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资料介绍
本文件描述了微波电路中检波器(以下简称“检波器”)的电参数测试方法。
本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试,包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。
标准号:GB/T 42972-2023
标准名称:微波电路 检波器测试方法
英文名称:Microwave circuits—Test methods for detector
发布日期:2023-09-07
实施日期:2024-01-01
引用标准:GB/T 17573-1998
起草人:迟雷、彭浩、高金环、黄杰、高蕾、赵涛、王磊、陈季翔、王钾、魏兵、赵鹏、徐昕、何黎、米村艳
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、深圳市标准技术研究院、深圳市深标知识产权促进中心、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、武汉格物芯科技有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门:中华人民共和国工业和信息化部
本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试,包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。
标准号:GB/T 42972-2023
标准名称:微波电路 检波器测试方法
英文名称:Microwave circuits—Test methods for detector
发布日期:2023-09-07
实施日期:2024-01-01
引用标准:GB/T 17573-1998
起草人:迟雷、彭浩、高金环、黄杰、高蕾、赵涛、王磊、陈季翔、王钾、魏兵、赵鹏、徐昕、何黎、米村艳
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、深圳市标准技术研究院、深圳市深标知识产权促进中心、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、武汉格物芯科技有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门:中华人民共和国工业和信息化部
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