GB/T 46482-2025 LED+LD用稀土荧光片

　　ICS 77. 120.99 CCS H 65

　　中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准

　　GB/T 46482—2025

　　LED/LD用稀土荧光片

　　Rare-earth phosphor film forLED/LD

　　2025-10-05发布 2026-05-01实施

　　国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

　　

　　发

　　

　　布

　　GB/T 46482—2025

　　Ⅰ

　　前

　　本文件按照 GB/T 1. 1—2020《标准化工作导则

　　

　　言

　　第 1 部分 :标准化文件的结构和起草规则》的规

　　定起草 。

　　请注意本文件的某些内容可能涉及专利 。本文件的发布机构不承担识别专利的责任 。

　　本文件由全国稀土标准化技术委员会(SAC/TC229)提出并归 口 。

　　本文件起草单位 :江苏博睿光电股份有限公司 、有研稀土新材料股份有限公司 、厦门大学 、厦门稀土材料研究所 、江西理工大学 、包头稀土研究院 、有研稀土高技术有限公司 、内蒙古稀土功能材料创新中心有限责任公司 。

　　本文件主要起草人 :梁超 、谢 士 会 、吴 斌 、刘 玉 洁 、陈 晓 霞 、解 荣 军 、李 淑 星 、宋 立 军 、林 福 霖 、李 燕 、刘和连 、刘波 、王忠志 、张霞 、郭钟楷 、李凯 、廉毅洁 、杨鹏宇 、蒙丽娟 。

　　GB/T 46482—2025

　　LED/LD用稀土荧光片

　　1 范围

　　本文件规定了 LED/LD用稀土荧光片的牌号和牌号表示方法 、技术要求 、检验规则和包装 、标志 、运输 、贮存及随行文件 ,描述了相应的试验方法 。

　　本文件适用于经热处理制得的稀土荧光片 ,主要用于制备由蓝光 LED/LD芯片激发的白光或特定颜色 LED/LD发光器件 。

　　2 规范性引用文件

　　下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款 。其中 , 注 日期的引用文件 ,仅该日期对应的版本适用于本文件 ;不注日期的引用文件 ,其最新版本(包括所有的修改单) 适用于本文件 。

　　GB/T 5838. 1 荧光粉 第 1部分 :术语

　　GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定

　　GB/T 23595. 3 LED用稀土荧光粉试验方法 第 3部分 :色品坐标的测定

　　GB/T 23595. 4 LED用稀土荧光粉试验方法 第 4部分 :高温高湿性能的测定

　　GB/T 23595. 7 LED用稀土荧光粉试验方法 第 7部分:热猝灭性能的测定

　　GB/T 23595. 8 LED用稀土荧光粉试验方法 第 8部分 :高压加速老化性能的测定

　　GB/T 24982 白光 LED用石榴石结构铝酸盐系列荧光粉

　　GB/T 32642 平板显示器基板玻璃表面粗糙度的测量方法

　　GB/T 36356 功率半导体发光二极管芯片技术规范

　　GB/T 39492 白光 LED用荧光粉量子效率测试方法

　　3 术语和定义

　　GB/T 5838. 1 和 GB/T 24982界定的以及下列术语和定义适用于本文件 。

　　3. 1

　　稀土荧光片 rare-earth phosphor film

　　由稀土荧光粉或稀土荧光粉和无机非金属粉体材料通过热处理得到荧光块材 ,再经切割 、研磨或抛光 、划片等加工工序制得的片状产品 。

　　3.2

　　孔洞 hole

　　稀土荧光片表面存在的孔隙或坑洞缺陷 。

　　3.3

　　崩边 chipping

　　稀土荧光片边缘存在的破损 。

　　3.4

　　裂纹 crack

　　稀土荧光片表面的狭长缝隙缺陷 。

　　1

　　GB/T 46482—2025

　　3.5

　　高温老化性能 high temperatureagingperformance

　　稀土荧光片在高温环境中存储一段时间后 ,其色品坐标漂移和光(辐射)功率的变化情况 。 3.6

　　高压加速老化性能 pressurecookeragingperformance

　　稀土荧光片在 200 ℃ 、相对湿度 100% ,在 2. 43× 105 Pa极端条件下保温 12 h,其色品坐标漂移和光(辐射)功率的变化情况 。

　　3.7

　　耐冷热冲击性能 thermalshock resistanceperformance

　　稀土荧光片在 -40℃的冷场中存储 15min后立即转入 125 ℃热场中存储 15min,重复冲击 1000回合后 ,其色品坐标漂移和光(辐射)功率的变化情况 。

　　4 牌号和牌号表示方法

　　产品按颜色和材质分为七个牌号 。牌号由英文字母组成 ,共分为三个层次 ,第一层次表示产品的颜色 ,如“Y”代表黄色 ,“G”代表绿色 ,“O”代表橙色 ,“A”代表琥珀色 ;第二层次表示产品的材质 ,如“G”代表玻璃 、“C”代表陶瓷 ;第三层次(若有)表示显色指数 ,“A”代表中低显色指数白光(Ra : 60~ 75) 、“B”代表较高显色指数白光(Ra :80~ 95) ,单色产品不标注 。产品牌号对应的荧光片颜色 、材质和适用范围见表 1。

　　表 1 产品牌号、荧光片颜色、材质及适用范围

　　牌号

　　稀土荧光片颜色

　　材质

　　适用范围

　　GG

　　绿色

　　玻璃

　　用于制作绿色光源

　　YG

　　黄色

　　玻璃

　　用于制作黄色光源

　　YGA

　　黄色

　　玻璃

　　用于制作中低显色指数 Ra (60~ 75)白色光源

　　YGB

　　黄色

　　玻璃

　　用于制作较高显色指数 Ra (80~ 95)白色光源

　　YCA

　　黄色

　　陶瓷

　　用于制作黄色或中低显色指数 Ra (60~ 75)白色光源

　　OC

　　橙色

　　陶瓷

　　用于制作橙黄色光源

　　AG

　　琥珀色

　　玻璃

　　用于制作琥珀色光源

　　5 技术要求

　　5. 1 表面粗糙度

　　产品的表面粗糙度(Ra)应小于 0. 3 μm。

　　5.2 外形尺寸允许偏差

　　产品的外形尺寸允许偏差应符合表 2 的规定 。

　　2

　　GB/T 46482—2025

　　表 2 外形尺寸允许偏差

　　单位为微米

　　稀土荧光片

　　产品厚度

　　50~ 100

　　>100~ 300

　　厚度偏差

　　±5

　　±10

　　边长偏差

　　±20

　　±40

　　直径偏差

　　±30

　　±40

　　5.3 外观质量

　　产品在光学显微镜 200倍视场下 ,外观质量应符合表 3 的规定 。

　　表 3 外观质量

　　缺陷类型

　　缺陷示意图

　　尺寸特征

　　要求

　　孔洞

　　孔径

　　大于 50 μm

　　不准许

　　30 μm~ 50 μm

　　YGB和 AG 牌 号 任 一 1 mm2 内不 超 过 30 处 , 其 余 牌 号 任 一1 mm2 内不超过 10处

　　崩边

　　宽度不小于 30 μm

　　不准许

　　裂纹

　　贯穿式开裂长度不小于 40 μm

　　不准许

　　异物

　　正面(出光面)大于 30 μm 的异物

　　不准许

　　正面(出光面)不大于 30 μm 的异物

　　1 mm2 内不超过 5 处

　　背面(入光面)大于 2 μm 的异物

　　不准许

　　5.4 产品性能

　　产品的性能应符合表 4 的规定 ,需方如对产品有特殊要求 , 由供需双方协商确定 。

　　3

　　GB/T 46482—2025

　　表 4 产品性能指标

　　产品牌号

　　GG

　　YG

　　YGA

　　YGB

　　YCA

　　OC

　　AG

　　色品坐标

　　x

　　0. 050 0~

　　0. 350 0

　　0. 350 0~ 0. 450 0

　　0. 450 0~

　　0. 500 0

　　0. 500 0~

　　0. 590 0

　　y

　　0. 500 0~

　　0. 800 0

　　0. 450 0~ 0. 580 0

　　0. 480 0~

　　0. 530 0

　　0. 400 0~

　　0. 500 0

　　内量子效率 (IQE)

　　≥75%

　　≥65%

　　≥75%

　　≥60%

　　≥65%

　　热猝

　　灭性能

　　Dxy

　　≤0. 020 0

　　≤0. 030 0

　　≤0. 020 0

　　Φe

　　≤10. 0%

　　≤15. 0%

　　≤10. 0%

　　≤15. 0%

　　≤75. 0%

　　≤10. 0%

　　高温

　　老化

　　性能

　　Dxy

　　≤0. 0070

　　≤0. 010 0

　　≤0. 0070

　　Φe

　　≤5. 0%

　　高压

　　加速

　　老化

　　性能

　　Dxy

　　≤0. 010 0

　　≤0. 020 0

　　≤0. 010 0

　　≤0. 020 0

　　Φe

　　≤5. 0%

　　≤10. 0%

　　≤5. 0%

　　≤10. 0%

　　耐冷

　　热冲

　　击性能

　　Dxy

　　≤0. 007

　　≤0. 010

　　≤0. 007

　　≤0. 010

　　Φe

　　≤7. 0%

　　≤10. 0%

　　注 : 内量子效率 、热猝灭性能 、高温老化性能 、高压加速老化性能和耐冷热冲击性能不作为验收依据 。

　　5.5 化学成分

　　产品的主要化学成分见附录 A,不作为验收依据 。

　　6 试验方法

　　6. 1 表面粗糙度

　　按 GB/T 32642的规定进行 。

　　6.2 外形尺寸允许偏差

　　按附录 B 的规定进行 。

　　4

　　GB/T 46482—2025

　　6.3 外观质量

　　按附录 B 的规定进行 。

　　6.4 色品坐标

　　按 GB/T 23595. 3 的规定进行 ,设备 、样品尺寸按附录 C 的规定进行 。

　　6.5 内量子效率

　　按 GB/T 39492的规定进行 ,设备 、样品尺寸按附录 C 的规定进行 。

　　6.6 热猝灭性能

　　按 GB/T 23595. 7 的规定进行 ,设备 、样品尺寸按附录 C 的规定进行 。

　　6.7 高温老化性能

　　按 GB/T 23595. 4 的规定进行 ,设备 、样品尺寸 、测试条件按附录 C 的规定进行 。

　　6. 8 高压加速老化性能

　　按 GB/T 23595. 8 的规定进行 ,设备 、样品尺寸 、测试条件按附录 C 的规定进行 。

　　6.9 耐冷热冲击性能

　　按附录 D 的规定进行 。

　　6. 10 化学成分

　　产品化学成分的检验方法由供需双方协商确定 。

　　7 检验规则

　　7. 1 检查与验收

　　7. 1. 1 产品由供方检测部门或第三方进行检验 ,保证产品质量符合本文件(或订货合同) 的规定 ,并填写产品质量证明书 。

　　7. 1.2 需方应对收到的产品按本文件的规定进行检验 。如检验结果与本文件规定不符时 ,可在收到产品之日起 3个月内向供方提出 , 由供需双方协商解决 。如需仲裁 ,可委托双方认可的单位进行 ,并在需方共同取样 。

　　7.2 组批

　　产品应成批提交检验 ,每批应由同一牌号的产品组成 ,每批产品应不大于 2 000千件 。

　　7.3 检验项目

　　每批产品应进行表面粗糙度 、外形尺寸允许偏差 、外观质量 、色品坐标检验 , 内量子效率 、热猝灭性能 、高温老化性能 、高压加速老化性能和耐冷热冲击性能 、化学成分不作为必检项 ,如需检验 ,供需双方可另行协商确定 。

　　5

　　GB/T 46482—2025

　　7.4 取样

　　7.4. 1 表面粗糙度、外观尺寸允许偏差和外观质量取样

　　产品表面粗糙度 、外观尺寸允许偏差和外观质量取样件数按表 5 的规定进行 。

　　表 5 取样件数

　　每批数量/千件

　　<200

　　200~ 1 000

　　>1 000~ 2 000

　　取样件数/件

　　1 000

　　2 000

　　3 000

　　7.4.2 性能和化学成分检验取样

　　产品性能和化学成分检验取样件数按表 6 的规定进行 。

　　表 6 取样件数

　　每批数量/千件

　　<500

　　500~ 1 000

　　>1 000~ 2 000

　　取样件数/件

　　10

　　30

　　50

　　7.5 检验结果判定

　　7.5. 1 检验结果按照 GB/T 8170的规定进行修约 ,并采用修约值比较法判定 。

　　7.5.2 产品的表面粗糙度 、外观尺寸允许偏差 、外观质量检测结果不符合本文件要求时 ,判该批产品为不合格 。

　　7.5.3 产品性能色品坐标检验结果不符合本文件要求时 ,从该批产品中另取双倍试样对不合格项 目进行重复试验 ,如结果仍不合格 ,则判定该批产品为不合格 。若需方要求对内量子效率 、热猝灭性能 、高温老化性能 、高压加速老化性能 、耐冷热冲击性能 、化学成分进行检验 ,供需双方可协商判定 。

　　8 包装、标志、运输、贮存及随行文件

　　8. 1 包装、标志、运输、贮存

　　产品的包装 、标志 、运输 、贮存应按 GB/T 36356 的规定进行 ,产品包装应使用防潮的包装材料 ,外包装箱应有 “易碎物品 ”图示标志 ,贮存应置于相对湿度不大于 60%的无腐蚀性环境中 。

　　8.2 随行文件

　　每批产品应附有随行文件 ,包括但不限于 :

　　a) 产品合格证 ;

　　b) 质量证明书 ;

　　c) 分析检测结果 ;

　　d) 其他 。

　　6

　　GB/T 46482—2025

　　附 录 A

　　(资料性)

　　稀土荧光片的主要化学成分

　　稀土荧光片的主要化学成分为含稀土元素铈(Ce)的石榴石型铝酸盐荧光粉 、含稀土元素铕(Eu)的氮化物橙红色荧光粉及其他无机非金属材料 。稀土荧光片的主要化学成分见表 A. 1。

　　表 A. 1 主要化学成分

　　牌号

　　产品

　　材质

　　主要化学成分

　　GG

　　绿色荧光片

　　玻璃

　　β-SiAlON:Eu或 AlON:Mn或

　　(Lu,Y) 3 (Al,Ga) 5 O12 :Ce

　　YG

　　黄色荧光片

　　玻璃

　　(Y,Gd) 3 (Al,Ga) 5 O12 :Ce

　　YGA

　　黄色荧光片

　　玻璃

　　(Y,Gd) 3 (Al,Ga) 5 O12 :Ce

　　YGB

　　黄色荧光片

　　玻璃

　　(Lu,Y,Gd) 3 (Al,Ga) 5 O12 :Ce和 α-SiAlON:Eu或(Ca,Sr) AlSiN3 :Eu或(Ca,Sr,Ba) 2 Si5 N8 :Eu

　　YCA

　　黄色荧光片

　　陶瓷

　　(Lu,Y,Gd) 3 (Al,Ga) 5 O12 :Ce

　　OC

　　橙黄色荧光片

　　陶瓷

　　(Y,Gd) 3 Al5 O12 :Ce或 Ca-α-SiAlON:Eu

　　AG

　　琥珀色荧光片

　　玻璃

　　(Y,Gd) 3 Al5 O12 :Ce和(Ca,Sr) AlSiN3 :Eu或

　　α-SiAlON:Eu

　　7

　　GB/T 46482—2025

　　附 录 B

　　(规范性)

　　稀土荧光片的外形尺寸与外观质量检测方法

　　B. 1 原理

　　厚度测量仪通过接触式测量方法 ,测量出稀土荧光片的厚度 ;采用二次元光学影像测量仪通过对工件图像构造 、电荷耦合器件(CCD)采集 、空间几何运算 ,得出稀土荧光片的边长或直径 。采用光学显微镜 ,通过肉眼观察稀土荧光片是否存在外观质量缺陷 。

　　B.2 仪器设备

　　B.2. 1 厚度测量仪 :包含千分表和基准平台两个部件 ,千分表的分度值为 1 μm;基准平台表面粗糙度(Ra)不大于 0. 2 μm。

　　B.2.2 二次元光学影像测量仪 :测量精度为 ±2μm;基准平台表面粗糙度(Ra)不大于 0. 2 μm。

　　B.2.3 光学显微镜 :放大倍率最大可至 300倍 ,具有测量功能 ,测量精度为 ±2 μm;基准平台表面粗糙度(Ra)不大于 0. 2 μm。

　　B.3 样品

　　符合仪器尺寸要求的稀土荧光片 。

　　B.4 试验环境

　　B.4. 1 环境温度 :25 ℃ ±2 ℃ 。

　　B.4.2 相对湿度 :不大于 60% 。

　　B.5 试验步骤

　　B.5. 1 仪器校正

　　按照厚度测量仪(B. 2. 1)和二次元光学影像测量仪(B. 2. 2)使用说明书进行仪器的校正 。

　　B.5.2 检测

　　B.5.2. 1 外形尺寸

　　将样品放置于厚度测量仪测试平台的基准面上 ,利用千分表的探头按规定图形(见图 B. 1) 的路径沿 x 和 y 两个方向在距离边缘大于 100 μm 处及中心选取 5个检测点,进行检测 。

　　8

　　9

　　

　　GB/T

　　

　　46482—2025

　　图 B. 1 稀土荧光片厚度检测点位的示意图

　　将稀土荧光片放置于二次元光学影像测量仪测试平台的基准面上 ,调节 CCD镜头高度使稀土荧光片轮廓清晰 ,选择二次元影像测量仪中的图像分析识别功能 ,在屏幕上手动/自动构造出四个边(方形稀土荧光片)或圆(针对圆形稀土荧光片) ,检测边长或直径 。

　　B.5.2.2 外观质量

　　将稀土荧光片放置于光学显微镜测试平台 ,调节放大倍数至 200倍进行观察 ,调节照明光源 ,移动稀土荧光片 ,观察是否有孔洞 、崩边 、裂纹 、异物等缺陷 。

　　GB/T 46482—2025

　　附 录 C

　　(规范性)

　　稀土荧光片的测试设备及样品尺寸规格要求

　　C. 1 仪器设备

　　光谱辐射分析仪 :

　　— 波长准确度 : ±0. 5 nm;

　　— 波长重复度 ±0. 2 nm;

　　— 色品坐标准确度 : ±0. 001;

　　— 光谱范围 :380 nm~ 780 nm;

　　— 激发光源 : 由蓝光 LED和滤光片组成 ,激发光源功率密度不低于 2 W/mm2 ,激发光的峰值波长为 450 nm~460 nm ,半峰带宽小于 15 nm;

　　— 激发光垂直激发样品室里的稀土荧光片样品后 , 发出的荧光在与稀土荧光片样品法线成 45°方向被收集 ,激发光源点亮稳定 10 min后 ,稳定度优于 0. 1% 。

　　C.2 样品尺寸规格

　　边长为 11 mm~ 13 mm 的方形或直径为 15 mm~ 18 mm 的圆形 。

　　C.3 测试条件

　　稀土荧光片的老化性能测试条件应符合表 C. 1 的规定 。

　　表 C. 1 稀土荧光片的老化性能测试条件

　　老化测试项 目

　　测试条件

　　高温老化性能

　　— 稀土荧光玻璃片 :220 ℃ ,保温时间 24h;

　　— 稀土荧光陶瓷片 :1 500 ℃ ,保温时间 2 h

　　高压加速老化性能

　　200 ℃ 、相对湿度 100% ,2. 43× 105 Pa,保温时间 12 h

　　10

　　GB/T 46482—2025

　　附 录 D

　　(规范性)

　　稀土荧光片耐冷热冲击性能测试方法

　　D. 1 原理

　　稀土荧光片进行冷热冲击处理后 ,对其外观质量进行检查 ,根据外观质量评判稀土荧光片的耐受环境温度快速变化的特性 。

　　D.2 设备

　　D.2. 1 冷热冲击试验箱 :温度精度为 ±1℃ ,最高工作温度不低于 125 ℃ ,最低工作温度不高于 -40℃ 。

　　D.2.2 烘箱 :最高工作温度不低于 65 ℃ ,温度精度为 ±5 ℃ 。

　　D.2.3 光 学 显 微 镜 : 有 同 轴 检 测 光 源 , 且 具 有 检 测 功 能 , 检 测 精 度 不 低 于 1% , 放 大 倍 数 可 放 大 至300倍 。

　　D.2.4 光谱辐射分析仪 :采用 460 nm 的准单色激发源 , 波长准确度为 ±0. 3 nm , 光谱范围 380 nm~ 780 nm ,色品坐标准确度为 ±0. 002 0,色品坐标重复性为 ±0. 000 3。

　　D.2.5 光谱辐射分析仪样品盘 :用不锈钢制作 , 内径 20 mm±0. 5 mm ,深度 3. 0 mm±0. 1 mm ,用于承载稀土荧光片 。

　　D.2.6 光谱辐射分析仪光电探测器 :探测器的相对光谱响应度符合国家一级照度探测器的要求 。

　　D.3 样品

　　外观质量合格的稀土荧光片 ,边长为 11 mm~ 13 mm 的方形或直径为 15 mm~ 18 mm 的圆形 。

　　D.4 试验环境

　　D.4. 1 环境温度 :25 ℃ ±2 ℃ 。

　　D.4.2 相对湿度 :不大于 65% 。

　　D.4.3 光照环境要求 :在较暗的环境下 ,避免强光干扰 。

　　D.5 试验步骤

　　D.5. 1 仪器校正

　　按照光谱辐射分析仪(D. 2. 4)使用说明书进行仪器的校正 。

　　D.5.2 平行试验

　　平行做 2 次试验 。

　　D.5.3 测试

　　D.5.3. 1 取样品(D. 3)置于烘箱中 ,于 60 ℃烘 12 h。

　　D.5.3.2 将烘干后的样品(D. 5. 3. 1)冷却至室温 。

　　D.5.3.3 开启光谱辐射分析仪 ,将激发光源设置为 460 nm ,光功率密度调至 2 W/mm2 ,点亮激发光源并稳定 10 min。

　　D.5.3.4 将冷却后的样品(D. 5. 3. 2)装入样品盘(D. 2. 5)内 ,并固定 。

　　11

　　GB/T 46482—2025

　　D.5.3.5 将样品盘(D. 5. 3. 4)放至载盘托架上 ,测得样品的光(辐射)功率 Φe0 ,按照 GB/T 23595. 3 的要求进行色品坐标(x0,y0 )的测定 。

　　D.5.3.6 将样品(D. 5. 3. 5)放置在直径 100 mm 的玻璃培养皿中 。

　　D.5.3.7 设定冷 热 冲 击 试 验 箱 (D. 2. 1) 的 热 箱 温 度 为 125 ℃ , 设 定 冷 热 冲 击 试 验 箱 的 冷 箱 温 度 为-40 ℃ 。冷热冲击试验箱的冷箱和热箱到达温度设定值后 ,运行 0. 5 h。

　　D.5.3. 8 将样品(D. 5. 3. 6)放在冷热冲击试验箱的移动吊篮中 , 吊篮在冷箱中存储 15 min后 ,快速移至热箱中存储 15 min,然后再移至冷箱中 ,如此循环 1 000次 。

　　D.5.3.9 取出样品(D. 5. 3. 8) ,置于烘箱中于 60 ℃烘 12 h。

　　D.5.3. 10 将烘干后的样品(D. 5. 3. 9)冷却至室温 。

　　D.5.3. 11 用光学显微镜按照产品外观质量要求检查冷却后的样品(D. 5. 3. 10)外观是否合格 。

　　D. 5.3. 12 开启光谱辐射分析仪 ,将激发光源设置为 460 nm ,光功率密度调至 2 W/mm2 ,点亮激发光源并稳定 10 min。

　　D.5.3. 13 将冷却后的外观质量合格的试验样品(D. 5. 3. 11)装入样品盘(D. 2. 5)内 ,并固定 。

　　D.5.3. 14 将样品盘(D. 5. 3. 13)放至载盘托架上 ,测得样品的光(辐射) 功率 Φet,按照 GB/T 23595. 3 的要求进行色品坐标(xt,yt)的测定 。

　　D.6 试验数据处理

　　D.6. 1 色品坐标漂移 Dxy按公式(D. 1)计算 :

　　Dxy = (xt - x0 ) 2 + (yt - y0 ) 2 …………………………( D. 1 )

　　式中 :

　　xt ,yt — 高压加速冷热冲击处理后的稀土荧光片的色品坐标 ;

　　x0,y0 — 原始稀土荧光片的色品坐标 。

　　根据 2 次测试结果计算平均值 ,计算结果保留小数点后 4位 ,数值修约按 GB/T 8170的规定进行 。 D.6.2 光(辐射)功率变化幅度 ΔΦe 按公式(D. 2)计算 :

　　式中 :

　　Φet— 冷热冲击处理后的稀土荧光片的光(辐射)功率 ;

　　Φe0— 原始稀土荧光片的光(辐射)功率 。

　　根据 2 次测试结果计算平均值 ,计算结果保留小数点后 1位 ,数值修约按 GB/T 8170的规定进行 。

　　12