资料介绍
ICS 29 . 045 H 83
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
GB/T 35305—2017
太阳能电池用砷化镓单晶抛光片Monocrystallinegallium arsenidepolishedwafersforsolarcell
2017-12-29 发布 2018-07-01 实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会
发
布
GB/T 35305—20 17
前 言
本标准按照 GB/T 1 . 1—2009 给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 与全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)共同提出并归口 。
本标准起草单位:云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、云南中科鑫圆晶体材料有限公司、中国科学院半导体所。
本标准主要起草人:惠峰、普世坤、吕春富、董汝昆。
GB/T 35305—20 17
太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
1 范围
本标准规定了太阳能电池用砷化镓单晶抛光片的要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存和质量证明书。
本标准适用于太阳能电池用砷化镓单晶抛光片(以下简称砷化镓抛光片)。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。 凡是注 日期的引用文件,仅注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2828 . 1 计数抽样检验程序 第 1 部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T 6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 6619 硅片弯曲度测试方法
GB/T 6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
GB/T 6621 硅片表面平整度测试方法
GB/T 6624 硅抛光片表面质量目测检验方法
GB/T 13387 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
GB/T 14264 半导体材料术语
GB/T 19921 硅抛光片表面颗粒测试方法
GB/T 25075 太阳能电池用砷化镓单晶
GB/T 25915 . 1 洁净室及相关受控环境 第 1 部分:空气洁净度等级
GB/T 29505 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
YS/T 26 硅片边缘轮廓检验方法
3 术语和定义
GB/T 14264 界定的术语和定义适用于本文件。
4 要求
4 . 1 分类
4 . 1 . 1 砷化镓抛光片按导电类型分为 N 型和 P 型两种。
4. 1 .2 砷化镓抛光片按直径大小分为 φ50.8 mm、φ76.2 mm、φ100.0 mm 三种。
4 . 2 理化及电学性能
砷化镓抛光片的电阻率、载流子浓度、晶向及晶向偏离度、位错密度应符合 GB/T 25075 的规定。
4 . 3 几何参数
砷化镓抛光片的几何参数应符合表 1 的规定。
GB/T 35305—20 17
表 1 几何参数
4 . 4 强度
砷化镓抛光片的强度应不小于 22 . 5 N。
4 . 5 表面质量
砷化镓抛光片的表面质量应符合表 2 的规定。
表 2 表面质量
GB/T 35305—20 17
表 2(续)
4 . 6 边缘轮廓
经边缘倒角后的砷化镓抛光片圆周上所有点(有切口时,切口内的点除外)应处于使用 YS/T 26 测量模板的清晰区域内,且抛光片边缘轮廓的任何部位不准许有锐利点或凸起物,特殊要求可由供需双方协商确定。
4 . 7 其他
需方如对砷化镓抛光片有其他要求时,由供需双方另行商定。
5 试验方法
5 . 1 砷化镓抛光片的直径测量用千分尺进行。
5 . 2 砷化镓抛光片的厚度和总厚度变化测量按 GB/T 6618 的规定进行。
5 . 3 砷化镓抛光片的主参考面长度测量按 GB/T 13387 的规定进行。
5 . 4 砷化镓抛光片的弯曲度测量按 GB/T 6619 的规定进行。
5 . 5 砷化镓抛光片的翘曲度测量按 GB/T 6620 的规定进行。
5 . 6 砷化镓抛光片的总平整度测量按 GB/T 6621 的规定进行。
5 . 7 砷化镓抛光片的强度检验按附录 A 的规定进行。
5 . 8 砷化镓抛光片的表面质量中除颗粒沾污、表面粗糙度外的项 目检验按 GB/T 6624 的规定进行,见表 3 。
表 3 表面质量检验方法
GB/T 35305—20 17
表 3(续)
5 . 9 砷化镓抛光片表面颗粒沾污检验按 GB/T 19921 的规定进行。
5 . 10 砷化镓抛光片表面粗糙度检验按 GB/T 29505 的规定进行。
5 . 1 1 砷化镓抛光片的边缘轮廓检验按 YS/T 26 的规定进行。
6 检验规则
6 . 1 检查和验收
6 . 1 . 1 产品应由供方技术质量监督部门进行检验,保证产品质量符合本标准的规定,并填写产品质量证明书。
6 . 1 . 2 需方可对收到的产品按本标准的规定进行检验,若检验结果与本标准的规定不符时,应在收到产品之日起三个月内向供方提出,由供需双方协商解决。
6 . 2 组批
砷化镓抛光片应成批提交验收,每批应由同一砷化镓单晶加工而成的、具有相同几何参数的产品组成。
6 . 3 检验项目
每批砷化镓抛光片应对几何参数、强度、表面质量和边缘轮廓进行检验。
6 . 4 取样
6 . 4 . 1 检验项 目 中强度的检验取样按 GB/T 2828 . 1 特殊检查水平 S-2,正常检查一次抽样方案进行,其他项目的检验取样按 GB/T 2828 . 1 一般检查水平 Ⅱ ,正常检查一次抽样方案进行。
6 . 4 . 2 取样方案也可由供需双方协商确定。
6 . 5 检验结果的判定
6 . 5 . 1 检验项目的合格质量水平接收质量限(AQL)见表 4 。
表 4 接收质量限
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表 4(续)
6 . 5 . 2 抽检不合格的产品,供方可对非破坏性检验项 目 中的不合格项进行逐片检验,除去不合格品后,合格品可以重新组批。
7 标志、包装、运输、贮存和质量证明书
7 . 1 标志
7 . 1 . 1 包装盒外应贴上标签,其上注明:
a) 供方名称;
b) 商标 ;
c) 产品名称;
d) 导电类型;
e) 直径 ;
f) 产品编号;
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g) 净重 ;
h) 本标准编号;
i) 生产日期。
7 . 1 . 2 包装箱外侧应有“小心轻放”“防潮”“易碎”“防腐”等标识,并标明:
a) 产品名称;
b) 产品件数及重量;
c) 供方名称。
7 . 2 包装
产品应在符合 GB/T 25915 . 1 中不大于“ISO 5”的环境下,使用专用塑料包装盒逐片包装,外用洁净的塑料袋和防潮、防静电的铝箔袋真空包装。 将经过包装的砷化镓抛光片装入包装箱内,并装满填充物,防止松动。
7 . 3 运输
产品在运输过程中应轻装轻卸,勿压勿挤,并采取防震防潮措施。
7 . 4 贮存
产品应贮存在清洁、干燥的环境中。
7 . 5 质量证明书
每批产品应有质量证明书,其上注明:
a) 供方名称;
b) 产品名称及直径;
c) 产品批号;
d) 产品净重及片数;
e) 各项参数检验结果和检验部门的印记;
f) 本标准编号;
g) 出厂日期。
8 订货单(或合同)内容
本标准所列产品的订货单(或合同)内应包括下列内容:
a) 产品名称;
b) 导电类型;
c) 产品数量;
d) 几何参数;
e) 技术要求;
f) 本标准编号;
g) 其他需要协商的内容。
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附 录 A
(规范性附录)
砷化镓抛光片强度的测试方法
A.1 范围
本方法规定了砷化镓抛光片强度的测试方法。
A.2 方法提要
首先调整压力探针与圆环形托架之间的距离,以便将砷化镓抛光片放在一个圆环形托架的平台上,如图 A. 1 所示。 压力探针以一定的速度向圆环形托架做相对运动。 当压力探针与砷化镓抛光片接触时,将以一定的力施压在砷化镓抛光片上,直至砷化镓抛光片破裂为止,系统自动记录砷化镓抛光片所能承受的最大压力,将这一压力值记为试样的机械强度。
图 A.1 强度测试原理示意图
A.3 仪器
A.3 . 1 压力探针。
A.3 . 2 电动立式测试台。
A.3 . 3 圆环形托架。
A.4 测试环境
A.4. 1 测试温度:20 ℃ ±0.5 ℃。
A.4.2 相对湿度 ≤65%。
A.5 试样
按 6 . 4 的方法抽取待测试样后,再将测试样的表面清洁、干燥后进行测试。
A.6 测试步骤
A.6 . 1 将电动立式测试台的速度设为 0 . 2 mm/min~3 mm/min,压力探针将以该设定的速度垂直向测试台的圆环形托架运动。
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A.6 . 2 调整圆环形托架与压力探针之间的距离,使压力探针回到最高点,以便将砷化镓抛光片放在圆环形的平台上,平台的面积正好能放入试样,圆环的外环至内环的距离为 2 mm。
A.6 . 3 将砷化镓抛光片放在圆环形托架的平台上。
A.6 . 4 按强度仪开始按钮,压力探针将以设定的速度向圆环形托架运动,直至砷化镓抛光片破裂,系统将自动记录压力的峰值。
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