材料分析方法 第三版 出版时间：2011年版 内容简介 周玉等的《材料分析方法（第3版）》主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括：X射线物理学基础、X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法、物相分析及点阵参数精确测定、宏观残余应力的测定、多晶体织构的测定、电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、扫描电子显微镜、电子背散射衍射分析技术、电子探针显微分析、其他显微结构分析方法及实验指导。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。《材料分析方法（第3版）》可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书，也可供材料成形及控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。 目录 第3版前言 第2版前言 第1版前言 绪论1 第一篇 材料X射线衍射分析3 第一章 X射线物理学基础5 第一节 X射线的性质5 第二节 X射线的产生及X射线谱6 第三节 X射线与物质的相互作用9 习题15 第二章 X射线衍射方向17 第一节 晶体几何学简介17 第二节 布拉格方程22 第三节 X射线衍射方法28 习题29 第三章 X射线衍射强度31 第一节 多晶体衍射图相的形成31 第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数32 第三节 洛伦兹因数35 第四节 影响衍射强度的其他因数36 第五节 多晶体衍射的积分强度公式38 习题38 第四章 多晶体分析方法40 第一节 德拜谢乐法40 第二节 其他照相法简介45 第三节 X射线衍射仪47 习题54 第五章 物相分析及点阵参数精确测定55 第一节 定性分析55 第二节 定量分析59 第三节 点阵参数的精确测定62 第四节 非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析66 习题70 第六章 宏观残余应力的测定71 第一节 物体内应力的产生与分类71 第二节 X射线宏观应力测定的基本原理72 第三节 宏观应力测定方法75 第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题80 习题84 第七章 多晶体织构的测定85 第一节 极射赤面投影法85 第二节 织构的种类和表示方法89 第三节 丝织构指数的测定95 第四节 极图的测定96 第五节 反极图的测定100 习题102 第二篇 材料电子显微分析103 第八章 电子光学基础105 第一节 电子波与电磁透镜105 第二节 电磁透镜的像差与分辨率108 第三节 电磁透镜的景深和焦长111 习题112 第九章 透射电子显微镜113 第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理113 第二节 主要部件的结构与工作原理117 第三节 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定119 习题121 第十章 电子衍射122 第一节 概述122 第二节 电子衍射原理123 第三节 电子显微镜中的电子衍射131 第四节 单晶体电子衍射花样标定135 第五节 复杂电子衍射花样137 习题140 第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析141 第一节 概述141 第二节 薄膜样品的制备方法141 第三节 衍射衬度成像原理144 第四节 消光距离146 第五节 衍衬运动学147 第六节 衍衬动力学简介154 第七节 晶体缺陷分析157 习题165 第十二章 高分辨透射电子显微术166 第一节 高分辨透射电子显微镜的结构特征166 第二节 高分辨电子显微像的原理167 第三节 高分辨透射电子显微镜在材料科学中的应用176 习题183 第十三章 扫描电子显微镜184 第一节 电子束与固体样品作用时产生的信号184 第二节 扫描电子显微镜的构造和工作原理186 第三节 扫描电子显微镜的主要性能189 第四节 表面形貌衬度原理及其应用190 第五节 原子序数衬度原理及其应用195 习题198 第十四章 电子背散射衍射分析 技术199 第一节 概述199 第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学取向基础199 第三节 电子背散射衍射技术硬件系统209 第四节 电子背散射衍射技术原理及花样标定211 第五节 电子背散射衍射技术成像及分析215 第六节 电子背散射衍射技术数据处理220 习题224 第十五章 电子探针显微分析225 第一节 电子探针仪的结构与工作原理225 第二节 电子探针仪的分析方法及应用229 习题231 第十六章 其他显微结构分析方法232 第一节 离子探针显微分析232 第二节 低能电子衍射分析234 第三节 俄歇电子能谱分析238 第四节 场离子显微镜与原子探针243 第五节 扫描隧道显微镜与原子力 显微镜248 第六节 X射线光电子能谱分析254 第七节 红外光谱257 第八节 激光拉曼光谱264 第九节 紫外可见吸收光谱268 第十节 原子发射光谱272 第十一节 原子吸收光谱276 第十二节 核磁共振279 第十三节 电子能量损失谱285 第十四节 扫描透射电子显微镜288 习题289 实验指导291 实验一 单相立方系物质X射线粉末相计算291 实验二 用X射线衍射仪进行多晶体物质的相分析292 实验三 宏观残余应力的测定296 实验四 金属板织构的测定300 实验五 透射电子显微镜结构原理及明暗场成像303 实验六 选区电子衍射与晶体取向分析306 实验七 扫描电子显微镜的结构原理及图像衬度观察311 实验八 电子背散射衍射技术的工作原理与菊池花样观察及标定315 实验九 电子背散射衍射技术的数据处理及其分析应用318 实验十 电子探针结构原理及分析方法321 附录324 附录A 物理常数324 附录B 质量吸收系数μl/ρ324 附录C 原子散射因数f325 附录D 各种点阵的结构因数F2HKL326 附录E 粉末法的多重性因数Phkl326 附录F 角因数1+cos22θsin2θcosθ327 附录G 德拜函数(x)x+14之值329 附录H 某些物质的特征温度Θ329 附录I 12cos2θsinθ+cos2θθ的数值330 附录J 应力测定常数332 附录K 立方系晶面间夹角333 附录L 常见晶体标准电子衍射花样336 附录M 立方与六方晶体可能出现的反射340 附录N 特征X射线的波长和能量表341 参考文献343 上一篇: 材料的结构、组织与性能 下一篇: 材料合成与制备 [崔春翔着] 2010年版
