本文件规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。本文件适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。标准号:GB/T 43227-2023标准名称:宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法英文名称:Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire发布日期:2023-09-07实施日期:2024-01-01起... 上一篇:GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求 正式版下一篇:GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 正式版