ICS 3 1 . 200 L 55 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T 34894—2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的 MEMS微结构 应变梯度测量方法 Micro-electromechanicalsystem technology—Measuringmethod forstraingradientmeasurementsofMEMSmicrostructures usinganopticalinterferometer 2017-1 1-01 发布 2018-05-01 实施 中华... 上一篇:GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法下一篇:GB/T 34895-2017 热处理金相检验通则