本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。标准号：GB/T 43226-2023标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法英文名称：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit发布日期：2023-0...

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