JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定方法。本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锡质量分数的测定。测定范围:3.00%~10.oo%。... 上一篇:JB/T 7776.7-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第7部分:铬天青S分光光度法测定铝量下一篇:JB/T 7777.2-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分:EDTA容量法测定铟量