纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化作者： 靳松，韩银和著 出版时间：2019年版内容简介　　本书主要涉及在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应——负偏置温度不稳定性和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。目录目录第1章绪论1．1工艺偏差1．2NBTI效应1．3章节组织结构第一部分...

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