GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。
本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定,其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。
本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果,对于非均匀试样,可在其表面上测出不同导电类型区域。
本标准方法不适用于分层结构试样,如外延片的导电类型的测定。