
电场
1 GHz~ 40 GHz
喇叭天线
4.3.3 测量频率点要求
一般在每 10倍频程内选择不少于 3个频率点 ,推荐优先选择表 2 中的测量频率点 ,并尽量满足用户对测量频率范围和频率点的要求 。测量时应避开屏蔽室的谐振频率点 ,谐振频率点的计算见附录 C。
表 2 推荐的测量频率点
场型
频率点
磁场
10 kHz、14kHz、200 kHz、1 MHz、15 MHz、30 MHz
电场
10 kHz、14kHz、200 kHz、1 MHz、15 MHz、30 MHz、80 MHz,300 MHz、450 MHz、 915 MHz、1 GHz、1. 5 GHz、1. 8 GHz、2. 45 GHz、3 GHz、6 GHz、10 GHz、18GHz
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4.3.4 被测试样要求
用屏蔽室法测量屏蔽效能的被测试样应满足以下要求 :
a) 被测试样的面积应大于屏蔽室测试窗的尺寸 ,被测试样表面应平整 ;
b) 如被测试样表面不导电 ,应将被测试样边沿不导电表面部分除去 ,露出导电表面 ,保证被测试样安装时被测试样四周边沿与测试窗有良好的导电连接 。
4.3.5 测量配置
将被测试样放置在屏蔽室测试窗时 ,测试窗的法兰面上应安装导电衬垫 ,导电衬垫的屏蔽效能应大于试样屏蔽效能 10 dB以上 。被测试样的边沿用导电胶带封贴 ,将被测试样贴在测试窗上 ,用压力钳夹紧被测试样或用螺钉固定被测试样 ,保证被测试样与屏蔽室测试窗良好的电连接 ,避免因电接触不良引入测量偏差 。
发射天线放置在屏蔽室外部 ,接收天线放置在屏蔽室内部 。屏蔽室内尽量不放置与测量无关的金属物体 。在测量过程中 ,天线 、仪器 、屏蔽室内的其他物体 ,位置保持不变 。 10 kHz~ 30 MHz频率范围内测量磁场屏蔽时环天线采用共轴法布置;10kHz~ 30 MHz频率范围内测量电场屏蔽时天线采用垂直放置 ,天线放置高度要保证天线杆底部与测试窗底部平行 ;在 30 MHz~40 GHz频率范围内 ,测试天线应垂直极化放置 ,发射 、接收天线对准屏蔽室测试窗的中心 ; 在 200 MHz~ 1 000 MHz频率范围内 ,优先选择偶极天线 。天线距屏蔽材料的距离应满足表 3 的要求 。
表 3 天线距屏蔽材料的距离
场型
频率范围
距离
磁场
10 kHz~ 30 MHz
0. 3 m
电场
10 kHz~ 30 MHz
0. 3 m
电场
30 MHz~ 1 000 MHz
1. 0 m
电场
1 GHz~ 18GHz
0. 6 m
电场
18GHz~ 40 GHz
0. 3 m
4.3.6 测量步骤
屏蔽效能测量步骤如下 :
a) 按图 6 或图 7 连接测量设备 ,测量设备按说明书要求预热 ;
b) 打开屏蔽室测试窗 ;
c) 设置发射设备合适的输出电平 ,读取频谱分析仪上所有测量频率点的电平指示值 ;
d) 将被测试样安装在测试窗上 ,并将所有的压力钳(或专用螺钉)锁紧 ;
e) 保持信号发生器各频率点输出电平与 c)中相同 ,读取频谱分析仪上所有测量频率点的电平指示值 ;
f) 根据公式(1)计算各测量频率点被测试样的屏蔽效能 。
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图 6 屏蔽室法测试配置图(0.6 m 窗口)
图 7 屏蔽室法测量配置图(0.3 m 窗口)
5 报告要求
测量报告应包括被测试样的主要信息 :
a) 被测试样的标识 ,如试样名称 、生产厂家 、型号 、编号等信息 ;
b) 测量设备的标识 ,如商标 、型号 、序列号等信息 ;
c) 被测试验的环境条件 ,如温度 、湿度等信息 ;
d) 试验方法 ;
e) 测量的频率点和屏蔽效能值 。
推荐使用的屏蔽效能测量数据记录表格见附录 D。
必要时 ,被测试样测量报告应给出所测屏蔽效能值的不确定度 。不确定度的来源分析应考虑材料 、传输线的失配 、测量系统的动态范围及辅助设备的影响等 。
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附 录 A
(资料性附录)
30MHz~ 1.5 GHz法兰同轴装置结构图
图 A. 1 和图 A. 2分别为法兰同轴装置的整体装配图和分体装配图 ; 图 A. 3~ 图 A. 9 分别为中心导体压块 、外导体压圈 、外导体法兰段 、中心导体直线段 、中心导体支撑块 、中心导体锥形段及外导体锥形段零件图 。
法兰同轴装置调整合适后 ,在固定法兰 φ110的中心圆上选两个适当位置配装 φ4圆柱定位销 。法兰同轴装置需要配用两个 N 型同轴连接器 , 四个 M6× 20尼龙连接螺钉 。
图 A. 1 30MHz~ 1.5 GHz法兰同轴整体装置图
说明 :
1— 中心导体压块 ,见图 A. 3;
2— 外导体压圈 ,见图 A. 4;
3— 外导体法兰段 ,见图 A. 5;
4— 中心导体直线段 ,见图 A. 6;
5— 中心导体支撑块 ,见图 A. 7;
6— 中心导体锥形段 ,见图 A. 8;
7— 外导体锥形段 ,见图 A. 9。
装配后 ,精加工 B 面 ,保证其相对于 A 的距离为 0. 03 mm±0. 01 mm;装配后 ,精加工 C 面 ,保证与 B 面高度一致 ,允差为 ±0. 01 mm。
图 A.2 30MHz~ 1.5 GHz法兰同轴分体装置图
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单位为毫米
图 A.3 中心导体压块
单位为毫米
图 A.4 外导体压圈
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单位为毫米
说明 :
1. 材料 :黄铜 ;
2. 锐边倒角 :0. 5× 45°;
3. 外表面镀镍 :厚度 :6 μm。
图 A.5 外导体法兰段
单位为毫米
材料 :黄铜
图 A.6 中心导体直线段
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单位为毫米
材料 : 聚丙烯
图 A.7 中心导体支撑块
单位为毫米
说明 :
1. 材料 :黄铜 ;
2. 尺寸 124. 8 mm , 留 1. 3 mm 装调 。
图 A. 8 中心导体锥形段
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单位为毫米
说明 :
1. 材料 :黄铜 ;
2. 锐边倒角 :0. 5× 45°;
3. 外表面镀镍 :厚度 :6 μm。
图 A.9 外导体锥形段
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附 录 B
(资料性附录)
30MHz~3 GHz法兰同轴装置图
B. 1 30MHz~3 GHz法兰同轴装置整体装配图
30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置通过特定的导轨夹具(见图 B. 1) 固定 , 允许的 不 同 心 度 16. 6 μm以内 。
图 B. 1 导轨夹具与法兰同轴装置
图 B. 2 和图 B. 3 为 30 MHz~ 3 GHz法兰同轴装置的整体装配图和分体装配图 。
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图 B.2 30MHz~3 GHz法兰同轴装置整体装配图
说明 :
1— 带法兰盘的 N 型同轴接口(阴性) ,根据标准 ,示意图见图 B. 4;
2— 带法兰盘的外导体 ,见图 B. 5;
3— 外导体法兰盘前端面 ,见图 B. 6;
4— 支撑介质 ,见图 B. 7;
5— 带锥形过渡段的内导体 ,见图 B. 8;
6— 内导体分段 ,见图 B. 9。
图 B.3 30MHz~3 GHz法兰同轴装置分体装配图
B.2 尺寸结构图
30 MHz~ 3 GHz法兰同 轴 装 置 由 左 右 对 称 的 两 部 分 构 成 , 本 附 录 仅 提 供 半 边 尺 寸 。 图 B. 4 至图 B. 7分别是带法兰盘的 N 型同轴接口(阴性) 、带法兰盘的外导体 、外导体法兰盘前端面 、支撑介质 、带
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锥形过渡段的内导体 、内导体分段 。在实际加工时应保证内导体断面比外导体法兰端面高 0. 2 mm。
单位为毫米
图 B.4 带法兰盘的 N 型同轴接口(阴性)示意图
单位为毫米
材料 :黄铜 。
图 B.5 带法兰盘的外导体
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单位为毫米
材料 :黄铜 。
图 B.6 外导体法兰盘前端面
单位为毫米
材料 :聚四氟乙烯 。
图 B.7 支撑介质
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单位为毫米
材料 :黄铜 。
图 B. 8 带锥形过渡段的内导体
单位为毫米
材料 :黄铜 。
图 B.9 内导体分段
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附 录 C
(规范性附录)
屏蔽室谐振频率的计算
C. 1 屏蔽室的谐振
由于屏蔽室谐振的影响 ,屏蔽效能测量结果会产生很大的变化 ,测量屏蔽效能应避开谐振频率点 。
C.2 谐振频率的计算
谐振频率与屏蔽室的几何尺寸有关 ,平行六面体结构的屏蔽室谐振频率计算按公式(C. 1) :
fmnk
式中 :
fmnk — 谐振频率 ,单位为兆赫兹(MHz) ;
m、n、k— 为 0、1、2、3… , m、n、k 只能有一个取 0;
a、b、c — 为屏蔽室的边长 ,单位为米(m) ,且 a≥b≥c。
最低谐振频率计算按公式(C. 2) :
f …………………………( C. 2 )
式中 :
f— 最低谐振频率 ,单位为兆赫兹(MHz) ;
常见屏蔽室的最低谐振频率见表 C. 1。
表 C. 1 常见屏蔽室的最低谐振频率
a/m
b/m
2
4
6
8
10
12
14
16
f/MHz
2
106. 1
83. 9
79. 1
77. 3
76. 5
76. 0
75. 8
75. 6
4
83. 9
53. 0
45. 1
41. 9
40. 4
39. 5
39. 0
38. 7
6
79. 1
45. 1
35. 4
31. 3
29. 2
28. 0
27. 2
26. 7
8
77. 3
41. 9
31. 3
26. 5
24. 0
22. 5
21. 6
21. 0
10
76. 5
40. 4
29. 2
24. 0
21. 2
19. 5
18. 4
17. 7
12
76. 0
39. 5
28. 0
22. 5
19. 5
17. 7
16. 5
15. 6
14
75. 8
39. 0
27. 2
21. 6
18. 4
16. 5
15. 2
14. 2
16
75. 6
38. 7
26. 7
21. 0
17. 7
15. 6
14. 2
13. 3
18
75. 5
38. 4
26. 4
20. 5
17. 2
15. 0
13. 6
12. 5
20
75. 4
38. 2
26. 1
20. 2
16. 8
14. 6
13. 1
12. 0
20
GB/T 30142—2013
附 录 D
(资料性附录)
屏蔽效能数据记录表格
屏蔽效能测量数据记录表格如表 D. 1。
表 D. 1 屏蔽效能测量数据记录表格
频 率/MHz
P1 /dBm
P2 /dBm
SE/dB
30
80
300
450
915
1 000
1 500
1 800
2 450
3 000
其中 :
a) P1 为放入参考试样时测得的功率值 ;
b) P2 为放入负载试样时测得的功率值 ;
c) SE为被测试样的屏蔽效能 。
21
GB/T 30142—2013
参 考 文 献
[1] GJB 6190—2008 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法
[2] GB/T 12190—2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法
[3] SJ 20524—1996 材料屏蔽效能的测量方法
[4] ASTM D4935—2010 Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effec- tivenessofPlanarMaterials
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