ICS 77. 120. 10 H 12 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T 14849.5—2014代替 GB/T 14849. 5—2010 工业硅化学分析方法 第 5 部分 :杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 Methodsforchemicalanalysisofsilicon metal— Part5:Determination ofimpurity contents— X-rayfluorescencemethod 2014-12-05发布 2015-05-01实施... 上一篇:GB/T 14849.4-2014 工业硅化学分析方法 第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发下一篇:GB/T 14849.6-2014 工业硅化学分析方法 第6部分:碳含量的测定 红外吸收法