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SN/T 3323.7-2023 氧化铁皮 第7部分：游离α-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法
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资料介绍
本文件规定了用X射线衍射K 值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2 含量的检测方法。
本文件适用于氧化铁皮中游离α-SiO2 含量的测定。测定范围:≥0.50%。
本文件适用于氧化铁皮中游离α-SiO2 含量的测定。测定范围:≥0.50%。
