本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。 ... 上一篇:GB/T 6278-1986 模拟节目信号下一篇:GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法