数字集成电路容错设计出版时间：2011年版内容简介　　《数字集成电路容错设计：容缺陷故障、容参数偏差、容软错误》主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面：容缺陷（和故障）、容参数偏差以及容软错误；包括3s技术（自测试、自诊断、自修复）的基本原理。从嵌入式存储、多核处理器和片上网络三个方面论述了缺陷（故障）容忍方法；从参数偏差容忍的角度，论述了抗老化设计和参数偏差容忍设计方法；从处理器...

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