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GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则

  • 类  别:国家标准
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资料介绍

标准编号:GB/T 4937.1-2006
简体名称:半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
繁体名称:半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
英文名称:Semiconductor devices─Mechanical and climatic test methods─Part 1: General

标准简介:
本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。

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