工程纳米测量基础 第二版作者： （英）理查德·利奇 著；袁道成 等译出版时间： 2017年版内容简介理查德·利奇著的《工程纳米测量基础(第2版)》从先进制造技术质量控制角度，介绍了测量基础知识、精密测量仪器设计原则、长度测量溯源、位移测量、表面形貌测量仪器、扫描探针和粒子束显微镜、表面形貌特征描述、坐标测量、质量和力的测量的测量国际单位及其在NPL的实现等。本书可作为测量技术...

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