标 准 编 号:JIS H7805-2005 简体中文标题:用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法 繁体中文标题:用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法 English Name:Method for crystallite size determination in metal catalysts by X-ray diffractometry... 上一篇:JIS H7804-2005 用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法下一篇:JIS H1066-1993 铜中汞的测定方法