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CMOS数字集成电路:分析与设计 (第3版) (美)Sung-Mo Kang,Yusuf Leblebici著
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书名=CMOS数字集成电路:分析与设计 第3版=CMOS Digital Integrated Cirucits Analysis and Design Third Edition
作者=(美)Sung-Mo Kang,Yusuf Leblebici著;王志功,窦建华等译
页数=482
出版日期=2009.06
参考文献格式=康松默约瑟夫·列波列比西著.CMOS数字集成电路 分析与设计.北京市:电子工业出
本书详细讲述CMOS数字集成电路的相关内容,反映现代技术发展水平并提供了电路设计的最新资料。本书共十五章。前八章
详细讨论MOS晶体管的相关特性和工作原理、基本反相器电路设计、组合逻辑电路及时序逻辑电路的结构与工作原理;第9章介绍应用
于先进VLSI芯片设计的动态逻辑电路,第10章介绍先进的半导体存储电路,第11章介绍低功耗CMOS逻辑电路,第12章介绍双极性晶体
管基本原理和BiCMOS数字电路设计,第13章详细介绍芯片的I/O设计,最后两章分别讨论电路的可制造性设计和可测试性设计这两个重
要问题。
作者=(美)Sung-Mo Kang,Yusuf Leblebici著;王志功,窦建华等译
页数=482
出版日期=2009.06
参考文献格式=康松默约瑟夫·列波列比西著.CMOS数字集成电路 分析与设计.北京市:电子工业出
本书详细讲述CMOS数字集成电路的相关内容,反映现代技术发展水平并提供了电路设计的最新资料。本书共十五章。前八章
详细讨论MOS晶体管的相关特性和工作原理、基本反相器电路设计、组合逻辑电路及时序逻辑电路的结构与工作原理;第9章介绍应用
于先进VLSI芯片设计的动态逻辑电路,第10章介绍先进的半导体存储电路,第11章介绍低功耗CMOS逻辑电路,第12章介绍双极性晶体
管基本原理和BiCMOS数字电路设计,第13章详细介绍芯片的I/O设计,最后两章分别讨论电路的可制造性设计和可测试性设计这两个重
要问题。
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