您当前的位置:首页 > GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 > 下载地址2
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
- 名 称:GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 - 下载地址2
- 类 别:航空航天民航
- 下载地址:[下载地址2]
- 提 取 码:
- 浏览次数:3
新闻评论(共有 0 条评论) |
资料介绍
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备,试验样品、试验步骤、试验报告。
本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
相关推荐
- GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法
- GB/T 12613.4-2011 滑动轴承 卷制轴套 第4部分:材料
- GB/T 15166.2-2023 高压交流熔断器 第2部分:限流熔断器
- GB/T 42903-2023 金属材料 蠕变裂纹及蠕变-疲劳裂纹扩展速率测定方法
- GB 29937-2013 食品安全国家标准 食品添加剂 羧甲基淀粉钠
- GB/T 27920.1-2011 数字航空摄影规范 第1部分:框幅式数字航空摄影
- GB/T 33215-2016 气瓶安全泄压装置
- GB/T 6809.6-2009 往复式内燃机 零部件和系统术语 第6部分:润滑系统
- GB/T 34608-2017 节水型企业 铁矿采选行业
- GB∕T 19206-2020 天然气用有机硫化合物加臭剂的要求和测试方法