JIS B 7440-2-2013 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部:長さ測定... 上一篇:JIS B 7440-5-2013 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及下一篇:JIS B 2711-2013 ばねのショットピーニング