标准编号：GB/T 4937.1-2006 简体名称：半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 繁体名称：半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 英文名称：Semiconductor devices─Mechanical and climatic test methods─Part 1: General标准简介：本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则...

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