本文件规定了半导体紫外发射二极管(以下简称器件)辐射度参数测试方法,包括测试条件、测试仪器、测试步骤等。本文件适用于峰值波长 200 nm~400 nm器件的测试,峰值波长400 nm~420 nm器件的测试方法可参照执行。 ... 上一篇:SJ/T 11818.2-2022 半导体紫外发射二极管 第2部分:芯片规范下一篇:SJ/T 11812.2-2022 分布式储能用锂离子电池和电池组性能规范 第2部分:道路交通与景观照明设施