GB/T 34081-2017 波长选择开关

　　ICS 33 . 180 . 20 M 33

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 34081—2017

　　波 长 选 择 开 关

　　wavelengthselectiveswitch

　　2017-07-31 发布 2017-1 1-01 实施

　　中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会

　　发

　　布

　　GB/T 34081—20 17

　　GB/T 34081—20 17

　　前 言

　　本标准按照 GB/T 1 . 1—2009 给出的规则起草。

　　请注意本文件的某些内容可能涉及专利。 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

　　本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。

　　本标准由工业和信息化部(通信)归口 。

　　本标准主要起草单位：武汉烽火科技集团有限公司、中兴通讯股份有限公司，中国信息通信研究院、深圳新飞通光电子技术有限公司、深圳 日海通讯技术股份有限公司、四川华明创新光电科技有限公司。

　　本标准主要起草人：胡强高、孙莉萍、袁志林、杨柳、杨睿、谢德权、郑彦升、武成宾、赵文玉、陈悦、王冰、徐秋霜。

　　GB/T 34081—20 17

　　波 长 选 择 开 关

　　1 范围

　　本标准规定了波长选择开关(以下简称 WSS)的术语和定义、缩略语、分类、技术要求、测试方法、可靠性试验、检验规则及标志、包装、运输和贮存。

　　本标准适用于光通信系统中的 WSS器件，其他应用环境下的 WSS器件也可参照使用。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件对于本文件的应用是必不可少的。 凡是注 日期的引用文件，仅注 日期的版本适用于本文件 。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

　　的测定

　　GB/T 26572—2011 电子电气产品中限用物质的限量要求

　　YD/T 2003—2009 可重构的光分插复用(ROADM)设备技术要求

　　SJ/ T 11364—2014 电子电气产品有害物质限制使用标识要求

　　ITU-T G.694.1—2012 WDM应用的光谱栅格：DWDM频率栅格(Spectral grids for WDM appli- cations : DWDM frequency grid)

　　Telcordia GR-1209-CORE: 2010 无源光器件总规范 (Generic requirements for passive optical components)

　　Telcordia GR-1221-CORE: 1999 无源光器件可靠性保证总规范(Generic reliability assurance re- quirements for passive optical components)

　　3 术语和定义、缩略语

　　3 . 1 术语和定义

　　YD/T 2003—2009 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

　　3 . 1 . 1

　　波长选择开关 wavelengthselectiveswitch

　　用以实现任意波长或波长组合在任意输出端口衰减、切换或阻塞的光器件，如图 1 和图 2 所示。

　　3 . 1 . 2

　　端口数目 numberofports

　　WSS所有输入和输出端口数目之和。

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　　注：Λa 、Λb …Λi 代表(λ1 、λ2…λn)的任意组合，且 Λa 、Λb …Λi 之间无交集。

　　图 1 1 × N Wss功能原理框图

　　注：Λa 、Λb …Λi 代表(λ1 、λ2…λn)的任意组合，且 Λa 、Λb …Λi 之间无交集。

　　图 2 N × 1 Wss功能原理框图

　　3 . 1 . 3

　　最小设置带宽 minimum settingbandwidth

　　任意输出端口切换、衰减或阻塞的最小带宽。

　　3 . 1 . 4

　　最大设置带宽 maximum settingbandwidth

　　任意输出端口切换、衰减或阻塞的最大带宽。

　　3 . 1 . 5

　　带宽设置分辨率 bandwidthsettingresolution

　　在带宽设置范围内，各端口所能设置的带宽最小变化量的最大值。

　　3 . 1 . 6

　　带宽设置精度 bandwidthsettingaccuracy

　　在带宽设置范围内，各端口带宽设置值与实际值之差绝对值的最大值。

　　3 . 1 . 7

　　同一端口的插入损耗一致性 insertionlossuniformityatthesameport

　　同一端口内，所有通道固有插入损耗的最大值和最小值之差的绝对值，单位为分贝(dB),如图 3 所示，定义见式(1) :

　　ILU =|ILmin - ILmax | …………………………( 1 )

　　式中：

　　ILU — 同一端口的插入损耗一致性，单位为分贝( dB) ;

　　ILmin — 同一端口内，所有通道固有插入损耗的最小值，单位为分贝( dB) ;

　　ILmax — 同一端口内，所有通道固有插入损耗的最大值，单位为分贝( dB) 。

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　　图 3 同一端口的插入损耗一致性定义示意图

　　3 . 1 . 8

　　端口间的插入损耗一致性 insertionlossuniformityamongdifferentports

　　WSS器件所有端口内，所有通道固有插入损耗的最大值和最小值之差的绝对值，单位为分贝( dB) ,定义见式(2) :

　　ILU-P =|ILminp - ILmaxp | …………………………( 2 )

　　式中：

　　ILU-P —端口间的插入损耗一致性，单位为分贝( dB) ;

　　ILmin p —所有端口内，所有通道固有插入损耗的最小值，单位为分贝( dB) ;

　　ILmax p —所有端口内，所有通道固有插入损耗的最大值，单位为分贝( dB) 。

　　3 . 1 . 9

　　衰减范围 attenuationrange

　　衰减值可设置的最大值和与最小值之间的差值，单位为分贝( dB) 。

　　3 . 1 . 10

　　衰减精度 attenuationaccuracy

　　在衰减范围内，所有通道在各端口衰减的设置值与实际值之差绝对值的最大值，单位为分贝( dB) 。

　　3 . 1 . 1 1

　　衰减分辨率 attenuationresolution

　　在工作波长范围内，所有通道在各端口所能设置的最小衰减变化量的最大值，单位为分贝( dB) 。

　　3 . 1 . 12

　　衰减量的时间稳定性 attenuationstabilityovertime

　　所有通道在任意端口衰减值设置固定时，在规定的时间范围内，衰减变化量绝对值的最大值，单位

　　为分贝( dB) 。

　　3 . 1 . 13

　　衰减响应时间 attenuationresponsetime

　　任意通道在任意端口从接收衰减指令到完成指定衰减量所需要的最大时间，单位为毫秒(ms) 。

　　3 . 1 . 14

　　切换响应时间 switchresponsetime

　　任意通道在任意端口从接收切换指令到完成指定切换所需要的最大时间，单位为毫秒(ms) 。

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　　3 . 1 . 15

　　波长热稳定性 wavelengththermalstability

　　WSS器件所有端口所有通道的中心波长，在规定的工作温度范围内和衰减范围内，随温度变化而产生的漂移量的最大值，通常表示为每单位温度(℃) 的波长漂移量，单位为纳米每摄氏度(nm/℃) 。

　　3 . 1 . 16

　　插入损耗热稳定性 insertionlossthermalstability

　　WSS器件所有端口所有通道的插入损耗，在规定的工作温度范围内和衰减范围内，随温度变化而产生的变化 量 的 最 大 值，通 常 表 示 为 每 单 位 温 度 ( ℃ ) 的 插 入 损 耗 变 化 量，单 位 为 分 贝每 摄 氏 度( dB/ ℃ ) 。

　　3 . 1 . 17

　　切换串扰 switchingcrosstalk

　　WSS器件的所有通道在端 口 间进行切换操作时，对非 目标端口产生的光功率干扰，单位为分贝( dB) 。

　　3 . 1 . 18

　　端口间隔离度 portisolation

　　WSS器件任意工作波长在任意工作端口和非工作端口之间的插入损耗差值的绝对值的最小值，单位为分贝( dB) 。

　　3 . 2 缩略语

　　下列缩略语适用于本文件。

　　ESD：静电放电 (Electrostatic Discharge)

　　HBM：人体模型(Human Body Model)

　　ILU：同一端口的插损一致性(Insertion Loss Uniformity At The Same Port)

　　ILU-P：端口间的插损一致性(Insertion Loss Uniformity Among Different Ports)

　　ROADM：可重构光分插复用器(Reconfigurable Optical Add-Drop Multiplexer)

　　RoHS：关于限制在电子电 器 设 备 中 使 用 某 些 有 害 成 分 的 指 令 ( Restriction of Hazardous Sub-

　　stances)

　　WSS：波长选择开关(Wavelength Selective Switch)

　　4 分类

　　4 . 1 工作通道最小频率间隔

　　按工作通道最小频率间隔可分为：

　　a) 100 GHz ;

　　b ) 50 GHz ;

　　c) n× 12.5 GHz(n≥1,且 n取整数)。

　　4 . 2 输入/输出端口数

　　按输入/输出端口数可分为：

　　a) 1 × N ;

　　b ) N × 1 。

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　　4 . 3 工作波段范围

　　按工作波段范围可分为：

　　a) C波段(1 527 nm~1 568 nm) ;

　　b) L波段(1 569 nm~1 608 nm)。

　　5 技术要求

　　5 . 1 功能要求

　　为达到可重构的光分插复用系统应用要求，WSS器件应支持以下功能：

　　a) 可实现任意输出端口带宽可调，可调范围为最小设置带宽到最大设置带宽，可调带宽的最小变化量为带宽设置分辨率;

　　b ) 对工作波长范围内的任意通道，在其通带宽度内可实现衰减范围内的指定衰减量;

　　c) 对工作波长范围内的任意通道，在其通带宽度内可实现阻塞的功能;

　　d) 对工作波长范围内的任意通道，可实现各输出端口(或输入端口)间的任意切换。

　　5 . 2 性能参数要求

　　WSS器件的性能参数要求如表 1 所示。

　　表 1 wss的性能参数要求

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　　表 1(续)

　　GB/T 34081—20 17

　　5 . 3 外形尺寸和引出端排列

　　WSS外形尺寸和引出端排列参见附录 A。

　　5 . 4 外观要求

　　WSS外观应平滑、无油渍、无伤痕、无裂纹，整个器件牢固，引线无松动或端 口连接器的插拔应平顺。

　　5 . 5 环保符合性要求

　　WSS 的组成单元分类应符合 GB/T 26572—2011 中表 1 的规定，有毒有害物质的限量要求按GB/T 26125—2011 规定检测，应符合 GB/T 26572—2011 中表 2 的规定。

　　6 测试方法

　　6 . 1 测试环境要求

　　测试环境应符合 GB/T 2421 . 1—2008 中 5 . 3 . 1 规定的大气条件。

　　6 . 2 测试仪器要求(非通用仪器仪表)

　　测试所用的仪器仪表应在有效校准期内，其精度应高于所测参数精度的一个数量级。

　　6 . 3 外观检查

　　进行光学性能测试前，对 WSS器件进行目测检查，外观应符合 5 . 4 的规定。

　　6 . 4 中心波长、中心波长准确度、波长热稳定性、带宽的测试

　　6 . 4 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 4 所示。

　　图 4 中心波长、中心波长准确度、波长热稳定性、带宽测试原理框图

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　　6 . 4 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 如图 4 所示，将宽谱光源的输出端接光谱分析仪的输入端，存储宽谱光源的光谱为参考光谱。

　　b ) 将待测 WSS放入温度试验箱，连接宽谱光源和光谱分析仪，控制 WSS 正常工作;固定栅格WSS 的通道频率间隔取其固定栅格，灵活栅格 WSS 的通道频率间隔取最小频率间隔，并以ITU-T G. 694 . 1—2012 标称的中心频率为准;将温度试验箱的温度设置为常温(+ 25 ℃), 恒温 30 min后进行测试。

　　c) λc-a-p-t为中心波长，BWc-p-b-t为带宽值，中心波长准确度计算方法见式(3),波长热稳定性计算方法见式(4) 。

　　式中：

　　c —取值 1~N，代表 WSS所能控制的通道序号;

　　a —取值 0、5、10、15,分别代表 0 dB 衰减、5 dB 衰减、10 dB 衰减、15 dB 衰减，单位为分贝( dB) ;

　　p —取值 1~n，代表输出端口编号;

　　b —取值 0.5、3.0、20,分别代表 - 0. 5 dB 带宽、- 3. 0 dB 带宽、- 20 dB 带宽，单位为分贝( dB) ;

　　t —取值 5、25、65,分别代表-5 ℃、+25 ℃、+65 ℃,单位为摄氏度(℃) ;

　　λITU-T-c — 和中心波长λc-a-p-t对应的 ITU-T标准波长，单位为纳米(nm) ;

　　λc-65 —WSS在 +65 ℃时的中心波长指标，单位为纳米(nm) ;

　　λc-5 —WSS在- 5 ℃时的中心波长指标，单位为纳米(nm) 。

　　d) 分别设置 WSS 的奇数通道和偶数通道至输出端 口 P1 ,所有通道衰减 0 dB, 获取带宽组合矩阵，

　　BW1 -1 -0.5-25 BW2-1 -0.5-25 … BWN-1 -0.5-25

　　BW1 -1 -3.0-25 BW2-1 -3.0-25 … BWN-1 -3.0-25

　　取带宽组合矩阵第一行的最小值为-0 . 5 dB带宽指标值，取第二行的最小值为- 3 . 0 dB 带宽指标值;分 别 设 置 奇 数 通 道 和 偶 数 通 道 至 输 出 端 口 P1 , 获 取 - 20 dB 的 带 宽 组 合 矩 阵 BW1-1-20-25 BW2-1-20-25 … BWN-1-20-25 ,取最大值为-20 dB带宽指标值 。

　　e) 分别设置奇数通道和偶数通道衰减 0 dB、5 dB、10 dB 和 15 dB;获取中心波长组合矩阵和中心波长准确度组合矩阵，

　　λ1 -0-1 -25 λ2-0-1 -25 … λN-0-1 -25 Δλ1 -0-1 -25 Δλ2-0-1 -25 … ΔλN-0-1 -25

　　λ1 -5-1 -25 λ2-5-1 -25 … λN-5-1 -25 Δλ1 -5-1 -25 Δλ2-5-1 -25 … ΔλN-5-1 -25

　　λ1 -10-1 -25 λ2-10-1 -25 … λN-0-1 -25 Δλ1 -10-1 -25 Δλ2-10-1 -25 … ΔλN-0-1 -25

　　λ1 -15-1 -25 λ2-15-1 -25 … λN-15-1 -25 Δλ1 -15-1 -25 Δλ2-15-1 -25 … ΔλN-15-1 -25

　　取中心波长准确度组合矩阵中的最大值为中心波长准确度指标值，并取对应行的中心波长阵列为中心波长指标值。

　　f) 分别设置 WSS 的奇数通道和偶数通道至输出端口 PK(K=2,3,…n)，重复步骤 d) ~步骤 e ) ,完成测试;取所有端口 -0 . 5 dB带宽的最小值为常温时的- 0 . 5 dB 带宽指标值，取所有端 口

　　-3 . 0 dB 带宽的最小值为常温时的-3 . 0 dB 带宽指标值，取所有端 口 - 20 dB 带宽的最大值为常温时的-20 dB带宽指标值;取所有端口的中心波长准确度最大值为常温时的中心波长准确度指标，取对应端口的中心波长指标为常温时的中心波长指标。

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　　g) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 d) ~步骤 f),完成测试，获取低温和高温时的- 0 . 5 dB 带宽指标、- 3 . 0 dB 带宽指标和- 20 dB 带宽指标，同时获取低温和高温时的中心波长准确度指标和对应的中心波长指标。

　　h) 取三个温度下的-0.5 dB 带宽和- 3.0 dB 带宽的最小值为 WSS 的 - 0.5 dB 带宽和- 3.0 带宽指标值，取三个温度下的-20 dB带宽的最大值为 WSS 的 - 20 带宽指标值;取三个温度下的中心波长准确度最大值为 WSS 的中心波长准确度指标，取对应温度的中心波长为 WSS 的中心波长指标。

　　i) 根据式(4)计算出波长热稳定性组合矩阵 δλ1 -65-5 δλ2-65-5 … δλN-65-5 ,取矩阵中的最大值为 WSS 的波长热稳定性指标。

　　6 . 5 固有插入损耗、插入损耗热稳定性、通带内损耗不平坦度的测试

　　6 . 5 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 5 所示。

　　图 5 固有插入损耗、插入损耗热稳定性、通道内损耗不平坦度测试原理框图

　　6 . 5 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 如图 5 所示，将可调谐激光器输出端接光功率计的输入端，存储可调谐激光器的功率为参考功率。

　　b ) 将待测 WSS放入温度试验箱，连接可调谐激光器和光功率计，控制 WSS正常工作;固定栅格WSS 的通道频率间隔取其固定栅格，灵活栅格 WSS 的通道频率间隔取最小频率间隔，并以ITU-T G. 694 . 1—2012 标称的中心频率为准;将温度试验箱的温度设置为常温(+ 25 ℃), 恒温 30 min后进行测试。

　　c) ILc-p-t为各通道的固有插入损耗，插入损耗热稳定性计算方法见式(5) , 式(5) 中 的 70 代表

　　- 5 ℃ ~65 ℃工作温度的变化区间值;通道内损耗不平坦度计算方法见式(6),式中 c、a、p、t的定义同 6 . 4 . 2 。

　　δILc-65-5 =|ILc-65 - ILc-5 |/70 …………………( 5 )

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　　Rippc-a-p-t=|ILM-c-a-p-t - ILm-c-a-p-t | …………………( 6 )

　　式中：

　　ILc-65 —WSS在 +65 ℃时的固有插入损耗指标，单位为分贝( dB) ;

　　ILc-5 —WSS在- 5 ℃时的固有插入损耗指标，单位为分贝( dB) ;

　　ILM-c-a-p-t—通道有效带宽范围内的插入损耗最大值，单位为分贝( dB) ;

　　ILm-c-a-p-t —通道有效带宽范围内的插入损耗最小值，单位为分贝( dB) 。

　　d) 分别设置 WSS 的奇数通道和偶数通道至输出端口 P1 ,所有通道衰减 0 dB,取通道有效带宽内的损耗最差值为固定插入损耗，获取组合矩阵，

　　IL1 -1 -25 IL2-1 -25 … ILN-1 -25

　　取组合矩阵中最大值为固有插入损耗指标值。

　　e) 获取 0 dB衰减时的通道内损耗不平坦度组合矩阵，

　　Ripp1 -0-1 -25 Ripp2-0-1 -25 … RippN-0-1 -25

　　f) 依次分别设置奇数通道和偶数通道衰减 5 dB、10 dB 和 15 dB,重复步骤 e),形成组合矩阵， Ripp1 -0-1 -25 Ripp2-0-1 -25 … RippN-0-1 -25

　　Ripp1 -5-1 -25 Ripp2-5-1 -25 … RippN-5-1 -25

　　Ripp1 -10-1 -25 Ripp2-10-1 -25 … RippN-0-1 -25

　　Ripp1 -15-1 -25 Ripp2-15-1 -25 … RippN-15-1 -25

　　取组合矩阵中的最大值为通道内损耗不平坦度指标值。

　　g) 分别设置 WSS 的奇数通道和偶数通道至输出端口 PK(K=2,3,…n)，重复步骤 d) ~步骤 f) ,完成测试;取所有端口固有插入损耗的最大值为常温时的固有插入损耗指标值，取所有端 口通道内损耗不平坦度的最大值为常温时的通道内损耗不平坦度的指标值。

　　h) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温( + 65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 d) ~步骤 g) ,完成测试，获取低温和高温时的固有插入损耗指标值、通道内损耗不平坦度的指标值。

　　i ) 取三个温度下的固有插入损耗和通道内损耗不平坦度的最大值为 WSS 的固有插入损耗和通道内损耗不平坦度的指标值;根据式(5)计算得出 WSS 的插入损耗热稳定性指标值。

　　6 . 6 相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度的测试

　　6 . 6 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 4 所示。

　　6 . 6 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 按照 6 . 4 . 2 中的测试步骤 a) 和 b)放置并连接 WSS,设定常温( + 25 ℃), 恒温 30 min 后进行测试。

　　b) ACIc-p-t为各通道的相邻通道隔离度，NCIc-p-t为非相邻通道隔离度，其中，c、p、t的定义同 6 . 4. 2 。

　　c) 将 WSS 的第 1 通道设置成直通输出端口 1,其余通道全部关断，如图 6 所示计算得到第 1 通道在端口 1 的相邻通道隔离度 ACI1-1-25 值和非相邻通道隔离度 NCI1-1-25 值 。

　　d) 依次设置第 2 、3 、… 、N 通道直通输出端 口 1,重复步骤 c), 得到相邻通道隔离度组合矩阵| ACI1-1-25 ACI2-1-25 … ACIN-1-25 | 和非相邻通道隔离度组合矩阵 | NCI1-1-25 NCI2-1-25 …

　　NCIN-1-25 | 。

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　　图 6 相邻通道隔离度、非相邻通道隔离度定义示意图

　　e) 依次改变直通端口到 2、3、… 、n端 口，重复步骤 c) ~d),得到相邻通道隔离度组合矩阵，

　　ACI1-1-25

　　ACI1-2-25 …

　　ACI1-n-25

　　和非相邻通道隔离度组合矩阵，

　　NCIN-1-25

　　NCIN-2-25 …

　　NCIN-n-25

　　各取两个矩阵中的最大值为 WSS在常温 +25 ℃的相邻通道隔离度指标值和非相邻通道隔离度指标值。

　　f) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 c) ~步骤 e),完成测试，获取低温和高温时的相邻通道隔离度指标值、非相邻通道隔离度指标值。

　　g) 取三个温度下的相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度的最大值为 WSS 的相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度的指标值。

　　6 . 7 偏振相关损耗的测试

　　6 . 7 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 7 所示。

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　　图 7 偏振相关损耗测试原理框图

　　6 . 7 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 如图 7 所示，将偏振控制器输出端接光功率计的输入端，存储可调谐激光器和偏振控制器的功率为参考功率。

　　b ) 将待测 WSS放入温度试验箱，连接偏振控制器和光功率计，控制 WSS 正常工作;固定栅格WSS 的通道频率间隔取其固定栅格，灵活栅格 WSS 的通道频率间隔取最小频率间隔，并以ITU-T G. 694 . 1—2012 标称的中心频率为准;将温度试验箱的温度设置为常温(+ 25 ℃), 恒温 30 min后进行测试。

　　c) PDLc-a-p-t为各通道的偏振相关损耗，其中：c、a、p、t的定义同 6 . 4 . 2 。

　　d) 设置 WSS通道 1 直通输出端口 1,衰减 0 dB,其余通道全部关断，将激光器调谐至通道 1 对应的 ITU-T标准波长，控制偏振控制器随机改变激光的偏振态，取插入损耗的最大值和最小值的差值绝对值，作为偏振相关损耗 PDL1-0-1-25 。

　　e) 依 次 设 置 通 道 1 衰 减 5 dB、10 dB、15 dB, 记 录 偏 振 相 关 损 耗 值 PDL1-0-1-25 、PDL1-5-1-25 、 PDL1-10-1-25 和 PDL1-15-1-25 。

　　f) 依次设置第 2、3、… 、N 通道直通输出端口 1,重复步骤 d) ~e),得到偏振相关损耗组合矩阵， PDL1-0-1-25 PDL2-0-1-25 … PDLN-0-1-25

　　PDL1-5-1-25 PDL2-5-1-25 … PDLN-5-1-25

　　PDL1-10-1-25 PDL2-10-1-25 … PDLN-0-1-25

　　PDL1-15-1-25 PDL2-15-1-25 … PDLN-15-1-25

　　取矩阵中的最大值为偏振相关损耗指标值。

　　g) 分别设置通道 1~N 至输出端口 PK(K=2,3,…n)，重复步骤 d) ~f),完成测试;取所有端口偏振相关损耗最大值为常温时的偏振相关损耗指标值。

　　h) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温( + 65 ℃),恒温 30 min, 重复步骤 d) ~步骤 g) ,完成测试，获取低温和高温时的偏振相关损耗指标值。

　　i ) 取三个温度下偏振相关损耗的最大值为 WSS 的偏振相关损耗指标值。

　　6 . 8 偏振模色散的测试

　　按 GB/T 20440—2006 中 5 . 4 . 5 的要求和本标准 6 . 4 中的测试步骤进行，固定栅格 WSS 的通道频

　　GB/T 34081—20 17

　　率间隔取其固定栅格，灵活栅格 WSS 的通道频率间隔取最小频率间隔，并以 ITU-T G. 694 . 1—2012 标称的中心频率为准，需分别测试不同通道在不同端口、不同衰减(0 dB、5 dB、10 dB 和 15 dB)及不同温度(- 5 ℃ 、+25 ℃和 +65 ℃)时的偏振模色散，取最大值为 WSS 的偏振模色散指标。

　　6 . 9 回波损耗的测试

　　按 GB/T 20440—2006 中 5 . 4 . 6 的要求和本标准 6 . 4 中的测试步骤进行，固定栅格 WSS 的通道频率间隔取其固定栅格，灵活栅格 WSS 的通道频率间隔取最小频率间隔，并以 ITU-T G. 694 . 1—2012 标称的中心频率为准，需分别测试不同通道在不同端口及不同温度(- 5 ℃ 、+ 25 ℃和+ 65 ℃) 时的回波损耗，取最小值为 WSS 的回波损耗指标。

　　6 . 10 方向性的测试

　　按 GB/T 20440—2006 中 5 . 4 . 7 的要求和本标准 6 . 4 中的测试步骤进行，固定栅格 WSS 的通道频率间隔取其固定栅格，灵活栅格 WSS 的通道频率间隔取最小频率间隔，并以 ITU-T G. 694 . 1—2012 标称的中心频率为准，需分别测试不同通道在不同端口、不同衰减(0 dB、5 dB、10 dB 和 15 dB)及不同温度(- 5 ℃ 、+25 ℃和 +65 ℃)时的方向性，取最小值为 WSS 的方向性指标。

　　6 . 1 1 色散的测试

　　按 GB/T 20440—2006 中 5 . 4 . 8 的要求和本标准 6 . 4 的测试步骤进行，固定栅格 WSS 的通道频率间隔取其固定栅格，灵活栅格 WSS 的通道频率间隔取最小频率间隔，并以 ITU-T G. 694 . 1—2012 标称

　　的中心频率为准，需分别测试不同通道在不同端口、不同衰减(0 dB、5 dB、10 dB 和 15 dB)及不同温度( - 5 ℃ 、+25 ℃和 +65 ℃)时的色散值，取最大值为 WSS 的色散指标。

　　6 . 12 同一端口的插入损耗一致性、端口间的插入损耗一致性的测试

　　6 . 12 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 5 所示。

　　6 . 12 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a ) 按照 6 . 5 . 2 中的测试步骤 a)和 b)放置并连接 WSS,设定常温(+25 ℃),恒温 30 min后进行测试。

　　b ) 按照 6 . 5 . 2 中 c)定义 ILc-p-t为各通道的固有插入损耗。

　　c) 依 次 设 置 通 道 1 ~ N 从 端 口 1 输 出，记 录 各 通 道 的 固 有 插 入 损 耗，得 到 组 合 矩 阵 IL1-1-25 IL2-1-25 … ILN-1-25 ,取矩阵中最大值和最小值之差为端 口 1 的同一端口的插入损耗一致性指标值。

　　d) 依次设置通道 1~N 从端口 Pk(k=2,3,…n)输出，重复步骤 c),得到组合矩阵， IL1-1-25 IL2-1-25 … ILN-1-25

　　IL1-2-25 IL2-2-25 … ILN-2-25

　　… … … …

　　IL1-n-25 IL2-n-25 … ILN-n-25

　　取矩阵中第 k(k=1~n)行的最大值和最小值之差为端口 k 的同一端口的插入损耗一致性指标值，并取所有端口的最大值为常温时的同一端口的插入损耗一致性指标值;取矩阵中最大值和最小值之差为常温时的端口间的插入损耗一致性指标值。

　　e ) 分别设置温度试验箱为低温(-5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 c) ~d),完成测试，

　　GB/T 34081—20 17

　　获取低温和高温时的同一端口的插入损耗一致性指标值、端口间的插入损耗一致性指标值。

　　f) 取三个温度下的最大值为同一端 口 的插入损耗一致性指标值和端 口 间的插入损耗一致性指标值。

　　6 . 13 消光比的测试

　　6 . 13 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 4 所示。

　　6 . 13 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 按照 6 . 4 . 2 中的测试步骤 a) 和 b)放置并连接 WSS,设定常温( + 25 ℃), 恒温 30 min 后进行测试。

　　b) ERc-p-t为消光比，其中，c、p、t的定义同 6 . 4 . 2;ERc-p-t的计算参见图 8 。

　　图 8 消光比定义示意图

　　c) 分别设置 WSS 的奇数通道和偶数通道至输出端口 P1 ,衰减 0 dB,记录所有通道在有效带宽范围内的插入损耗最差值;设置所有通道关断，记录在有效带宽范围内的插入损耗最佳值;根据图 7 定义，计算出所有通道的消光比值，得到组合矩阵 | ER1-1-25 ER2-1-25 … ERN-1-25 | 。

　　d) 分别设置 WSS 的所有通道至输出端 口 PK(K=2,3,…n)，重复步骤 c),完成测试，得到组合矩阵，

　　ER1-1-25 ER2-1-25 … ERN-1-25

　　ER1-2-25 ER2-2-25 … ERN-2-25

　　… … … …

　　ER1-n-25 ER2-n-25 … ERN-n-25

　　取矩阵中的最小值为常温时的消光比指标。

　　e) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 c) ~d),完成测试，获取低温和高温时的消光比指标值。

　　f) 取三个温度下消光比的最小值为 WSS 的消光比指标值。

　　GB/T 34081—20 17

　　6 . 14 衰减范围、衰减精度和衰减分辨率的测试

　　6 . 14 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 5 所示。

　　6 . 14 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 按照 6 . 5 . 2 中的测试步骤 a) 和 b) 放置并连接 WSS,设定常温+ 25 ℃ ,恒温 30 min 后进行测试。

　　b) ARc-p-t为衰减范围，AAc-a-p-t为衰减精度，ARRc-a-p-t为衰减分辨率，ARRL 为衰减分辨率的标示值，其中，c、a、p、t的定义同 6 . 4 . 2 。

　　c) 将 WSS 的第 1 通道设置成直通输出端 口 1,其余通道全部关断，记录 0 dB 衰减时的光功率PO1 ,设置通道 1 的衰减值为最大衰减值，记录光功率 PO2 ,衰减范围 AR1-1-25 为 PO1 - PO2 。

　　d) 依次 设 置 第 2 、3 、… 、N 通 道 直 通 输 出 端 口 1 , 重 复 步 骤 c ) , 得 到 衰 减 范 围 组 合 矩 阵 AR1-1-25 AR2-1-25 … ARN-1-25 ,取矩阵中的最小值为衰减范围指标。

　　e) 设 置 通 道 1 在 输 出 端 口 1 的 衰 减 值 为 5 dB, 记 录 光 功 率 值 PO3 , 衰 减 精 度 AA1-5-1-25为 PO1 - PO3 - 5 。

　　f) 依次设置通道 1 的衰减值为 10 dB、15 dB, 记录光功率值 PO4 和 PO5 ,衰减精度 AA1-10-1-25 和AA1-15-1-25 分别为 PO1 - PO4 - 10 和 PO1 - PO5 - 15 。

　　g) 依次设置第 2、3、… 、N 通道直通输出端口 1,重复步骤 e) ~f),得到衰减精度组合矩阵， AA1-0-1-25 AA2-0-1-25 … AAN-0-1-25

　　AA1-5-1-25 AA2-5-1-25 … AAN-5-1-25

　　AA1-10-1-25 AA2-10-1-25 … AAN-0-1-25

　　AA1-15-1-25 AA2-15-1-25 … AAN-15-1-25

　　取矩阵中的最大值为衰减精度指标。

　　h) 分别设置 WSS 的第 1 通道衰减值为 (0 dB+ARRL)、(5 dB+ARRL)、( 10 dB+ARRL) 和 (15 dB-ARRL), 分别记录光功率 PO6、PO7、PO8 和 PO9 ,衰减分辨率 ARR1-0-1-25 、ARR1-5-1-25 、 ARR1-10-1-25 和 ARR1-15-1-25 分 别 为 PO1 - PO6 、 PO1 - PO7 - 5 、 PO1 - PO8 - 10 和 PO1 - PO9 - 15 。

　　i ) 依次设置第 2、3、… 、N 通道直通输出端口 1,重复步骤 h),得到衰减分辨率组合矩阵， ARR1-0-1-25 ARR2-0-1-25 … ARRN-0-1-25

　　ARR1-5-1-25 ARR2-5-1-25 … ARRN-5-1-25

　　ARR1-10-1-25 ARR2-10-1-25 … ARRN-0-1-25

　　ARR1-15-1-25 ARR2-15-1-25 … ARRN-15-1-25

　　取矩阵中的最大值为衰减分辨率指标。

　　j) 分别设置 WSS 的所有通道至输出端口 PK(K=2,3,…n)，重复步骤 c) ~步骤 i),完成测试;取所有端口衰减范围的最小值为常温时的衰减范围指标值，取所有端口衰减精度、衰减分辨率的最大值为衰减精度、衰减分辨率的指标值。

　　k ) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 c) ~h),完成测试，获取低温和高温时的衰减范围指标值、衰减精度指标值、衰减分辨率指标值。

　　l ) 取三个温度下的衰减范围最小值为 WSS 的衰减范围指标值，衰减精度和衰减分辨率的最大值为 WSS 的衰减精度和衰减分辨率的指标值。

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　　6 . 15 衰减量的时间稳定性的测试

　　6 . 15 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 5 所示。

　　6 . 15 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 按照 6 . 5 . 2 中的测试步骤 a)和 b)放置并连接 WSS,设定常温+25 ℃,恒温 30 min后进行测试。

　　b) ILc-15-p-t为衰减 15 dB时的插入损耗，ASc-p-t为衰减量的时间稳定性，其中，c、p、t的定义同 6 . 4. 2 。

　　c) 将 WSS 的所有通道设置在端口 1 衰减 15 dB,调节可调谐激光器的输出波长，依次记录各通道在衰减 15 dB 时的功率值 ILc-15-1 -25(C=1~N)。

　　d) 保持所有通道在 15 dB衰减状态不变，24 h后，再次调节可调谐激光器的输出波长，依次记录各通道在衰减 15 dB 时的功率值 IL-15-1 -25(C=1~N)。

　　e) 根据公式 ASc-1 -25 = IL-15-1-25 -ILc-15-1 -25 ,计算各通道的衰减量的时间漂移量，得到组合矩阵 AS1-1-25 AS2-1-25 … ASN-1-25 。

　　f) 分别设置 WSS 的所有通道在端口 PK(K=2,3,…n)衰减 15 dB, 重复步骤 c) ~e), 得到组合矩阵，

　　AS1-1-25 AS2-1-25 … ASN-1-25

　　AS1-2-25 AS2-2-25 … ASN-2-25

　　… … … …

　　AS1-n-25 AS2-n-25 … ASN-n-25

　　取矩阵中的最大值为常温时的衰减量的时间稳定性指标。

　　g) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 c) ~f),完成测试，获取低温和高温时的衰减量的时间稳定性指标值。

　　h) 取三个温度下的衰减量的时间稳定性最大值为 WSS 的衰减量的时间稳定性指标值。

　　6 . 16 衰减响应时间、切换响应时间的测试

　　6 . 16 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 9 所示。

　　图 9 衰减响应时间、切换响应时间测试原理框图

　　GB/T 34081—20 17

　　6 . 16 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 将待测 WSS放入温度试验箱，控制 WSS正常工作，将温度试验箱的温度设置为常温(+25 ℃ ) ,恒温 30 min后进行测试。

　　b ) 将可调激光器的输出端口接 WSS 的输入端口，间隔最远的两个输出端口通过耦合器接入到示波器，示波器需带快速光电转换器探头。

　　c) ATc-p-t为衰减响应时间，STc-t为切换响应时间，其中：c、p、t的定义同 6 . 4 . 2 。

　　d) 将 WSS 的第 1 通道设置成直通输出端口 1、衰减 0 dB,设置在端口 1 衰减 15 dB,通过示波器捕捉并记录稳定的时间 AT1-1-25 ;衰减时间起点以初始功率的 90%为准，时间终点以衰减后稳定功率的 10%增加值为准。

　　e) 依次设置第 2、3、…、N 通道，重复步骤d),得到组合矩阵 AT 1-1-25 AT 2-1-25 … AT N-1-25 。

　　f) 将端口 1 依次替换为端口 PK(K=2,3,…n)，重复步骤 d) ~e),得到组合矩阵， AT1-1-25 AT2-1-25 … ATN-1-25

　　AT1-2-25 AT2-2-25 … ATN-2-25

　　… … … …

　　AT1-n-25 AT2-n-25 … ATN-n-25

　　取矩阵中的最大值为常温时的衰减响应时间指标值。

　　g) 将间隔最远的两个端口接在耦合器的两端，设置通道 1 在此两个端口之间切换，通过示波器捕捉并记录切换最后稳定的时间 ST1-25 ;切换时间起点以初始功率的 90%为准，终点以切换稳定功率的 90%为准。

　　h) 依次设置第 2、3、…、N 通道，重复步骤 g),得到组合矩阵 ST1-1-25 ST2-1-25 … STN-1-25 ,取组合中的最大值为常温时的切换响应时间指标值。

　　i ) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 d) ~h),完成测试，获取低温和高温时的衰减响应时间和切换响应时间指标值。

　　j) 取三个温度下的最大值为 WSS 的衰减响应时间和切换响应时间指标值。

　　6 . 17 切换串扰的测试

　　6 . 17 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 5 所示。

　　6 . 17 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a ) 按照 6 . 5 . 2 中的测试步骤 a)和 b)放置并连接 WSS,设定常温(+25 ℃),恒温 30 min后进行测试，此项指标测试中，功率计应为快速功率计，响应时间应小于 1 ms。

　　b) SIc-p-t为切换串扰，其中，p取值 2~(n-1),代表切换过程中的非 目标端口编号，其余参数同

　　6 . 4 . 2 。

　　c) 控制 WSS 的通道 1 在间隔最远的两个端口之间切换，通过快速功率计，依次获取中间各个端口的串扰功率值。

　　d) 依次设置 2、3、… 、N 通道在间隔最远的两个端口之间切换，重复步骤 c),得到组合矩阵， SI1-2-25 SI2-2-25 … SIN-2-25

　　SI1-3-25 SI2-3-25 … SIN-3-25

　　… … … …

　　SI1-(n-1)-25 SI2-(n-1)-25 … SIN-(n-1)-25

　　GB/T 34081—20 17

　　取矩阵中的最小值为常温时的切换串扰指标值。

　　e) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 c) ~d),完成测试，获取低温和高温时的切换串扰指标值。

　　f) 取三个温度下的切换串扰最小值为 WSS 的切换串扰指标值。

　　6 . 18 端口间隔离度的测试

　　6 . 18 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 5 所示。

　　6 . 18 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 按照 6 . 5 . 2 中的测试步骤 a) 和 b)放置并连接 WSS,设定常温( + 25 ℃), 恒温 30 min 后进行测试。

　　b) PIc-p-t为端口间隔离度，其中，c、p、t的定义同 6 . 4 . 2 。

　　c) 将 WSS 的第 1 通道设置成直通输出端口 1、衰减 0 dB,记录端 口 1 此时的光功率值 P1 ,依次记录其余端口的光功率值，取最大值记为 P2 ,端口间隔离度 PI1-1-25 为 P2 - P1 。

　　d) 依次设置第 2、3 、… 、N 通道，重复步骤 c),得到组合矩阵 PI1-1-25 PI2-1-25 … PIN-1-25 。

　　e) 将端口 1 依次替换为端口 PK(K=2,3,…n)，重复步骤 c) ~d),得到组合矩阵， PI1-1-25 PI2-1-25 … PIN-1-25

　　PI1-2-25 PI2-2-25 … PIN-2-25

　　… … … …

　　PI1-n-25 PI2-n-25 … PIN-n-25

　　取矩阵中的最小值为常温时的端口间隔离度指标值。

　　f) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 c) ~e),完成测试，获取低温和高温时的端口间隔离度指标值。

　　g) 取三个温度下端口间隔离度的最小值为 WSS 的端口间隔离度指标值。

　　6 . 19 最小设置带宽、最大设置带宽、带宽设置分辨率的测试

　　6 . 19 . 1 测试原理

　　测试原理框图如图 4 所示。

　　6 . 19 . 2 测试步骤

　　测试步骤如下：

　　a) 按照 6 . 4 . 2 中的测试步骤 a) 和 b) 放置并连接 WSS,设定常温+ 25 ℃ ,恒温 30 min 后进行测试。

　　b) mBW∞-a-p-t为最小设置带宽，MBWa-p-t为最大设置带宽，BWRa-p-t为带宽设置分辨率，其中，a、 p、t的定义同 6 . 4 . 2 , ∞ 代表波长区域，∞ = s 代表工作波段的最短波长，∞ = m 代表工作波段的中心波长，∞ = l代表工作波段的最长波长。

　　c ) 设置所有通道衰减 0 dB,输出至端口 P1 ,分别在最短波长、中心波长和最长波长最小设置带宽进行测试，记录数据 mBWs-0-1 -25 mBWm-0-1-25 mBWl-0-1-25 。

　　d) 分别设置所有通道衰减 5 dB、10 dB 和 15 dB,重复步骤 c),得到组合矩阵，

　　GB/T 34081—20 17

　　mBWs-0-1-25 mBWm-0-1-25 mBWl-0-1-25

　　mBWs-5-1-25 mBWm-5-1-25 mBWl-5-1-25

　　mBWs-10-1-25 mBWm-10-1-25 mBWl-10-1-25

　　mBWs-15-1-25 mBWm-15-1-25 mBWl-16-1-25

　　取矩阵中的最大值为最小设置带宽的指标值。

　　e) 设置所有通道衰减 0 dB,设置最大带宽输出至端口 P1 ,记录 MBW0-1 -25 。

　　f) 分别设置所有通道衰减 5 dB、10 dB 和 15 dB,重复步骤 e),得到组合矩阵， MBW0-1 -25 MBW5-1 -25 MBW10-1 -25 MBW15-1 -25

　　取矩阵中的最小值为最大设置带宽的指标值。

　　g) 设置最大设置带宽的一半进行测试，得到带宽数值 BW1 ,设置带宽 BW2(带宽 BW2 为 BW1 加上带宽设置分辨率)进行测试，通过计算 BW2 -BW1 得到带宽设置分辨率 BWR0-1-25 。

　　h) 分别设置所有通道衰减 5 dB、10 dB 和 15 dB,重复步骤 g),得到组合矩阵， BWR0-1 -25 BWR5-1 -25 BWR10-1 -25 BWR15-1 -25

　　取矩阵中的最大值为带宽设置分辨率的指标值。

　　i ) 设置 WSS 的所有通道至输出端口 PK(K=2,3,…n)，重复步骤 c) ~步骤h),完成测试;取所有端口的最小设置带宽的最大值为最小设置带宽的指标值，取所有端 口 的最大设置带宽的最小值为最大设置带宽的指标值，取所有端口的带宽设置分辨率的最大值为带宽设置分辨率的指标值。

　　j) 分别设置温度试验箱为低温(- 5 ℃)和高温(+65 ℃),恒温 30 min,重复步骤 c) ~步骤 i),完成测试;取所有温度的最小设置带宽的最大值为 WSS最小设置带宽的指标值，取所有温度的最大设置带宽的最小值为 WSS最大设置带宽的指标值，取所有温度带宽设置分辨率的最大值为 WSS带宽设置分辨率的指标值。

　　7 可靠性试验

　　7 . 1 可靠性试验环境要求

　　同 6 . 1 。

　　7 . 2 可靠性试验要求

　　可靠性试验要求应符合表 2 的规定。

　　表 2 可靠性试验要求

　　GB/T 34081—20 17

　　表 2(续)

　　7 . 3 失效判据

　　各项试验完成后，出现下列故障中的任意一种情况即判定为不合格：

　　a) 外壳破裂或有裂纹，WSS 内部元件发生脱落;

　　b ) 在相同测试条件和测试方法下，试验前后，插入损耗变化量大于 1 . 0 dB;

　　c) WSS 的技术指标不满足表 1 的性能参数要求。

　　GB/T 34081—20 17

　　8 检验规则

　　8 . 1 检验分类

　　检验分为出厂检验和型式检验。

　　8 . 2 出厂检验

　　8 . 2 . 1 常规检验

　　常规检验应百分之百进行，检验项目如下：

　　a) 性能检测。 按 6 . 4 规定的测试方法，对性能参数固有插入损耗、偏振相关损耗、衰减精度、衰减范围、-0 . 5 dB通道带宽、-3 . 0 dB通道带宽进行检测，检测结果符合表 1 的性能参数规定。

　　b ) 高温电老化(适用时)：

　　— 在最大工作温度下，WSS正常工作状态，老化时间至少 24 h ;

　　— 恢复：在正常大气条件下恢复 1 h后按 6 . 4 规定的测试方法进行测试;

　　— 失效判据：WSS 的技术指标不满足表 1 的性能参数要求。

　　c) 温度循环(适用时)：

　　— 非工作状态，极限温度- 40 ℃ 、+ 85 ℃ ,循环次数 20 次，高、低温维持时间 30 min,温度变化速率大于或等于 10 ℃ / min;

　　— 恢复：在正常大气条件下恢复 1 h后按 6 . 4 规定的测试方法进行测试;

　　— 失效判据：WSS 的技术指标不满足表 1 的性能参数要求。

　　8 . 2 . 2 抽样检验

　　从批量生产中生产的同批或若干批产品中，按 GB/T 2828 . 1—2012 规定，取一般检查水平 Ⅱ ,接收质量限(AQL)和检验项目如下：

　　a) 外观 ：

　　—AQL取 1.5 ;

　　— 检验方法：目测，表面无明显划痕，无各种污点，产品标识清晰牢固。

　　b ) 外形尺寸：

　　—AQL取 1.5 ;

　　— 检验方法：用满足精度要求的量度工具测量，应符合产品技术条件规定。

　　c) 性能检测：

　　—AQL取 0.4 ;

　　— 检验方法：按 6 . 4 的规定进行测试，其结果符合表 1 规定。

　　8 . 3 型式检验

　　8 . 3 . 1 检验条件

　　WSS有下列情况之一时，应进行型式检验：

　　a) 产品定型时或已转场;

　　b ) 正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时;

　　c) 产品长期停产 12 个月后，恢复生产时;

　　d) 出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时;

　　e) 正常生产 24 个月后;

　　GB/T 34081—20 17

　　f) 国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。

　　8 . 3 . 2 检验要求

　　在进行型式检验前，按 6 . 4~6 . 19 的测试要求，对样品的性能参数进行测试，并记录测试结果。

　　8 . 3 . 3 检验项目及抽样方案

　　型式检验的检验项目及抽样方案见表 2 。

　　8 . 3 . 4 样品的处理

　　凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用。

　　8 . 3 . 5 产品不合格的判定

　　各项试验完成后，不合格的判定按 7 . 3 的规定执行，若其中任何一项试验不符合要求时，则判该批不合格。

　　8 . 3 . 6 不合格批的重新提交

　　对不合格分组的产品，可进行返工，以纠正缺陷或筛除去失效产品，然后重新检验。 重新检验应采用加严抽样方案，如通过检验，判为合格。 但重新检验不得超过 2 次，并应清楚标明为重新检验批。

　　8 . 3 . 7 检验规则

　　在不影响检验和试验结果的条件下，一组样品可用于其他分组的检验和试验。

　　8 . 3 . 8 检验批的构成

　　提交检验的批，可由一个生产批构成，或由符合下述条件的几个生产批构成：

　　— 这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的;

　　— 若干个生产批构成一个检验批的时间不超过 1 个月。

　　9 标志、包装、运输和贮存

　　9 . 1 标志

　　9 . 1 . 1 标志内容

　　每个产品应标明产品型号、规格、编号、批的识别代码及安全等标志。

　　9 . 1 . 2 标志要求

　　进行全部试验后，标志应保持清晰。 标志损伤了的产品应重新打印标志，以保证发货之前标志的清晰。

　　9 . 1 . 3 污染控制标志

　　产品的污染控制标志应按 SJ/ T 11364—2014 第 5 章规定，在包装盒或产品上打印上电子信息产品污染控制标志。

　　9 . 2 包装

　　产品应有良好的包装及防静电措施，避免在运输过程中受到损坏。 包装盒上应标有产品名称、型号

　　GB/T 34081—20 17

　　和规格、生产厂家、防静电标识等。

　　包装盒内应有产品说明书。 说明书内容包括：WSS 名称、型号，简要工作原理和主要技术指标，极限工作条件，安装尺寸和管脚排列，使用注意事项等。

　　9 . 3 运输

　　包装好的产品使用常用的交通工具运输，运输中避免雨、雪的直接淋袭，烈 日暴晒和猛烈撞击。

　　9 . 4 贮存

　　产品应贮存在环境温度为- 10 ℃ ~ + 45 ℃ ,相对湿度不大于 85%且无腐蚀性气体、液体的仓库里 。贮存期超过 12 个月的产品，出库前，应按 6 . 4 的规定进行指标测试，测试结果符合表 1 要求方可出库。

　　GB/T 34081—20 17

　　附 录 A

　　(资料性附录)

　　wss外形图和引出端排列

　　A.1 1 × 2 wss外形图

　　1 × 2 WSS外形图如图 A. 1 所示。

　　单位为毫米

　　图 A.1 1 × 2 wss外形图

　　A.2 1 × 9 wss外形图

　　1 × 9 WSS外形图如图 A. 2 所示。

　　GB/T 34081—20 17

　　单位为毫米

　　图 A.2 1 × 9 wss外形图

　　A.3 wss引 出端排列

　　WSS 引出端排列及功能描述如表 A. 1 所示。

　　表 A.1 wss引 出端排列

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　　A.4 wss外形图和引脚定义补充说明

　　所有型号 WSS 的电接口均采用表 A. 1 中的定义。

　　1×N(2≤N≤9) WSS外形尺寸不得小于 1 × 2 WSS外形尺寸，不得大于 1×9WSS外形尺寸。