360book 首页 > 行业标准 > 核电行业标准(EJ) > 正文 返回 

T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法  下载

360book.com  2024-07-11 18:01:15  下载

本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。 ...

上一篇:T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法
下一篇:T/CNS 74-2022 高温气冷堆核动力厂氦气使用要求