JIS B0090-14-2010 光学元件和系统图的绘制.第14部分:波阵面变形公差... 上一篇:JIS B0090-5-2010 光学元件和系统用制图准备.第5部分:表面形状公差下一篇:JIS B0091-2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义