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JIS C 5630-6-2011 半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法
- 名 称：JIS C 5630-6-2011 半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法 - 下载地址2
- 类 别：JIS标准
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- 提 取 码：am7e
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资料介绍
JIS C5630-6-2011 半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法
JIS C5630-6-2011,,Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices.
Part 6:Axial fatigue testing methods of thin film materials
JIS C5630-6-2011 マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第６部：薄膜材料の軸荷重疲労試験方法
JIS C5630-6-2011,,Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices.
Part 6:Axial fatigue testing methods of thin film materials
JIS C5630-6-2011 マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第６部：薄膜材料の軸荷重疲労試験方法
