T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

本文件规定了宇航用静态随机存储器（Static Random-Access Memory,SRAM）总剂量(totalionizing dose,TID)效应试验方法。
本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。